Чтобы быстрее двигаться вперед, компаниям нужны не отдельные измерительные приборы, а законченные решения
Рассказывает президент Группы коммуникационных решений компании Keysight Technologies
Сатиш Данасекаран
В фокусе:
Микропроцессоры и ПЛИС
Система на кристалле SmartFusion2 от Microsemi
Характеристики надежности современных ПЛИС
Применение ПЛИС класса «система на кристалле» Xilinx Zynq
Cинтезирование ШИМ-функции с помощью независимой от ядра периферии микроконтроллеров PIC
Создание платформы прототипирования на базе комплекта HAPS компании Synopsys
Повышение стойкости к воздействию ТЗЧ устройств на базе ПЛИС с использованием инструмента Synplify Premier
Интервью
П. Ван, вице-президент компании Nuvoton
В. В. Быканов, руководитель отдела обеспечения единства измерений ФГУП «МНИИРИП»
Репортажи и события
Обзор выставки electronica 2018. Часть 4
Технологии и решения
Метрологическая экспертиза технической документации как один из этапов повышения качества
Новые решения для испытаний на восприимчивость к электромагнитному полю
Защита МЭМС-сенсоров от воздействия окружающей среды
Исследования и обзоры
Искусственный интеллект и рентабельность как движущие факторы развития САПР
Обновленное исследование «Портрет российской радиоэлектроники»