eng
Competent opinion
Компетентное мнение
Exhibitions & Conferences
Выставки и конференции
Event of Issue
Событие номера
Economy & Business
Экономика + бизнес
Manufacturing equipment and process materials
Технологическое оборудование и материалы
Precision automatic valves from Nordson EFD for dispensing liquid two-component materials
The article describes the features of Nordson EFD 400 and 450 series two-component automatic valves for accurate dosing of process fluids that are suitable for both manual operations and using as part of automated production lines.
Прецизионные автоматические клапаны для дозирования жидких двухкомпонентных материалов от Nordson EFD
В статье описаны особенности двухкомпонентных автоматических клапанов от Nordson EFD серий 400 и 450 для точного дозирования технологических жидкостей, которые подходят как для выполнения операций нанесения материала вручную, так и для работы в составе автоматизированных производственных линий.
Теги: automatic valve lip seal liquid dispensing manifold mixing nozzle nordson efd piston автоматический клапан дозирование жидкости магистраль манжетное уплотнение поршень смесительная насадка
Engineering solutions
Конструкторские решения
S. Frolova, F. Putrya
Creation of multi-functional and multi-project prototyping platform based on Synopsys HAPS kit Part 2
The article considers the software infrastructure for functional verification testing and execution of user scripts on the prototype.
Creation of multi-functional and multi-project prototyping platform based on Synopsys HAPS kit Part 2
The article considers the software infrastructure for functional verification testing and execution of user scripts on the prototype.
С. Фролова, Ф. Путря
СОЗДАНИЕ МНОГОФУНКЦИОНАЛЬНОЙ И МУЛЬТИПРОЕКТНОЙ ПЛАТФОРМЫ ПРОТОТИПИРОВАНИЯ НА БАЗЕ КОМПЛЕКТА HAPS КОМПАНИИ SYNOPSYS Часть 2
Рассматривается программная инфраструктура для использования тестов функциональной верификации и пользовательских сценариев на прототипе.
СОЗДАНИЕ МНОГОФУНКЦИОНАЛЬНОЙ И МУЛЬТИПРОЕКТНОЙ ПЛАТФОРМЫ ПРОТОТИПИРОВАНИЯ НА БАЗЕ КОМПЛЕКТА HAPS КОМПАНИИ SYNOPSYS Часть 2
Рассматривается программная инфраструктура для использования тестов функциональной верификации и пользовательских сценариев на прототипе.
Теги: functional verification prototyping platform software infrastructure платформа прототипирования программная инфраструктура функциональная верификация
Electronic Components
Электронная компонентная база
О. Конц, А. Фадеева
Новые компоненты и решения от Würth Elektronik: всё меньше места для «магии» в электронике Рассказывают генеральный директор группы компаний Würth Elektronik eiSos О. Конц и проект-менеджер по направлению
электронные компоненты группы компаний Würth Elektronik eiSos А. В. Фадеева
Группа компаний Würth Elektronik eiSos GmbH & Co. KG (Würth Elektronik) – один из крупнейших в своем сегменте рынка производителей электронных и электромеханических компонентов и модулей. На 16 принадлежащих ей производственных площадках, расположенных в разных странах мира, работает около 8,3 тыс. сотрудников. Продукция группы компаний хорошо известна в отрасли, поэтому на выставке electronica 2018 мы попросили ее представителей рассказать о тех изделиях, которые они сами считают наиболее интересными и важными для себя на сегодняшний день. Со стендом Würth Elektronik нас знакомили ее генеральный директор Оливер Конц (Oliver Konz) и проект-менеджер Анастасия Фадеева.
Новые компоненты и решения от Würth Elektronik: всё меньше места для «магии» в электронике Рассказывают генеральный директор группы компаний Würth Elektronik eiSos О. Конц и проект-менеджер по направлению
электронные компоненты группы компаний Würth Elektronik eiSos А. В. Фадеева
Группа компаний Würth Elektronik eiSos GmbH & Co. KG (Würth Elektronik) – один из крупнейших в своем сегменте рынка производителей электронных и электромеханических компонентов и модулей. На 16 принадлежащих ей производственных площадках, расположенных в разных странах мира, работает около 8,3 тыс. сотрудников. Продукция группы компаний хорошо известна в отрасли, поэтому на выставке electronica 2018 мы попросили ее представителей рассказать о тех изделиях, которые они сами считают наиболее интересными и важными для себя на сегодняшний день. Со стендом Würth Elektronik нас знакомили ее генеральный директор Оливер Конц (Oliver Konz) и проект-менеджер Анастасия Фадеева.
CAD
Системы проектирования
D. Lobzov, A. Lokhov
Mentor, a Siemens Business solutions for IC and PCB design Part 1
The article provides a brief information about all IC and PCB design tools from Mentor Graphics. The first part presents tools for design, simulation and verification of digital, analog and analog-digital integrated circuits.
Mentor, a Siemens Business solutions for IC and PCB design Part 1
The article provides a brief information about all IC and PCB design tools from Mentor Graphics. The first part presents tools for design, simulation and verification of digital, analog and analog-digital integrated circuits.
Д. Лобзов, А. Лохов
Решения Mentor, a Siemens Business для проектирования ИС и печатных плат Часть 1
В статье приведены краткие сведения обо всех средствах проектирования ИС и печатных плат, выпускаемых компанией Mentor Graphics. В первой части представлены инструменты проектирования, моделирования и верификации цифровых, аналоговых и аналого-цифровых ИС.
Решения Mentor, a Siemens Business для проектирования ИС и печатных плат Часть 1
В статье приведены краткие сведения обо всех средствах проектирования ИС и печатных плат, выпускаемых компанией Mentor Graphics. В первой части представлены инструменты проектирования, моделирования и верификации цифровых, аналоговых и аналого-цифровых ИС.
Теги: cad design tool functional design level ic mentor graphics printed circuit board simulation system design level verification верификация инструмент проектирования ис моделирование печатная плата сапр системный уровень проектирования функциональный уровень проектирования
Test & Measurements
Контроль и измерения
B. Lapshinov, N. Timchenko
Multichannel measuring system based on high-resolution small-sized spectrometers Studies of modern plasma technology require the development of new measurement processes. The proposed multichannel measuring system based on small-sized spectrometers allows spectral analysis of both stationary and fast-flowing processes with non-stationary temperature.
Multichannel measuring system based on high-resolution small-sized spectrometers Studies of modern plasma technology require the development of new measurement processes. The proposed multichannel measuring system based on small-sized spectrometers allows spectral analysis of both stationary and fast-flowing processes with non-stationary temperature.
Б. Лапшинов, Н. Тимченко
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКС НА БАЗЕ МАЛОГАБАРИТНЫХ СПЕКТРОМЕТРОВ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ Исследование современных плазменных технологий требует разработки новых измерительных процессов. Предлагаемый многоканальный измерительный комплекс на базе малогабаритных спектрометров позволяет проводить спектральные исследования как стационарных, так и быстропротекающих процессов с нестационарной температурой.
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКС НА БАЗЕ МАЛОГАБАРИТНЫХ СПЕКТРОМЕТРОВ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ Исследование современных плазменных технологий требует разработки новых измерительных процессов. Предлагаемый многоканальный измерительный комплекс на базе малогабаритных спектрометров позволяет проводить спектральные исследования как стационарных, так и быстропротекающих процессов с нестационарной температурой.
Теги: laser plasma measuring system small-sized spectrometers измерительный комплекс лазерная плазма малогабаритные спектрометры
Micromodules and microassemblies
Микромодули и микроблоки
V. Meylitsev
4,5 months from micromodule idea to finished sample NPC SES and OKB Fifth Generation project,
presented at ExpoElectronica 2019
4,5 months from micromodule idea to finished sample NPC SES and OKB Fifth Generation project,
presented at ExpoElectronica 2019
В. Мейлицев
4,5 месяца от идеи микромодуля до готового образца Проект НПЦ СЭС и ОКБ Пятое поколение,
представленный на выставке ExpoElectronica 2019
4,5 месяца от идеи микромодуля до готового образца Проект НПЦ СЭС и ОКБ Пятое поколение,
представленный на выставке ExpoElectronica 2019
Microwave electronics
СВЧ-электроника
A. Korenev
Particular aspects of the application of SMP-type coaxial-to-microstrip transitions for surface mounting The article considers some technical aspects of the application and measurement of microwave coaxial-to-microstrip transitions for surface mounting using the example of a connector from Irkutsk Relay Plant JSC.
Particular aspects of the application of SMP-type coaxial-to-microstrip transitions for surface mounting The article considers some technical aspects of the application and measurement of microwave coaxial-to-microstrip transitions for surface mounting using the example of a connector from Irkutsk Relay Plant JSC.
А. Коренев
Особенности применения коаксиально-микрополосковых переходов для поверхностного монтажа типа SMP Рассматриваются некоторые технические аспекты применения и измерения параметров СВЧ коаксиально-микрополосковых переходов для поверхностного монтажа на примере соединителя, выпускаемого АО «Иркутский релейный завод».
Особенности применения коаксиально-микрополосковых переходов для поверхностного монтажа типа SMP Рассматриваются некоторые технические аспекты применения и измерения параметров СВЧ коаксиально-микрополосковых переходов для поверхностного монтажа на примере соединителя, выпускаемого АО «Иркутский релейный завод».
Теги: coaxial-to-microstrip transitions connector parameters measurement smp connectors измерение параметров соединителей коаксиально-микрополосковые переходы соединители smp
Microprocessors and FPGAs
Микропроцессоры и ПЛИС
A. Strogonov, S. Tsybin, P. Gorodkov
Methods to increase the resistance of SRAM based FPGA to the effects of ionizing radiation With the continuous shrinking of technological design rules the errors caused by radiation began to have a significant impact on large-scale IC reliability. The article presents the main hardware and software methods to protect modern SRAM based FPGA from the effects of failures caused by ionizing radiation.
Methods to increase the resistance of SRAM based FPGA to the effects of ionizing radiation With the continuous shrinking of technological design rules the errors caused by radiation began to have a significant impact on large-scale IC reliability. The article presents the main hardware and software methods to protect modern SRAM based FPGA from the effects of failures caused by ionizing radiation.
А. Строгонов, С. Цыбин, П. Городков
Методы повышения стойкости ПЛИС со статическим ОЗУ к воздействию ионизирующего излучения При непрерывном уменьшении технологических проектных норм ошибки, вызванные излучением, стали оказывать существенное влияние на надежность БИС. В статье рассмотрены основные аппаратные и программные методы защиты современных ПЛИС со статическим ОЗУ от влияния сбоев, вызванных ионизирующим излучением.
Методы повышения стойкости ПЛИС со статическим ОЗУ к воздействию ионизирующего излучения При непрерывном уменьшении технологических проектных норм ошибки, вызванные излучением, стали оказывать существенное влияние на надежность БИС. В статье рассмотрены основные аппаратные и программные методы защиты современных ПЛИС со статическим ОЗУ от влияния сбоев, вызванных ионизирующим излучением.
Теги: error correcting codes (ecc) ionizing radiation multiple cell upset (mcu) single event effects (see) single event latchup (sel) single event transients (set) sram based fpga ионизирующее излучение коды с исправлением ошибок множественные сбои ячеек памяти одиночное событие радиационного защелкивания одиночные сбои переключения одиночные события плис со статическим озу
Reliability and tests
Надежность и испытания
M. Makushin, V. Martynov
Increasing reliability and yield: traditional and new approaches With scaling microelectronic technologies and mastering the production of new generation devices the task of increasing the yield becomes more and more urgent. To increase reliability and yield manufacturers constantly improve current metrology and test methods as well as create new ones.
Increasing reliability and yield: traditional and new approaches With scaling microelectronic technologies and mastering the production of new generation devices the task of increasing the yield becomes more and more urgent. To increase reliability and yield manufacturers constantly improve current metrology and test methods as well as create new ones.
М. Макушин, В. Мартынов
ПОВЫШЕНИЕ НАДЕЖНОСТИ И ВЫХОДА ГОДНЫХ: ТРАДИЦИОННЫЕ И НОВЫЕ ПОДХОДЫ По мере масштабирования микроэлектронных технологий, освоения производства новых поколений приборов задача увеличения выхода годных становится все более актуальной. Для повышения надежности и выхода годных производители постоянно совершенствуют существующие методы метрологии и тестирования, а также создают новые.
ПОВЫШЕНИЕ НАДЕЖНОСТИ И ВЫХОДА ГОДНЫХ: ТРАДИЦИОННЫЕ И НОВЫЕ ПОДХОДЫ По мере масштабирования микроэлектронных технологий, освоения производства новых поколений приборов задача увеличения выхода годных становится все более актуальной. Для повышения надежности и выхода годных производители постоянно совершенствуют существующие методы метрологии и тестирования, а также создают новые.
S. Avakov, V. Matyushkov, A. Viskushenko, A. Kazakov
Industry laboratory of testing and nano-diagnostics of special-technology equipment (OLIN STO) The article describes the organizational chart, goals, objectives and equipment of the industry laboratory of testing and nano-diagnostics of special-technology equipment organized at KBTEM-OMO JSC.
Industry laboratory of testing and nano-diagnostics of special-technology equipment (OLIN STO) The article describes the organizational chart, goals, objectives and equipment of the industry laboratory of testing and nano-diagnostics of special-technology equipment organized at KBTEM-OMO JSC.
С. Аваков, В. Матюшков, А. Вискушенко, А. Казаков
Отраслевая лаборатория испытаний и нанодиагностики спецтехнологического оборудования (ОЛИН СТО) В статье описаны организационная структура, цели, задачи и оснащение отраслевой лаборатории испытаний и нанодиагностики спецтехнологического оборудования, созданной в ОАО «КБТЭМ-ОМО».
Отраслевая лаборатория испытаний и нанодиагностики спецтехнологического оборудования (ОЛИН СТО) В статье описаны организационная структура, цели, задачи и оснащение отраслевой лаборатории испытаний и нанодиагностики спецтехнологического оборудования, созданной в ОАО «КБТЭМ-ОМО».
Теги: certification industry laboratory metrological assurance reference measure test equipment аттестация испытательное оборудование метрологическое обеспечение отраслевая лаборатория эталонная мера
S. Dotsnik, A. Efremova
Specifics of testing for resistance to mold fungi The article considers the issues of product resistance to the impact of external environment in particular destructor microorganisms. It reveals the typical problems caused by the growth of mold fungi on various products and materials. It also discusses standardization documents regulating the requirements of resistance to mold fungi as well as the methods for performing such tests.
Specifics of testing for resistance to mold fungi The article considers the issues of product resistance to the impact of external environment in particular destructor microorganisms. It reveals the typical problems caused by the growth of mold fungi on various products and materials. It also discusses standardization documents regulating the requirements of resistance to mold fungi as well as the methods for performing such tests.
С. Доцник, А. Ефремова
Особенности проведения испытаний на стойкость к воздействию плесневых грибов Рассмотрены вопросы стойкости изделий к воздействию внешней среды, в частности, микроорганизмами-деструкторами. Раскрыты типичные проблемы, вызванные ростом плесневых грибов на различных изделиях и материалах. Изучены документы стандартизации, регламентирующие требования стойкости к воздействию плесневых грибов, а также методы проведения подобных испытаний.
Особенности проведения испытаний на стойкость к воздействию плесневых грибов Рассмотрены вопросы стойкости изделий к воздействию внешней среды, в частности, микроорганизмами-деструкторами. Раскрыты типичные проблемы, вызванные ростом плесневых грибов на различных изделиях и материалах. Изучены документы стандартизации, регламентирующие требования стойкости к воздействию плесневых грибов, а также методы проведения подобных испытаний.
Теги: microorganisms mold fungi tests for funginertness испытания на грибостойкость микроорганизмы плесневые грибы
A. Petrovichev
HIRF resistance tests EMC laboratory of TESTPRIBOR JSC is conducting tests of on-board equipment for resistance to HIRF fields in accordance with KT-160 standard using the calculation and experimental method. The reverberation chamber is currently undergoing certification. Upon its completion a full range of KT-160 standard HIRF resistance tests will be carried out.
HIRF resistance tests EMC laboratory of TESTPRIBOR JSC is conducting tests of on-board equipment for resistance to HIRF fields in accordance with KT-160 standard using the calculation and experimental method. The reverberation chamber is currently undergoing certification. Upon its completion a full range of KT-160 standard HIRF resistance tests will be carried out.
А. Петровичев
ИСПЫТАНИЯ НА УСТОЙЧИВОСТЬ К ВОЗДЕЙСТВИЮ HIRF-ПОЛЕЙ В лаборатории ЭМС АО «ТЕСТПРИБОР» проводятся испытания бортового оборудования (БО) расчетно-экспериментальным методом на стойкость к HIRF-полям в соответствии со стандартом KT-160. В настоящий момент проходит аттестацию реверберационная камера. По ее завершении будет проводиться весь спектр проверок на стойкость к HIRF-полям, соответствующий требованиям KT-160.
ИСПЫТАНИЯ НА УСТОЙЧИВОСТЬ К ВОЗДЕЙСТВИЮ HIRF-ПОЛЕЙ В лаборатории ЭМС АО «ТЕСТПРИБОР» проводятся испытания бортового оборудования (БО) расчетно-экспериментальным методом на стойкость к HIRF-полям в соответствии со стандартом KT-160. В настоящий момент проходит аттестацию реверберационная камера. По ее завершении будет проводиться весь спектр проверок на стойкость к HIRF-полям, соответствующий требованиям KT-160.
Теги: electromagnetic interference kt-160 standard reverberation chambe реверберационная камера стандарт кт-160 электромагнитные помехи
D. Kondrashov, A. Shostak
EMC testing systems for integrated circuits and printed circuit boards The article considers devices and systems from Langer EMV-Technik (Germany) allowing various types of IC and PCB testing for electromagnetic compatibility (EMC).
EMC testing systems for integrated circuits and printed circuit boards The article considers devices and systems from Langer EMV-Technik (Germany) allowing various types of IC and PCB testing for electromagnetic compatibility (EMC).
Д. Кондрашов, А. Шостак
Системы тестирования на ЭМС микросхем и печатных плат Рассмотрены устройства и системы компании Langer EMV-Technik (Германия), позволяющие выполнять различные виды тестирования микросхем и печатных плат на электромагнитную совместимость (ЭМС).
Системы тестирования на ЭМС микросхем и печатных плат Рассмотрены устройства и системы компании Langer EMV-Technik (Германия), позволяющие выполнять различные виды тестирования микросхем и печатных плат на электромагнитную совместимость (ЭМС).
Теги: electromagnetic compatibility integrated circuit printed circuit board микросхема печатная плата электромагнитная совместимость
Power electronics
Силовая электроника
F. Dostal
Interference reduction in synchronous step-down converters with an additional Schottky diode using the example of Analog Devices ADP2443 The article describes the method for minimizing interference in synchronous step-down (buck) converter circuit based on Analog Devices ADP2443 switching regulator.
Interference reduction in synchronous step-down converters with an additional Schottky diode using the example of Analog Devices ADP2443 The article describes the method for minimizing interference in synchronous step-down (buck) converter circuit based on Analog Devices ADP2443 switching regulator.
Ф. Досталь
Снижение помех в синхронных понижающих преобразователях с помощью дополнительного диода Шоттки на примере ADP2443 от компании Analog Devices В статье описан способ минимизации помех в схеме синхронного понижающего преобразователя, построенного на основе импульсного стабилизатора ADP2443 от компании Analog Devices.
Снижение помех в синхронных понижающих преобразователях с помощью дополнительного диода Шоттки на примере ADP2443 от компании Analog Devices В статье описан способ минимизации помех в схеме синхронного понижающего преобразователя, построенного на основе импульсного стабилизатора ADP2443 от компании Analog Devices.
Теги: body diode high-side switch low-side switch n-channel mosfet n-канальный mosfet schottky diode synchronous step-down converter встроенный диод диод шоттки ключ верхнего плеча ключ нижнего плеча синхронный понижающий преобразователь
Production technologies
Производственные технологии
S. Nikitin, K. Pozdnyakov, O. Khomutskaya
PCB strain evaluating The article considers the method for quantitatively evaluating the dimensional PCB strain which could be used after any stage of technological process and on the basis of its results take action to keep the strain within the tolerance for the PCB of this accuracy class.
PCB strain evaluating The article considers the method for quantitatively evaluating the dimensional PCB strain which could be used after any stage of technological process and on the basis of its results take action to keep the strain within the tolerance for the PCB of this accuracy class.
С. Никитин, К. Поздняков, О. Хомутская
Оценка деформации печатных плат Рассмотрен метод количественной оценки размерной деформации ПП, который можно применить после проведения любого из этапов технологического процесса и по его результатам принять меры по введению деформации в пределы допуска для ПП данного класса точности.
Оценка деформации печатных плат Рассмотрен метод количественной оценки размерной деформации ПП, который можно применить после проведения любого из этапов технологического процесса и по его результатам принять меры по введению деформации в пределы допуска для ПП данного класса точности.