eng
Competent opinion
Компетентное мнение
A. Kishchinsky
We see that we can speak with foreign companies on equal terms DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.10.16
We see that we can speak with foreign companies on equal terms DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.10.16
А. Кищинский
Мы видим, что можем разговаривать с зарубежными компаниями на равных DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.10.16
Рассказывает заместитель генерального директора, главный
конструктор АО «Микроволновые системы» А. А. Кищинский
Компания «Микроволновые системы» отмечает в этом году юбилей – 15 лет. Это частное предприятие прочно занимает нишу разработки и производства широкополосных СВЧ‑усилителей для различных диапазонов частот от 0,5–1 до 18–20 ГГц, при этом двигаясь и в другие секторы СВЧ‑электроники, в том числе в область разработки АФАР гражданского применения. О том, как создавалась компания, каких успехов достигла за прошедшие годы, а также о современных мировых тенденциях в области СВЧ и возможностях российских компаний в создании передовых решений, конкурентоспособных на глобальном рынке СВЧ‑устройств, мы поговорили с одним из основателей компании, заместителем генерального директора, главным конструктором АО «Микроволновые системы» Андреем Александровичем Кищинским.
Мы видим, что можем разговаривать с зарубежными компаниями на равных DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.10.16
Рассказывает заместитель генерального директора, главный
конструктор АО «Микроволновые системы» А. А. Кищинский
Компания «Микроволновые системы» отмечает в этом году юбилей – 15 лет. Это частное предприятие прочно занимает нишу разработки и производства широкополосных СВЧ‑усилителей для различных диапазонов частот от 0,5–1 до 18–20 ГГц, при этом двигаясь и в другие секторы СВЧ‑электроники, в том числе в область разработки АФАР гражданского применения. О том, как создавалась компания, каких успехов достигла за прошедшие годы, а также о современных мировых тенденциях в области СВЧ и возможностях российских компаний в создании передовых решений, конкурентоспособных на глобальном рынке СВЧ‑устройств, мы поговорили с одним из основателей компании, заместителем генерального директора, главным конструктором АО «Микроволновые системы» Андреем Александровичем Кищинским.
Column of radio-electronic industry department
Колонка департамента радиоэлектронной промышленности
Report from a company
Репортаж с предприятия
Yu. Kovalevsky, O. Salikova
It's time to move to Russian technology. Especially when there is one DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.44.52
Visit to St. Petersburg’s Center ELMA LLC
It's time to move to Russian technology. Especially when there is one DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.44.52
Visit to St. Petersburg’s Center ELMA LLC
Ю. Ковалевский, О. Саликова
Пора переходить на российские технологии. Особенно, когда они есть DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.44.52
Визит в ООО «Санкт-Петербургский центр «ЭЛМА»
Пора переходить на российские технологии. Особенно, когда они есть DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.44.52
Визит в ООО «Санкт-Петербургский центр «ЭЛМА»
Yu. Kovalevsky
Flexibility or productivity of contract manufacturing: is the dilemma solvable? DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.54.63
Visit to Nanotech LLC assembly site
Flexibility or productivity of contract manufacturing: is the dilemma solvable? DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.54.63
Visit to Nanotech LLC assembly site
Ю. Ковалевский
Гибкость или производительность контрактного производства: дилемма разрешима? DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.54.63
Визит на сборочно-монтажное производство компании ООО «Нанотех»
Гибкость или производительность контрактного производства: дилемма разрешима? DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.54.63
Визит на сборочно-монтажное производство компании ООО «Нанотех»
Exhibitions & Conferences
Выставки и конференции
Yu. Kovalevsky
Conference "State support of export activities of radio-electronic industry enterprises" DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.36.39
Conference "State support of export activities of radio-electronic industry enterprises" DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.36.39
Ю. Ковалевский
Конференция «Государственная поддержка экспортной деятельности предприятий радиоэлектронной промышленности» DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.36.39
Конференция «Государственная поддержка экспортной деятельности предприятий радиоэлектронной промышленности» DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.36.39
V. Meylitsev
Microelectronic Assembly and Packaging Technologies DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.42.43
III annual technology conference “Technologies of
microelectronic assembly and packaging” by Global
Engineering GC
Microelectronic Assembly and Packaging Technologies DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.42.43
III annual technology conference “Technologies of
microelectronic assembly and packaging” by Global
Engineering GC
В. Мейлицев
Технологии микроэлектронной сборки и корпусирования DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.42.43
III ежегодная технологическая конференция
ГК «Глобал Инжиниринг» «Технологии микроэлектронной
сборки и корпусирования»
Технологии микроэлектронной сборки и корпусирования DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.42.43
III ежегодная технологическая конференция
ГК «Глобал Инжиниринг» «Технологии микроэлектронной
сборки и корпусирования»
NEWS
НОВОСТИ
Manufacturing equipment and process materials
Технологическое оборудование и материалы
A. Zavalko
Universal assembly centers: how to accelerate the market launch of complex and unique products DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.66.69
Universal assembly centers: how to accelerate the market launch of complex and unique products DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.66.69
А. Завалко
Универсальные сборочные центры: как ускорить вывод на рынок сложных и уникальных изделий DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.66.69
Универсальные сборочные центры: как ускорить вывод на рынок сложных и уникальных изделий DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.66.69
M. Makushin, V. Martynov
Mastering EUV lithography in serial production: prospects and problems DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.70.79
Mastering EUV lithography in serial production: prospects and problems DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.70.79
М. Макушин, В. Мартынов
Освоение EUV-литографии в серийном производстве: перспективы и проблемы DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.70.79
Освоение EUV-литографии в серийном производстве: перспективы и проблемы DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.70.79
S. Avakov, V. Plebanovich, A. Lapko
Image generators for maskless lithography DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.80.84
Image generators for maskless lithography DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.80.84
С. Аваков, В. Плебанович, А. Лапко
Генераторы изображений для безмасковой литографии DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.80.84
Генераторы изображений для безмасковой литографии DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.80.84
D. Potseluev
Water-proof coating: what to consider when choosing one DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.86.88
Water-proof coating: what to consider when choosing one DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.86.88
Д. Поцелуев
Влагозащитное покрытие: что необходимо учесть при выборе DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.86.88
Влагозащитное покрытие: что необходимо учесть при выборе DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.86.88
Test & Measurements
Контроль и измерения
N. Lemeshko, P. Strunin
Time domain simulation of linear Hall sensors and experimental identification of their models parameters using Rohde & Schwarz equipment DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.104.113
Time domain simulation of linear Hall sensors and experimental identification of their models parameters using Rohde & Schwarz equipment DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.104.113
Н. Лемешко, П. Струнин
Моделирование линейных датчиков Холла во временной области и экспериментальная идентификация параметров их моделей с использованием оборудования компании Rohde&Schwarz DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.104.113
Моделирование линейных датчиков Холла во временной области и экспериментальная идентификация параметров их моделей с использованием оборудования компании Rohde&Schwarz DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.104.113
Micromodules and microassemblies
Микромодули и микроблоки
A. Shcherbina
Development and manufacture of microassemblies based on multilayer ceramics DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.90.93
Development and manufacture of microassemblies based on multilayer ceramics DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.90.93
А. Щербина
Разработка и изготовление микросборок на многослойной керамике DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.90.93
Разработка и изготовление микросборок на многослойной керамике DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.90.93
Microwave electronics
СВЧ-электроника
V. Kochemasov, S. Dinges, V. Shadsky
Medium and High Power microwave Solid-State Switches. Part 2 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.116.130
Medium and High Power microwave Solid-State Switches. Part 2 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.116.130
В. Кочемасов, С. Дингес, В. Шадский
Твердотельные СВЧ-переключатели средней и большой мощности DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.116.130
Твердотельные СВЧ-переключатели средней и большой мощности DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.116.130
Reliability and tests
Надежность и испытания
A. Herbin
The use of accelerated methods for assessing the reliability indicators of domestic electronic components is one of the ways to increase their commercial attractiveness DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.136.140
The use of accelerated methods for assessing the reliability indicators of domestic electronic components is one of the ways to increase their commercial attractiveness DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.136.140
А. Гербин
Использование ускоренных методов оценки показателей надежности изделий ЭКБ отечественного производства – один из путей повышения их коммерческой привлекательности DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.136.140
Использование ускоренных методов оценки показателей надежности изделий ЭКБ отечественного производства – один из путей повышения их коммерческой привлекательности DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.136.140
E. Fyodorov
Shielded and anechoic chambers for confidential information protection and EMC testing DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.142.147
Shielded and anechoic chambers for confidential information protection and EMC testing DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.142.147
Е. Фёдоров
Экранированные и безэховые камеры для защиты конфиденциальной информации и проведения испытаний на ЭМС DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.142.147
Экранированные и безэховые камеры для защиты конфиденциальной информации и проведения испытаний на ЭМС DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.142.147
Digital manufacturing
Цифровое производство
R. Romashko, V. Ezhov
HARTING digital technology for modern production: when a customer becomes a partner DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.132.135
HARTING digital technology for modern production: when a customer becomes a partner DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.132.135
Р. Ромашко, В. Ежов
Цифровые технологии компании HARTING для современного производства: когда заказчик становится партнером DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.132.135
Цифровые технологии компании HARTING для современного производства: когда заказчик становится партнером DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.132.135
Production technologies
Производственные технологии
M. Grigoriev, T. Mikhailova, T. Myasoedova
Development of electrochemical capacitor electrodes based on silicon-carbon structures DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.96.102
Development of electrochemical capacitor electrodes based on silicon-carbon structures DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.96.102
М. Григорьев, Т. Михайлова, Т. Мясоедова
Разработка электродов электрохимических конденсаторов на основе кремний-углеродных структур DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.96.102
Разработка электродов электрохимических конденсаторов на основе кремний-углеродных структур DOI: 10.22184/1992-4178.2019.190.9.96.102