eng
#1/2019
В области источников питания есть свой «закон Мура». Рассказывает президент компании Mornsun Джордж Инь
Некоторые аспекты развития рынка преобразователей данных
Применение СнК 1879ВЯ1Я в качестве многоканального амплитудного анализатора цифрового спектрометрического тракта
Высокочастотный 8-разрядный БиКМОП АЦП
Обзор новых АЦП и ЦАП компании Analog Devices
Э. Халтен, менеджер по системам безопасности подразделения доверенных решений безопасности компании Analog Devices
Э. Чу, генеральный директор компании Delson Technology
Обзор выставки electronica 2018. Часть 1
Панельные дискуссии форума «Микроэлектроника 2018»
Визит в производственное подразделение компании «ТЕСТПРИБОР» в Великом Новгороде
МЭМС-датчики компании Murata
Применение СнК на базе ПЛИС в информационных системах управления производственным оборудованием
Технологии прямой металлизации с графитовыми и полимерными системами
Обеспечение технологического качества на производстве
Надежность автомобильных ИС: экономические и технологические аспекты Аннотация выпуска
В области источников питания есть свой «закон Мура». Рассказывает президент компании Mornsun Джордж Инь
Некоторые аспекты развития рынка преобразователей данных
Применение СнК 1879ВЯ1Я в качестве многоканального амплитудного анализатора цифрового спектрометрического тракта
Высокочастотный 8-разрядный БиКМОП АЦП
Обзор новых АЦП и ЦАП компании Analog Devices
Э. Халтен, менеджер по системам безопасности подразделения доверенных решений безопасности компании Analog Devices
Э. Чу, генеральный директор компании Delson Technology
Обзор выставки electronica 2018. Часть 1
Панельные дискуссии форума «Микроэлектроника 2018»
Визит в производственное подразделение компании «ТЕСТПРИБОР» в Великом Новгороде
МЭМС-датчики компании Murata
Применение СнК на базе ПЛИС в информационных системах управления производственным оборудованием
Технологии прямой металлизации с графитовыми и полимерными системами
Обеспечение технологического качества на производстве
Надежность автомобильных ИС: экономические и технологические аспекты Аннотация выпуска
#2/2019
Единый информационно-аналитический центр как важнейший инструмент развития ОПК
Рассказывает генеральный директор ФГУП «ВНИИ «Центр» Сергей Иванович Довгучиц
Средства контроля и измерений
Межлабораторные сличения в современной метрологии
Преобразования ближнего поля при измерениях в свободном пространстве характеристик систем связи 5G
Измерения импульсных ЭМ-полей высокой мощности с помощью датчика LSProbe 1.2
Проверка методов измерения параметров коаксиально-волноводных узлов с поперечным сечением сложной формы
П. П. Куцько, директор ФГУП «МНИИРИП»
Обзор выставки electronica 2018. Часть 2
Обеспечение безопасности коммуникаций промышленных встраиваемых систем с облачными сервисами
Электромагнитные компоненты для ответственных применений компании Pulse Electronics
Решение для предотвращения вредоносных USB-атак
Структура каналов для считывающей электроники кремниевых детекторов
Широкополосный СВЧ-аттенюатор с мостовой структурой
Управляемые источники питания серии GXE от TDK-Lambda
Применение специализированных микросборок на основе отечественных микросхем
Матричные КМОП-фотоприемники: современное состояние и перспективы развития
Экономические аспекты развития микроэлектроники КНР Аннотация выпуска
Единый информационно-аналитический центр как важнейший инструмент развития ОПК
Рассказывает генеральный директор ФГУП «ВНИИ «Центр» Сергей Иванович Довгучиц
Средства контроля и измерений
Межлабораторные сличения в современной метрологии
Преобразования ближнего поля при измерениях в свободном пространстве характеристик систем связи 5G
Измерения импульсных ЭМ-полей высокой мощности с помощью датчика LSProbe 1.2
Проверка методов измерения параметров коаксиально-волноводных узлов с поперечным сечением сложной формы
П. П. Куцько, директор ФГУП «МНИИРИП»
Обзор выставки electronica 2018. Часть 2
Обеспечение безопасности коммуникаций промышленных встраиваемых систем с облачными сервисами
Электромагнитные компоненты для ответственных применений компании Pulse Electronics
Решение для предотвращения вредоносных USB-атак
Структура каналов для считывающей электроники кремниевых детекторов
Широкополосный СВЧ-аттенюатор с мостовой структурой
Управляемые источники питания серии GXE от TDK-Lambda
Применение специализированных микросборок на основе отечественных микросхем
Матричные КМОП-фотоприемники: современное состояние и перспективы развития
Экономические аспекты развития микроэлектроники КНР Аннотация выпуска
#3/2019
Возможности САПР для электроники определяют качество всего жизненного цикла современных изделий
Рассказывает менеджер по дистрибуции решений Mentor, a Siemens Business в России, СНГ и Турции Денис Александрович Лобзов
В фокусе:
САПР
Моделирование электрических схем с учетом влияния тяжелых заряженных частиц в отечественной САПР «КИПАРИС»
Поиск ошибок на уровне RTL с помощью средств SpyGlass и VC LP от Synopsys
Новые методы и инструменты проектирования печатных плат
Интервью
Т. Катлер, вице-президент и генеральный менеджер направления ПО для проектирования и тестирования компании Keysight
Р. М. Мангушева, директор выставок ExpoElectronica и ElectronTechExpo
Репортажи и события
Научно-технический семинар-совещание «Новые отечественные разработки приборов пассивной электроники – состояние, проблемы, опыт разработки и применения, перспективы»
Обзор выставки electronica 2018. Часть 3
Визит в Группу компаний «Диаконт»
Технологии и решения
Измерение G-чувствительности кварцевых генераторов
Синхронное статическое ОЗУ конвейерного типа от АО «ПКК Миландр»
Новая серия биполярных транзисторов производства ЗАО «ГРУППА КРЕМНИЙ ЭЛ»
Трафаретный принтер G-Titan от компании GKG
Исследования и обзоры
Отечественные радиочастотные соединители мм-диапазона длин волн Аннотация выпуска
Возможности САПР для электроники определяют качество всего жизненного цикла современных изделий
Рассказывает менеджер по дистрибуции решений Mentor, a Siemens Business в России, СНГ и Турции Денис Александрович Лобзов
В фокусе:
САПР
Моделирование электрических схем с учетом влияния тяжелых заряженных частиц в отечественной САПР «КИПАРИС»
Поиск ошибок на уровне RTL с помощью средств SpyGlass и VC LP от Synopsys
Новые методы и инструменты проектирования печатных плат
Интервью
Т. Катлер, вице-президент и генеральный менеджер направления ПО для проектирования и тестирования компании Keysight
Р. М. Мангушева, директор выставок ExpoElectronica и ElectronTechExpo
Репортажи и события
Научно-технический семинар-совещание «Новые отечественные разработки приборов пассивной электроники – состояние, проблемы, опыт разработки и применения, перспективы»
Обзор выставки electronica 2018. Часть 3
Визит в Группу компаний «Диаконт»
Технологии и решения
Измерение G-чувствительности кварцевых генераторов
Синхронное статическое ОЗУ конвейерного типа от АО «ПКК Миландр»
Новая серия биполярных транзисторов производства ЗАО «ГРУППА КРЕМНИЙ ЭЛ»
Трафаретный принтер G-Titan от компании GKG
Исследования и обзоры
Отечественные радиочастотные соединители мм-диапазона длин волн Аннотация выпуска
#4/2019
Чтобы быстрее двигаться вперед, компаниям нужны не отдельные измерительные приборы, а законченные решения
Рассказывает президент Группы коммуникационных решений компании Keysight Technologies
Сатиш Данасекаран
В фокусе:
Микропроцессоры и ПЛИС
Система на кристалле SmartFusion2 от Microsemi
Характеристики надежности современных ПЛИС
Применение ПЛИС класса «система на кристалле» Xilinx Zynq
Cинтезирование ШИМ-функции с помощью независимой от ядра периферии микроконтроллеров PIC
Создание платформы прототипирования на базе комплекта HAPS компании Synopsys
Повышение стойкости к воздействию ТЗЧ устройств на базе ПЛИС с использованием инструмента Synplify Premier
Интервью
П. Ван, вице-президент компании Nuvoton
В. В. Быканов, руководитель отдела обеспечения единства измерений ФГУП «МНИИРИП»
Репортажи и события
Обзор выставки electronica 2018. Часть 4
Технологии и решения
Метрологическая экспертиза технической документации как один из этапов повышения качества
Новые решения для испытаний на восприимчивость к электромагнитному полю
Защита МЭМС-сенсоров от воздействия окружающей среды
Исследования и обзоры
Искусственный интеллект и рентабельность как движущие факторы развития САПР
Обновленное исследование «Портрет российской радиоэлектроники» Аннотация выпуска
Чтобы быстрее двигаться вперед, компаниям нужны не отдельные измерительные приборы, а законченные решения
Рассказывает президент Группы коммуникационных решений компании Keysight Technologies
Сатиш Данасекаран
В фокусе:
Микропроцессоры и ПЛИС
Система на кристалле SmartFusion2 от Microsemi
Характеристики надежности современных ПЛИС
Применение ПЛИС класса «система на кристалле» Xilinx Zynq
Cинтезирование ШИМ-функции с помощью независимой от ядра периферии микроконтроллеров PIC
Создание платформы прототипирования на базе комплекта HAPS компании Synopsys
Повышение стойкости к воздействию ТЗЧ устройств на базе ПЛИС с использованием инструмента Synplify Premier
Интервью
П. Ван, вице-президент компании Nuvoton
В. В. Быканов, руководитель отдела обеспечения единства измерений ФГУП «МНИИРИП»
Репортажи и события
Обзор выставки electronica 2018. Часть 4
Технологии и решения
Метрологическая экспертиза технической документации как один из этапов повышения качества
Новые решения для испытаний на восприимчивость к электромагнитному полю
Защита МЭМС-сенсоров от воздействия окружающей среды
Исследования и обзоры
Искусственный интеллект и рентабельность как движущие факторы развития САПР
Обновленное исследование «Портрет российской радиоэлектроники» Аннотация выпуска
#5/2019
Микроминиатюризация делает рентген подчас незаменимым инструментом обеспечения качества
Рассказывает менеджер по ключевым глобальным клиентам направления электроники и продуктовой линейки FEINFOCUS компании YXLON Рагнар Вага
В фокусе: Надежность и испытания ЭА
Повышение надежности и выхода годных: традиционные и новые подходы
Отраслевая лаборатория испытаний и нанодиагностики спецтехнологического оборудования
Особенности проведения испытаний на стойкость к воздействию плесневых грибов
Испытания на устойчивость к воздействию HIRF-полей
Системы тестирования на ЭМС микросхем и печатных плат
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Назначение нового директора Департамента радиоэлектронной промышленности Минпромторга России
Интервью
Д. А. Поцелуев, начальник отдела продаж ООО «Остек-Интегра»
Репортажи и события
Расширенное совещание руководителей предприятий радиоэлектронной промышленности
II Научно-практический семинар по вопросам применения комплектующих, ЭКБ и материалов в РЭА ВВСТ
Технологии и решения
Повышение стойкости ПЛИС со статическим ОЗУ к воздействию ионизирующего излучения
Особенности применения коаксиально-микрополосковых переходов для поверхностного монтажа типа SMP
Решения Mentor, a Siemens Business для проектирования ИС
Метод контроля деформации печатных плат Аннотация выпуска
Микроминиатюризация делает рентген подчас незаменимым инструментом обеспечения качества
Рассказывает менеджер по ключевым глобальным клиентам направления электроники и продуктовой линейки FEINFOCUS компании YXLON Рагнар Вага
В фокусе: Надежность и испытания ЭА
Повышение надежности и выхода годных: традиционные и новые подходы
Отраслевая лаборатория испытаний и нанодиагностики спецтехнологического оборудования
Особенности проведения испытаний на стойкость к воздействию плесневых грибов
Испытания на устойчивость к воздействию HIRF-полей
Системы тестирования на ЭМС микросхем и печатных плат
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Назначение нового директора Департамента радиоэлектронной промышленности Минпромторга России
Интервью
Д. А. Поцелуев, начальник отдела продаж ООО «Остек-Интегра»
Репортажи и события
Расширенное совещание руководителей предприятий радиоэлектронной промышленности
II Научно-практический семинар по вопросам применения комплектующих, ЭКБ и материалов в РЭА ВВСТ
Технологии и решения
Повышение стойкости ПЛИС со статическим ОЗУ к воздействию ионизирующего излучения
Особенности применения коаксиально-микрополосковых переходов для поверхностного монтажа типа SMP
Решения Mentor, a Siemens Business для проектирования ИС
Метод контроля деформации печатных плат Аннотация выпуска
#6/2019
В фокусе: СВЧ-электроника
Определение оптимального соотношения между дискретизацией и квантованием для СВЧ АЦП
Решения Mini-Circuits для проектирования и тестирования РЧ- и СВЧ-устройств
Применение генераторов плоского поля типа GTEM-камер для радиолокационных измерений
Установка для измерения АЧХ СВЧ-фотодиодов
Интервью
В.В. Шпак, директор Департамента радиоэлектронной промышленности Минпромторга России
Мнение экспертов
Дискуссионный баттл о путях развития российской электроники
Репортажи и события
Заседание в Совете Федерации по вопросам правового регулирования в сфере беспилотного транспорта
III Научно-техническая конференция ФГУП «МНИИРИП» «Многофункциональный центр радиоэлектроники – единое отраслевое информационное окно»
VIII Всероссийская научно-техническая конференция «Электромагнитная совместимость»
Конференция «Решения Siemens PLM Software для ТПП и производства современной сложной электроники»
Визит на Азовский оптико-механический завод
Технологии и решения
Система связи КВ- и МВ-диапазона на отечественной элементной базе
Отечественные помехоподавляющие керамические фильтры Б33 для поверхностного монтажа
Выявление контрафактной продукции в области микроэлектроники
Решения Keysight Technologies для тестирования C-V2X / с. 92
Цифровая эра требует нового правового сознания
Рассказывает первый заместитель председателя Комитета Совета Федерации по обороне и безопасности Владимир Игоревич Кожин Аннотация выпуска
В фокусе: СВЧ-электроника
Определение оптимального соотношения между дискретизацией и квантованием для СВЧ АЦП
Решения Mini-Circuits для проектирования и тестирования РЧ- и СВЧ-устройств
Применение генераторов плоского поля типа GTEM-камер для радиолокационных измерений
Установка для измерения АЧХ СВЧ-фотодиодов
Интервью
В.В. Шпак, директор Департамента радиоэлектронной промышленности Минпромторга России
Мнение экспертов
Дискуссионный баттл о путях развития российской электроники
Репортажи и события
Заседание в Совете Федерации по вопросам правового регулирования в сфере беспилотного транспорта
III Научно-техническая конференция ФГУП «МНИИРИП» «Многофункциональный центр радиоэлектроники – единое отраслевое информационное окно»
VIII Всероссийская научно-техническая конференция «Электромагнитная совместимость»
Конференция «Решения Siemens PLM Software для ТПП и производства современной сложной электроники»
Визит на Азовский оптико-механический завод
Технологии и решения
Система связи КВ- и МВ-диапазона на отечественной элементной базе
Отечественные помехоподавляющие керамические фильтры Б33 для поверхностного монтажа
Выявление контрафактной продукции в области микроэлектроники
Решения Keysight Technologies для тестирования C-V2X / с. 92
Цифровая эра требует нового правового сознания
Рассказывает первый заместитель председателя Комитета Совета Федерации по обороне и безопасности Владимир Игоревич Кожин Аннотация выпуска
#7/2019
Для подготовки специалистов будущего вузу необходима развитая производственная и инновационная инфраструктура
Рассказывает ректор Национального исследовательского университета «МИЭТ»
Владимир Александрович Беспалов
В фокусе:
Гражданская электроника
Устранение недобросовестных практик при закупке радиоэлектронной продукции гражданского назначения
Новый отечественный ГЛОНАСС/GPS/Galileo навигационный приемник ПРО-04
Нагреватели воздуха на базе позисторов
Повышение уровня безопасности граничных узлов IoT
Решения компании Molex для автомобилей будущего
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Пресс-конференция в ТАСС по проекту Стратегии развития электронной промышленности России на период до 2030 года
Интервью
Е. Н. Иванова, генеральный директор российского представительства компании Synopsys
Репортажи и события
Совместное заседание Секции № 9 МРГ при коллегии ВПК РФ и Координационного совета разработчиков и производителей РЭА и ЭКБ АО «Концерн ВКО «Алмаз-Антей»
Визит в ООО «МикроЭМ Технологии»
Технологии и решения
Ключевые характеристики изолированных драйверов затвора мощных транзисторов
Микросхема широкополосного синтезатора частоты до 6 ГГц со встроенным ГУН
Изделия из керамики на основе Al2O3, AlN и BeO
Влияние структуры химического никеля на вакуумную плотность паяных соединений металлокерамических изделий
3D-печать в производстве печатных плат Аннотация выпуска
Для подготовки специалистов будущего вузу необходима развитая производственная и инновационная инфраструктура
Рассказывает ректор Национального исследовательского университета «МИЭТ»
Владимир Александрович Беспалов
В фокусе:
Гражданская электроника
Устранение недобросовестных практик при закупке радиоэлектронной продукции гражданского назначения
Новый отечественный ГЛОНАСС/GPS/Galileo навигационный приемник ПРО-04
Нагреватели воздуха на базе позисторов
Повышение уровня безопасности граничных узлов IoT
Решения компании Molex для автомобилей будущего
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Пресс-конференция в ТАСС по проекту Стратегии развития электронной промышленности России на период до 2030 года
Интервью
Е. Н. Иванова, генеральный директор российского представительства компании Synopsys
Репортажи и события
Совместное заседание Секции № 9 МРГ при коллегии ВПК РФ и Координационного совета разработчиков и производителей РЭА и ЭКБ АО «Концерн ВКО «Алмаз-Антей»
Визит в ООО «МикроЭМ Технологии»
Технологии и решения
Ключевые характеристики изолированных драйверов затвора мощных транзисторов
Микросхема широкополосного синтезатора частоты до 6 ГГц со встроенным ГУН
Изделия из керамики на основе Al2O3, AlN и BeO
Влияние структуры химического никеля на вакуумную плотность паяных соединений металлокерамических изделий
3D-печать в производстве печатных плат Аннотация выпуска
#8/2019
«Индустрия 4.0»: цифровизация должна начинаться в цехах, а не в кабинетах начальников
Рассказывает генеральный директор ООО «Остек-СМТ» Евгений Борисович Липкин
В фокусе:
Силовая электроника
Расчет и конструирование планарного трансформатора для обратноходового преобразователя
Снижение риска короткого замыкания в синхронных понижающих преобразователях
Сравнительные испытания на генерируемые помехи импульсных ИВП на основе традиционного подхода и технологии Silent Switcher
Выбор ограничителя пусковых токов и прерывателя цепи для импульсных источников питания
Решения для систем питания в умных приложениях от MORNSUN
Применение программируемого источника питания ITECH IT6000C для испытаний движителя с эффектом Холла
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Отраслевое совещание директоров радиоэлектронной промышленности
Интервью
Ш. Сарновски, региональный менеджер по продажам компании Essemtec AG
Репортажи и события
VIII Всероссийская научно-техническая конференция «Обеспечение предприятий промышленности электронной компонентной базой. Диверсификация поставок в рамках импортозамещения»
Визит в Научно-производственный центр «СпецЭлектронСистемы»
Исследования и обзоры
Тенденции развития силовой электроники
Цифровая трансформация радиоэлектроники Аннотация выпуска
«Индустрия 4.0»: цифровизация должна начинаться в цехах, а не в кабинетах начальников
Рассказывает генеральный директор ООО «Остек-СМТ» Евгений Борисович Липкин
В фокусе:
Силовая электроника
Расчет и конструирование планарного трансформатора для обратноходового преобразователя
Снижение риска короткого замыкания в синхронных понижающих преобразователях
Сравнительные испытания на генерируемые помехи импульсных ИВП на основе традиционного подхода и технологии Silent Switcher
Выбор ограничителя пусковых токов и прерывателя цепи для импульсных источников питания
Решения для систем питания в умных приложениях от MORNSUN
Применение программируемого источника питания ITECH IT6000C для испытаний движителя с эффектом Холла
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Отраслевое совещание директоров радиоэлектронной промышленности
Интервью
Ш. Сарновски, региональный менеджер по продажам компании Essemtec AG
Репортажи и события
VIII Всероссийская научно-техническая конференция «Обеспечение предприятий промышленности электронной компонентной базой. Диверсификация поставок в рамках импортозамещения»
Визит в Научно-производственный центр «СпецЭлектронСистемы»
Исследования и обзоры
Тенденции развития силовой электроники
Цифровая трансформация радиоэлектроники Аннотация выпуска
#9/2019
Мы видим, что можем разговаривать с зарубежными компаниями на равных
Рассказывает заместитель генерального директора, главный конструктор АО «Микроволновые системы» Андрей Александрович Кищинский
В фокусе:
Технологическое оборудование и материалы
Освоение EUV-литографии в серийном производстве: перспективы и проблемы
Генераторы изображений для безмасковой литографии
Влагозащитное покрытие: что необходимо учесть при выборе
Многослойная керамика в микросборках
Создание электродов электрохимических конденсаторов на основе кремний-углеродных структур
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Пленарная часть конференции «ЭКБ и микроэлектронные модули» в рамках V Международного форума «Микроэлектроника 2019»
Интервью
А. В. Завалко, технический директор ООО «Остек-СМТ»
Репортажи и события
Конференция «Государственная поддержка экспортной деятельности предприятий радиоэлектронной промышленности»
III Ежегодная технологическая конференция «Технологии микроэлектронной сборки и корпусирования»
Визит в ООО «Санкт-Петербургский центр «ЭЛМА»
Визит на сборочно-монтажное производство компании ООО «Нанотех»
Технологии и решения
Моделирование датчиков Холла и экспериментальная идентификация параметров их моделей
Ускоренные методы оценки надежности ЭКБ Аннотация выпуска
Мы видим, что можем разговаривать с зарубежными компаниями на равных
Рассказывает заместитель генерального директора, главный конструктор АО «Микроволновые системы» Андрей Александрович Кищинский
В фокусе:
Технологическое оборудование и материалы
Освоение EUV-литографии в серийном производстве: перспективы и проблемы
Генераторы изображений для безмасковой литографии
Влагозащитное покрытие: что необходимо учесть при выборе
Многослойная керамика в микросборках
Создание электродов электрохимических конденсаторов на основе кремний-углеродных структур
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Пленарная часть конференции «ЭКБ и микроэлектронные модули» в рамках V Международного форума «Микроэлектроника 2019»
Интервью
А. В. Завалко, технический директор ООО «Остек-СМТ»
Репортажи и события
Конференция «Государственная поддержка экспортной деятельности предприятий радиоэлектронной промышленности»
III Ежегодная технологическая конференция «Технологии микроэлектронной сборки и корпусирования»
Визит в ООО «Санкт-Петербургский центр «ЭЛМА»
Визит на сборочно-монтажное производство компании ООО «Нанотех»
Технологии и решения
Моделирование датчиков Холла и экспериментальная идентификация параметров их моделей
Ускоренные методы оценки надежности ЭКБ Аннотация выпуска
#10/2019
Синергия поставок и испытаний в обеспечении предприятий качественной ЭКБ
Рассказывает генеральный директор Группы компаний ТД «Альфа-Комплект» ЭКБ
Александра Ивановна Роман
В фокусе: Дискретные и электромеханические компоненты
Современные тенденции развития конденсаторов
Дискретные конденсаторы на основе кремния
Модульные разъемы ODU-MAC® Blue-Line
Эволюция радиочастотных соединителей для мобильной и сотовой связи
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Торжественная церемония открытия сервиса «Единое окно» во ФГУП «МНИИРИП»
Интервью
А. Ю. Насонов, технический директор ООО «Остек-Электро»
Мнение экспертов
Отечественные дискретные компоненты для поверхностного монтажа: насколько верны стереотипы
Технологии и решения
Осциллографы АКИП-4133 и АКИП-4133/1 с полосой пропускания 16 ГГц
Шумовые свойства и параметры сигналов в головной части канала считывающей электроники для кремниевых детекторов
Технология LTCC для мемристорной памяти
Разработка электрической схемы в иерархической форме в САПР Altium Designer
Оцифровка ручного производства: первое внедрение решения «Умное рабочее место» Аннотация выпуска
Синергия поставок и испытаний в обеспечении предприятий качественной ЭКБ
Рассказывает генеральный директор Группы компаний ТД «Альфа-Комплект» ЭКБ
Александра Ивановна Роман
В фокусе: Дискретные и электромеханические компоненты
Современные тенденции развития конденсаторов
Дискретные конденсаторы на основе кремния
Модульные разъемы ODU-MAC® Blue-Line
Эволюция радиочастотных соединителей для мобильной и сотовой связи
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Торжественная церемония открытия сервиса «Единое окно» во ФГУП «МНИИРИП»
Интервью
А. Ю. Насонов, технический директор ООО «Остек-Электро»
Мнение экспертов
Отечественные дискретные компоненты для поверхностного монтажа: насколько верны стереотипы
Технологии и решения
Осциллографы АКИП-4133 и АКИП-4133/1 с полосой пропускания 16 ГГц
Шумовые свойства и параметры сигналов в головной части канала считывающей электроники для кремниевых детекторов
Технология LTCC для мемристорной памяти
Разработка электрической схемы в иерархической форме в САПР Altium Designer
Оцифровка ручного производства: первое внедрение решения «Умное рабочее место» Аннотация выпуска