ВХОДНОЙ КОНТРОЛЬ МИКРОСХЕМ XILINX VIRTEX-7 С ПОМОЩЬЮ ПЕРИФЕРИЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ
НАУЧНЫЕ ИЗЫСКАНИЯ ДОЛЖНЫ ЗАКАНЧИВАТЬСЯ ПРАКТИЧЕСКИМИ РЕЗУЛЬТАТАМИ
Рассказывает генеральный директор АО «ТЕСТПРИБОР» Валерия Сергеевна Василевская
В ФОКУСЕ: ПРОИЗВОДСТВЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ
Автоматическая складская система на базе оборудования ScienScope и Yamaha
Вторая жизнь технологии пайки волной. Часть 1
Новые возможности АО «ЗПП» в области спекания керамических материалов
Оптимизация гальванических процессов в современном полупроводниковом производстве. Часть 1
Входной контроль микросхем Xilinx Virtex-7 с помощью периферийного сканирования
Применение установки SPEA 4060 для входного контроля ПП
Обучение по стандартам IPC для их внедрения в производство
РЕПОРТАЖИ И СОБЫТИЯ
Пленарные заседания по стратегии развития отрасли и конкурентоспособности отечественной ЭКБ и базовых техпроцессов VII Форума «Микроэлектроника 2021»
Конференция пользователей систем JTAG Technologies и SPEA
X Всероссийская научно-техническая конференция «ЭКБ-2021»
ИСТОРИЯ УСПЕХА
Поставка и запуск печи конвекционной пайки с использованием вакуума
ТЕХНОЛОГИИ И РЕШЕНИЯ
Мини-руководство по проектированию источников питания
Новое поколение САПР для корпусирования ИС
ИССЛЕДОВАНИЯ И ОБЗОРЫ
Микроэлектроника и государственная политика высокотехнологичных стран