eng
Competent opinion
Компетентное мнение
С. Данасекаран
Чтобы быстрее двигаться вперед, компаниям нужны не отдельные измерительные приборы, а законченные решения Рассказывает президент Группы коммуникационных решений
компании Keysight Technologies С. Данасекаран
В начале апреля текущего года между ООО «Кейсайт Текнолоджиз» – российским подразделением компании Keysight Technologies, и АО «Технопарк Санкт-Петербурга» был подписан меморандум о сотрудничестве. Среди направлений, обладающих высоким потенциалом на российском рынке, Keysight Technologies видит развитие технологий телекоммуникационных сетей нового поколения 5G – одной из областей, в которых у данной компании есть самые передовые решения, способные помочь в создании мощных конкурентоспособных систем.
О том, какие особенности связаны с технологиями 5G, в частности, в области средств контроля и измерений, в каком состоянии находится сейчас процесс стандартизации в отношении этих сетей, как меняются потребности компаний, использующих контрольно-измерительное оборудование, и как отвечает всем этим новым требованиям Keysight Technologies, нам рассказал президент Группы коммуникационных решений компании Сатиш Данасекаран (Satish Dhanasekaran).
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.10.15
Чтобы быстрее двигаться вперед, компаниям нужны не отдельные измерительные приборы, а законченные решения Рассказывает президент Группы коммуникационных решений
компании Keysight Technologies С. Данасекаран
В начале апреля текущего года между ООО «Кейсайт Текнолоджиз» – российским подразделением компании Keysight Technologies, и АО «Технопарк Санкт-Петербурга» был подписан меморандум о сотрудничестве. Среди направлений, обладающих высоким потенциалом на российском рынке, Keysight Technologies видит развитие технологий телекоммуникационных сетей нового поколения 5G – одной из областей, в которых у данной компании есть самые передовые решения, способные помочь в создании мощных конкурентоспособных систем.
О том, какие особенности связаны с технологиями 5G, в частности, в области средств контроля и измерений, в каком состоянии находится сейчас процесс стандартизации в отношении этих сетей, как меняются потребности компаний, использующих контрольно-измерительное оборудование, и как отвечает всем этим новым требованиям Keysight Technologies, нам рассказал президент Группы коммуникационных решений компании Сатиш Данасекаран (Satish Dhanasekaran).
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.10.15
Column of radio-electronic industry department
Колонка департамента радиоэлектронной промышленности
Exhibitions & Conferences
Выставки и конференции
В. Ежов, Н. Елисеев, В. Мейлицев
Electronica 2018: отправляемся в будущее. Часть 4 В 2018 году выставка electronica проводилась совместно с SEMICON Europa – мероприятием, посвященным технологиям производства микроэлектронных изделий, которое занимало зал A4 выставочного центра Neue Messe München. Мировые тренды в электронике, безусловно, не могут не оказывать существенного влияния на микроэлектронные технологии. Повышение функциональности устройств, развитие технологий 5G, растущие потребности в обработке всё больших объемов данных – лишь часть драйверов непрерывной микроминиатюризации, выражающейся не только в уменьшении проектных норм, но и в сокращении высоты изделий с 3D-компоновкой. Рост роли силовой электроники, развитие альтернативных источников энергии, в частности
с использованием технологий фотовольтаики, и другие тренды вызывают необходимость применения новых материалов. В то же время для такой области, как Интернет вещей, остаются актуальными относительно простые и дешевые технологии изготовления интегральных схем. Всё это приводит к большому разнообразию решений, востребованных сегодня в области микроэлектроники. О некоторых из них рассказывается в заключительной части нашего обзора, посвященной SEMICON Europa 2018.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.28.40
Electronica 2018: отправляемся в будущее. Часть 4 В 2018 году выставка electronica проводилась совместно с SEMICON Europa – мероприятием, посвященным технологиям производства микроэлектронных изделий, которое занимало зал A4 выставочного центра Neue Messe München. Мировые тренды в электронике, безусловно, не могут не оказывать существенного влияния на микроэлектронные технологии. Повышение функциональности устройств, развитие технологий 5G, растущие потребности в обработке всё больших объемов данных – лишь часть драйверов непрерывной микроминиатюризации, выражающейся не только в уменьшении проектных норм, но и в сокращении высоты изделий с 3D-компоновкой. Рост роли силовой электроники, развитие альтернативных источников энергии, в частности
с использованием технологий фотовольтаики, и другие тренды вызывают необходимость применения новых материалов. В то же время для такой области, как Интернет вещей, остаются актуальными относительно простые и дешевые технологии изготовления интегральных схем. Всё это приводит к большому разнообразию решений, востребованных сегодня в области микроэлектроники. О некоторых из них рассказывается в заключительной части нашего обзора, посвященной SEMICON Europa 2018.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.28.40
Economy & Business
Экономика + бизнес
A. Fomina
Regional distribution and efficiency of Russian radio-electronic industry organizations The article presents the results of revised «Portrait of Russian Radio Electronics» study focused on regional distribution features and efficiency of organizations of Russian radio-electronic industry. To overcome regional imbalances in radio-electronic industry it is necessary to redirect
to more flexible development concepts particularly through the creation and improvement of design centers and project teams.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.140.143
УДК 311.42
ВАК 05.13.10
Regional distribution and efficiency of Russian radio-electronic industry organizations The article presents the results of revised «Portrait of Russian Radio Electronics» study focused on regional distribution features and efficiency of organizations of Russian radio-electronic industry. To overcome regional imbalances in radio-electronic industry it is necessary to redirect
to more flexible development concepts particularly through the creation and improvement of design centers and project teams.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.140.143
УДК 311.42
ВАК 05.13.10
А. Фомина
Региональное распределение и эффективность организаций российской радиоэлектронной промышленности Представлены результаты обновленного исследования «Портрет российской радиоэлектроники», основное внимание в котором было уделено особенностям регионального распределения и эффективности организаций российской радиоэлектронной промышленности. Для преодоления региональных диспропорций радиоэлектронной промышленности предстоит переориентироваться на более гибкие
форматы развития, в том числе путем создания и совершенствования дизайн-центров и проектных команд.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.140.143
УДК 311.42
ВАК 05.13.10
Региональное распределение и эффективность организаций российской радиоэлектронной промышленности Представлены результаты обновленного исследования «Портрет российской радиоэлектроники», основное внимание в котором было уделено особенностям регионального распределения и эффективности организаций российской радиоэлектронной промышленности. Для преодоления региональных диспропорций радиоэлектронной промышленности предстоит переориентироваться на более гибкие
форматы развития, в том числе путем создания и совершенствования дизайн-центров и проектных команд.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.140.143
УДК 311.42
ВАК 05.13.10
Теги: efficiency number of employees structure of the radio-electronic industry структура радиоэлектронной промышленности численность сотрудников эффективность
Engineering solutions
Конструкторские решения
S. Frolova, F. Putrya
Creation of multi-functional and multi-project prototyping platform based on Synopsys HAPS kit. Part 1 Prototyping stage is important in SoC design. The problems that many users face when debugging their projects could be solved by defining the debugging strategy and creating the necessary prototyping platform on its basis. The article describes the experience of NPC ELVIS JSC in developing such a platform based on Synopsys HAPS (High-performance ASIC Prototyping Systems) kit.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.76.81
УДК 658.512
ВАК 05.13.12
Creation of multi-functional and multi-project prototyping platform based on Synopsys HAPS kit. Part 1 Prototyping stage is important in SoC design. The problems that many users face when debugging their projects could be solved by defining the debugging strategy and creating the necessary prototyping platform on its basis. The article describes the experience of NPC ELVIS JSC in developing such a platform based on Synopsys HAPS (High-performance ASIC Prototyping Systems) kit.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.76.81
УДК 658.512
ВАК 05.13.12
С. Фролова, Ф. Путря
Создание многофункциональной и мультипроектной платформы прототипирования на базе комплекта HAPS компании Synopsys. Часть 1 Стадия прототипирования систем-на-кристалле (СнК) имеет важное значение в проектировании СнК. Проблемы, с которыми сталкиваются многие пользователи при отладке своих проектов, могут быть решены путем определения стратегии отладки и созданием на ее основе необходимой платформы прототипирования. В статье рассказывается об опыте АО НПЦ «ЭЛВИС» разработки такой платформы на базе комплекта HAPS (High-performance ASIC Prototyping Systems) компании Synopsys.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.76.81
УДК 658.512
ВАК 05.13.12
Создание многофункциональной и мультипроектной платформы прототипирования на базе комплекта HAPS компании Synopsys. Часть 1 Стадия прототипирования систем-на-кристалле (СнК) имеет важное значение в проектировании СнК. Проблемы, с которыми сталкиваются многие пользователи при отладке своих проектов, могут быть решены путем определения стратегии отладки и созданием на ее основе необходимой платформы прототипирования. В статье рассказывается об опыте АО НПЦ «ЭЛВИС» разработки такой платформы на базе комплекта HAPS (High-performance ASIC Prototyping Systems) компании Synopsys.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.76.81
УДК 658.512
ВАК 05.13.12
Теги: debugging interface debugging strategy prototyping platform отладочный интерфейс платформа прототипирования стратегия отладки
CAD
Системы проектирования
S. Belousov
Enhancing FPGA-based device resistance to heavy ions using Synplify Premier The article discusses the use of majority redundancy in designs of devices particularly for space application based on different FPGA types in order to enhance their resistance to heavy ion impacts. It provides the implementation capabilities of this and other approaches for reliability
improvement using Synopsys Synplify Premier tool.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.82.87
УДК [004.9::658.512.22]::[004.31::629.78]
ВАК 05.13.12
Enhancing FPGA-based device resistance to heavy ions using Synplify Premier The article discusses the use of majority redundancy in designs of devices particularly for space application based on different FPGA types in order to enhance their resistance to heavy ion impacts. It provides the implementation capabilities of this and other approaches for reliability
improvement using Synopsys Synplify Premier tool.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.82.87
УДК [004.9::658.512.22]::[004.31::629.78]
ВАК 05.13.12
С. Белоусов
Повышение стойкости к воздействию ТЗЧ устройств на базе ПЛИС с использованием инструмента Synplify Premier Рассматривается применение мажоритарного резервирования при проектировании устройств, в частности, космического применения на основе ПЛИС различных типов для повышения их устойчивости к воздействию тяжелых заряженных частиц. Приводятся возможности реализации данного и других методов повышения надежности с помощью инструмента Synplify Premier от компании Synopsys.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.82.87
УДК [004.9::658.512.22]::[004.31::629.78]
ВАК 05.13.12
Повышение стойкости к воздействию ТЗЧ устройств на базе ПЛИС с использованием инструмента Synplify Premier Рассматривается применение мажоритарного резервирования при проектировании устройств, в частности, космического применения на основе ПЛИС различных типов для повышения их устойчивости к воздействию тяжелых заряженных частиц. Приводятся возможности реализации данного и других методов повышения надежности с помощью инструмента Synplify Premier от компании Synopsys.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.82.87
УДК [004.9::658.512.22]::[004.31::629.78]
ВАК 05.13.12
Теги: fpga heavy ion impact logic synthesis majority redundancy reliability space hardware synopsys аппаратура космического применения воздействие тяжелых заряженных частиц логический синтез мажоритарное резервирование надежность плис
M. Makushin, A. Fomina
Artificial intelligence and profitability as CAD development drivers The use of CAD tools is one of the key factors for ICs improvement and ensuring their further scaling. It is from them that the acceleration of launching new products to the market largely depends, due to the shortening of the development cycle. The main factors for CAD
development include profitability and artificial intelligence.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.184.4.90.100
УДК 658.512
ВАК 05.13.12
Artificial intelligence and profitability as CAD development drivers The use of CAD tools is one of the key factors for ICs improvement and ensuring their further scaling. It is from them that the acceleration of launching new products to the market largely depends, due to the shortening of the development cycle. The main factors for CAD
development include profitability and artificial intelligence.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.184.4.90.100
УДК 658.512
ВАК 05.13.12
М. Макушин, А. Фомина
Искусственный интеллект и рентабельность как движущие факторы развития САПР Применение инструментальных средств САПР – один из ключевых факторов совершенствования ИС и обеспечения их дальнейшего масштабирования. Именно от них во многом зависит ускорение вывода на рынок новой продукции благодаря сокращению цикла разработки. К основным факторам развития САПР относятся рентабельность и искусственный интеллект.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.184.4.90.100
УДК 658.512
ВАК 05.13.12
Искусственный интеллект и рентабельность как движущие факторы развития САПР Применение инструментальных средств САПР – один из ключевых факторов совершенствования ИС и обеспечения их дальнейшего масштабирования. Именно от них во многом зависит ускорение вывода на рынок новой продукции благодаря сокращению цикла разработки. К основным факторам развития САПР относятся рентабельность и искусственный интеллект.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.184.4.90.100
УДК 658.512
ВАК 05.13.12
Test & Measurements
Контроль и измерения
V. Bykanov
Improving the regulatory framework in the field of metrological testing DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.102.106
Improving the regulatory framework in the field of metrological testing DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.102.106
В. Быканов
Совершенствование нормативно-правовой базы в области метрологической экспертизы Всемирный день метрологии отмечается 20 мая. Эта дата напоминает нам, что вся деятельность человека тесно связана с измерением физических величин, необходимых в качестве исходной информации для управления процессами, проектирования, принятия решений. Без точных измерений невозможно представить создание инновационных продуктов в области техники и технологий. О нормативно-правовой базе в области метрологической экспертизы (МЭ), трудностях на пути реализации метрологических
интересов, определяющей роли метрологии в обеспечении качества на всех этапах жизненного цикла электронной компонентной базы рассказал руководитель отдела обеспечения единства измерений ФГУП «МНИИРИП», к. т. н., с. н. с. Владимир Васильевич Быканов.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.102.106
Совершенствование нормативно-правовой базы в области метрологической экспертизы Всемирный день метрологии отмечается 20 мая. Эта дата напоминает нам, что вся деятельность человека тесно связана с измерением физических величин, необходимых в качестве исходной информации для управления процессами, проектирования, принятия решений. Без точных измерений невозможно представить создание инновационных продуктов в области техники и технологий. О нормативно-правовой базе в области метрологической экспертизы (МЭ), трудностях на пути реализации метрологических
интересов, определяющей роли метрологии в обеспечении качества на всех этапах жизненного цикла электронной компонентной базы рассказал руководитель отдела обеспечения единства измерений ФГУП «МНИИРИП», к. т. н., с. н. с. Владимир Васильевич Быканов.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.102.106
S. Vedernikov
Metrological examination of technical documentation as one of the quality improvement stages In a market-based economy the products have to be distinguished by high quality indicators and the manufacturing process should be maximally optimized and effective for reducing economic costs.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.108.111
УДК 389.008.4
ВАК 05.11.15
Metrological examination of technical documentation as one of the quality improvement stages In a market-based economy the products have to be distinguished by high quality indicators and the manufacturing process should be maximally optimized and effective for reducing economic costs.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.108.111
УДК 389.008.4
ВАК 05.11.15
С. Ведерников
Метрологическая экспертиза технической документации как один из этапов повышения качества В условиях рыночной экономики производимая продукция (изделия) должна отличаться высокими показателями качества, а процесс производства – максимально оптимизирован и эффективен для снижения экономических затрат.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.108.111
УДК 389.008.4
ВАК 05.11.15
Метрологическая экспертиза технической документации как один из этапов повышения качества В условиях рыночной экономики производимая продукция (изделия) должна отличаться высокими показателями качества, а процесс производства – максимально оптимизирован и эффективен для снижения экономических затрат.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.108.111
УДК 389.008.4
ВАК 05.11.15
D. Kondrashov, A. Shostak, P. Dijkstra
Electromagnetic susceptibility tests – new solutions The article considers a number of effective solutions – field generators, field sensors and electromagnetic compatibility test systems – which allow testing the electromagnetic susceptibility of radioelectronic equipment in compliance with current requirements.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.184.4.112.117
УДК 621.317
ВАК 05.11.01
Electromagnetic susceptibility tests – new solutions The article considers a number of effective solutions – field generators, field sensors and electromagnetic compatibility test systems – which allow testing the electromagnetic susceptibility of radioelectronic equipment in compliance with current requirements.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.184.4.112.117
УДК 621.317
ВАК 05.11.01
Д. Кондрашов, А. Шостак, П. Дейкстра
Испытания на восприимчивость к электромагнитному полю – новые решения Рассмотрен ряд эффективных решений – генераторов поля, датчиков поля и систем для испытаний на электромагнитную совместимость, – позволяющих проводить проверку восприимчивости радиоэлектронного оборудования к электромагнитным полям в соответствии с современными требованиями.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.184.4.112.117
УДК 621.317
ВАК 05.11.01
Испытания на восприимчивость к электромагнитному полю – новые решения Рассмотрен ряд эффективных решений – генераторов поля, датчиков поля и систем для испытаний на электромагнитную совместимость, – позволяющих проводить проверку восприимчивости радиоэлектронного оборудования к электромагнитным полям в соответствии с современными требованиями.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.184.4.112.117
УДК 621.317
ВАК 05.11.01
Теги: electromagnetic compatibility field generator field strength sensor генератор поля датчик напряженности поля электромагнитная совместимость
Microwave electronics
СВЧ-электроника
V. Kochemasov, T. Kosichkina
Doherty power amplifiers. Part 2 The article describes Doherty power amplifiers and provides the information on the components for this amplifiers offered by various manufacturers.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.118.130
УДК 621.375
ВАК 05.27.01
Doherty power amplifiers. Part 2 The article describes Doherty power amplifiers and provides the information on the components for this amplifiers offered by various manufacturers.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.118.130
УДК 621.375
ВАК 05.27.01
В. Кочемасов, Т. Косичкина
Усилители мощности по схеме Догерти. Часть 2 Рассмотрены усилители мощности по схеме Догерти. Приведена информация об элементной базе данных усилителей, предлагаемой различными производителями.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.118.130
УДК 621.375
ВАК 05.27.01
Усилители мощности по схеме Догерти. Часть 2 Рассмотрены усилители мощности по схеме Догерти. Приведена информация об элементной базе данных усилителей, предлагаемой различными производителями.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.118.130
УДК 621.375
ВАК 05.27.01
Microprocessors and FPGAs
Микропроцессоры и ПЛИС
П. Ван
Функции безопасности – важнейший элемент микроконтроллеров для IoT Рассказывает вице-президент компании Nuvoton П. Ван
Компания Nuvoton Technology, образованная в 2008 году как спин-офф Winbond и унаследовавшая от своей родительской компании множество решений в том числе в области микроконтроллеров, постоянно дополняет ассортимент своей продукции новыми компонентами и решениями, благодаря чему изделия Nuvoton находят широкое применение в вычислительной технике, потребительской, промышленной электронике и других областях. Кроме того, компания обладает собственным кристальным производством и предлагает услуги фаундри. Очевидно, компания, одним из ключевых
видов продукции которой являются микроконтроллеры, не может оставаться в стороне от такого тренда, как Интернет вещей. Это направление предъявляет свои специфические требования к устройствам в целом и микроконтроллерам в частности. О том, как решения Nuvoton отвечают этим требованиям, а также о перспективах, которые видит для себя компания на российском рынке, на выставке electronica 2018, прошедшей в Мюнхене в ноябре прошлого года, нам рассказал Патрик Ван (Patrick Wang), вице-президент компании Nuvoton.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.42.44
Функции безопасности – важнейший элемент микроконтроллеров для IoT Рассказывает вице-президент компании Nuvoton П. Ван
Компания Nuvoton Technology, образованная в 2008 году как спин-офф Winbond и унаследовавшая от своей родительской компании множество решений в том числе в области микроконтроллеров, постоянно дополняет ассортимент своей продукции новыми компонентами и решениями, благодаря чему изделия Nuvoton находят широкое применение в вычислительной технике, потребительской, промышленной электронике и других областях. Кроме того, компания обладает собственным кристальным производством и предлагает услуги фаундри. Очевидно, компания, одним из ключевых
видов продукции которой являются микроконтроллеры, не может оставаться в стороне от такого тренда, как Интернет вещей. Это направление предъявляет свои специфические требования к устройствам в целом и микроконтроллерам в частности. О том, как решения Nuvoton отвечают этим требованиям, а также о перспективах, которые видит для себя компания на российском рынке, на выставке electronica 2018, прошедшей в Мюнхене в ноябре прошлого года, нам рассказал Патрик Ван (Patrick Wang), вице-президент компании Nuvoton.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.42.44
V. Ezhov
Microsemi SmartFusion2 SoC FPGA: the optimal solution for IoT The article describes the features of SmartFusion2 SoC FPGA family from Microsemi, which fully meets all the requirements for IoT infrastructure and allows you to create flexible systems featuring the minimum power consumption and the highest security level available for FPGAs.
Microsemi SmartFusion2 SoC FPGA: the optimal solution for IoT The article describes the features of SmartFusion2 SoC FPGA family from Microsemi, which fully meets all the requirements for IoT infrastructure and allows you to create flexible systems featuring the minimum power consumption and the highest security level available for FPGAs.
В. Ежов
Система на кристалле SmartFusion2 от Microsemi: оптимальное решение для Интернета вещей В статье рассмотрены особенности СнК на базе ПЛИС семейства SmartFusion2 от Microsemi, которые полностью отвечают всем требованиям IoT-инфраструктуры и позволяют создавать гибкие системы, отличающиеся минимальной потребляемой мощностью и самым высоким уровнем защиты, доступным для ПЛИС.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.46.49
УДК 621.3.049.774
ВАК 05.27.01
Система на кристалле SmartFusion2 от Microsemi: оптимальное решение для Интернета вещей В статье рассмотрены особенности СнК на базе ПЛИС семейства SmartFusion2 от Microsemi, которые полностью отвечают всем требованиям IoT-инфраструктуры и позволяют создавать гибкие системы, отличающиеся минимальной потребляемой мощностью и самым высоким уровнем защиты, доступным для ПЛИС.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.46.49
УДК 621.3.049.774
ВАК 05.27.01
Теги: arm cortex-m3 data protection elliptic curve cryptography (ecc) embedded trace macrocell (etm) internet of things memory protection unit (mpu) smartfusion2 soc fpga встроенная макроячейка трассировки защита данных интернет вещей криптография на основе эллиптических кривых модуль защиты памяти снк на базе плис
A. Strogonov
Reliability characteristics of modern FPGAs The article describes the method for calculating the experimental FPGA failure rate using chi-square statistics, as well as the effect of failures caused by ionizing radiation on the reliability characteristics of modern FPGAs manufactured by nanometer design rules.
Reliability characteristics of modern FPGAs The article describes the method for calculating the experimental FPGA failure rate using chi-square statistics, as well as the effect of failures caused by ionizing radiation on the reliability characteristics of modern FPGAs manufactured by nanometer design rules.
А. Строгонов
Характеристики надежности современных ПЛИС В статье рассмотрена методика расчета экспериментальной интенсивности отказов ПЛИС с использованием статистики хи-квадрат, а также влияние сбоев, вызванных ионизирующим излучением, на характеристики надежности современных ПЛИС, выпускаемых по нанометровым проектным нормам.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.52.58
УДК 621.3.049.774
ВАК 05.27.01
Характеристики надежности современных ПЛИС В статье рассмотрена методика расчета экспериментальной интенсивности отказов ПЛИС с использованием статистики хи-квадрат, а также влияние сбоев, вызванных ионизирующим излучением, на характеристики надежности современных ПЛИС, выпускаемых по нанометровым проектным нормам.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.52.58
УДК 621.3.049.774
ВАК 05.27.01
Теги: chi-square statistics failure rate fpga single event functional interrupt (sefi) single event upset (seu) вызывающая функциональное прерывание (sefi) интенсивность отказов одиночная ошибка одиночный сбой (seu) плис статистика хи-квадрат
I. Tarasov
application of Xilinx Zynq SoC FPGA and design approaches based on high-level hardware description languages The article considers the capabilities of current and advanced SoC FPGA families from Xilinx as well as preferred approaches to the design of processor controlled digital systems based on the Xilinx Vivado HLS Design Suite.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.62.66
УДК 004.2
ВАК 05.13.15
application of Xilinx Zynq SoC FPGA and design approaches based on high-level hardware description languages The article considers the capabilities of current and advanced SoC FPGA families from Xilinx as well as preferred approaches to the design of processor controlled digital systems based on the Xilinx Vivado HLS Design Suite.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.62.66
УДК 004.2
ВАК 05.13.15
И. Тарасов
Применение ПЛИС класса «система на кристалле» Xilinx Zynq и подходы к проектированию на основе языков описания аппаратуры высокого уровня Рассмотрены возможности существующих и перспективных семейств программируемых логических интегральных схем компании Xilinx с архитектурой «система на кристалле», а также предпочтительные подходы к проектированию цифровых систем под управлением процессоров на основе САПР Xilinx Vivado HLS.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.62.66
УДК 004.2
ВАК 05.13.15
Применение ПЛИС класса «система на кристалле» Xilinx Zynq и подходы к проектированию на основе языков описания аппаратуры высокого уровня Рассмотрены возможности существующих и перспективных семейств программируемых логических интегральных схем компании Xilinx с архитектурой «система на кристалле», а также предпочтительные подходы к проектированию цифровых систем под управлением процессоров на основе САПР Xilinx Vivado HLS.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.62.66
УДК 004.2
ВАК 05.13.15
L. Di Jasio
How to synthesize a new function using PIC microcontroller’s core independent peripherals Pinout rearrangement and core independent peripherals of PIC microcontrollers allow the developer to flexibly modify the design solution. Using the example of PWM function the article shows how you can quickly synthesize a new autonomous peripheral function without additional external components and the need to change PCB layout.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.68.72
УДК 621.3.049.774
ВАК 05.27.01
How to synthesize a new function using PIC microcontroller’s core independent peripherals Pinout rearrangement and core independent peripherals of PIC microcontrollers allow the developer to flexibly modify the design solution. Using the example of PWM function the article shows how you can quickly synthesize a new autonomous peripheral function without additional external components and the need to change PCB layout.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.68.72
УДК 621.3.049.774
ВАК 05.27.01
Л. Ди Джасио
Как с помощью независимой от ядра периферии микроконтроллеров PIC синтезировать новую функцию Переназначение выводов микросхемы и независимая от ядра периферия микроконтроллеров PIC позволяют разработчику гибко модифицировать проектное решение. В статье на примере создания ШИМ-функции показано, как без дополнительных внешних компонентов и необходимости изменения топологии печатной платы можно быстро синтезировать новую автономную функцию периферии.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.68.72
УДК 621.3.049.774
ВАК 05.27.01
Как с помощью независимой от ядра периферии микроконтроллеров PIC синтезировать новую функцию Переназначение выводов микросхемы и независимая от ядра периферия микроконтроллеров PIC позволяют разработчику гибко модифицировать проектное решение. В статье на примере создания ШИМ-функции показано, как без дополнительных внешних компонентов и необходимости изменения топологии печатной платы можно быстро синтезировать новую автономную функцию периферии.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.68.72
УДК 621.3.049.774
ВАК 05.27.01
Теги: core independent peripherals (cip) peripheral pin select (pps) pic microcontroller pinout pwm function выбор вывода периферии микроконтроллер pic независимая от ядра периферия цоколевка выводов шим-функция
Production technologies
Производственные технологии
P. Grigoriev, S. Mileshin, T. Tsivinskaya
Investigation of SIEL compound PRO TECTION EFFECT on the operation stability of control and measuring MEMS sensors The article discuses one of the issues of development and production of measuring sensors based on highly sensitive element manufactured using microelectronics technology: environmental protection of MEMS sensors based on single-crystal silicon. It presents the results of the research in the field of piezoresistive sensors carried out by Bauman Moscow State Technical University.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.132.138
УДК 681.586
ВАК 05.11.14
Investigation of SIEL compound PRO TECTION EFFECT on the operation stability of control and measuring MEMS sensors The article discuses one of the issues of development and production of measuring sensors based on highly sensitive element manufactured using microelectronics technology: environmental protection of MEMS sensors based on single-crystal silicon. It presents the results of the research in the field of piezoresistive sensors carried out by Bauman Moscow State Technical University.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.132.138
УДК 681.586
ВАК 05.11.14
П. Григорьев, С. Милешин, Т. Цивинская
Исследование влияния защиты компаундом СИЭЛ на стабильность функционирования контрольно- измерительных МЭМС-сенсоров Обсуждается одна из проблем разработки и производства измерительных датчиков на базе высокочувствительных сенсоров, изготовленных по технологиям микроэлектроники: защита МЭМС-сенсоров на базе монокристаллического кремния от воздействия окружающей среды. Приводятся результаты исследований указанной направленности по
пьезорезистивным датчикам, проведенных в МГТУ им. Баумана.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.132.138
УДК 681.586
ВАК 05.11.14
Исследование влияния защиты компаундом СИЭЛ на стабильность функционирования контрольно- измерительных МЭМС-сенсоров Обсуждается одна из проблем разработки и производства измерительных датчиков на базе высокочувствительных сенсоров, изготовленных по технологиям микроэлектроники: защита МЭМС-сенсоров на базе монокристаллического кремния от воздействия окружающей среды. Приводятся результаты исследований указанной направленности по
пьезорезистивным датчикам, проведенных в МГТУ им. Баумана.
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.132.138
УДК 681.586
ВАК 05.11.14