«Переплетение» трендов создает фантастические возможности для микроэлектроники
Рассказывает директор по маркетингу продукции подразделения решений DesignWare компании Synopsys
Мик Познер
В фокусе:
Надежность и испытания ЭА
Концепция создания Интегрированного центра испытаний ЭКБ и РЭА
Надежность закупаемых ИС: опыт Министерства обороны США
Лаборатория анализа качества электронной аппаратуры
Выявление скрытых дефектов соединений
Выбор импульсного тестера электродвигателей
Интервью
П. ван ден Эйнден, генеральный директор компании JTAG Technologies
Д. Бэгби, президент и исполнительный директор компании Alliance Memory
Репортажи и события
Пленарная часть конференции «ЭКБ и микроэлектронные модули» в рамках IV Международного форума «Микроэлектроника 2018»
Круглые столы XVII отраслевой конференции «Диверсификация радиоэлектронной промышленности»
Итоги конкурса «Золотой Чип – 2018» в рамках выставки CHIPEXPO-2018
Технологии и решения
Измерение температуры в широком диапазоне с помощью термопары и схемы преобразования сигнала
Программируемые источники питания переменного напряжения Preen серии AFV-P
Сложности и риски при реализации комплексных PLM-проектов
Исследования и обзоры
Итоги первого рейтинга организаций радиоэлектронной промышленности России