Единый информационно-аналитический центр как важнейший инструмент развития ОПК
Рассказывает генеральный директор ФГУП «ВНИИ «Центр» Сергей Иванович Довгучиц
Средства контроля и измерений
Межлабораторные сличения в современной метрологии
Преобразования ближнего поля при измерениях в свободном пространстве характеристик систем связи 5G
Измерения импульсных ЭМ-полей высокой мощности с помощью датчика LSProbe 1.2
Проверка методов измерения параметров коаксиально-волноводных узлов с поперечным сечением сложной формы
П. П. Куцько, директор ФГУП «МНИИРИП»
Обзор выставки electronica 2018. Часть 2
Обеспечение безопасности коммуникаций промышленных встраиваемых систем с облачными сервисами
Электромагнитные компоненты для ответственных применений компании Pulse Electronics
Решение для предотвращения вредоносных USB-атак
Структура каналов для считывающей электроники кремниевых детекторов
Широкополосный СВЧ-аттенюатор с мостовой структурой
Управляемые источники питания серии GXE от TDK-Lambda
Применение специализированных микросборок на основе отечественных микросхем
Матричные КМОП-фотоприемники: современное состояние и перспективы развития
Экономические аспекты развития микроэлектроники КНР