Электроника НТБ - научно-технический журнал

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.58.66

Silicon fabs are increasingly becoming the backbone of the manufacturing base of the semiconductor industry, especially in the area of emerging process technologies. This business model is used by the world's largest microelectronic companies.

М. Макушин
КОНТРАКТНОЕ ПРОИЗВОДСТВО ИС: ВЕДУЩИЕ МИРОВЫЕ КРЕМНИЕВЫЕ ЗАВОДЫ РАСШИРЯЮТ МОЩНОСТИ. Часть 1

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.58.66

Кремниевые заводы все в большей мере становятся основой производственной базы полупроводниковой промышленности – особенно в сфере новейших и перспективных технологических процессов. Эту бизнес-модель используют крупнейшие мировые микроэлектронные фирмы.

Теги: fabless industry fabless-индустрия globalfoundries intel samsung silicon fab smic tsmc кремниевый завод

Manufacturing equipment and process materials

Технологическое оборудование и материалы

S. Fedorov
NEW GENERATION OF EQUIPMENT IN "A-CONTRACT" PROVIDES MORE OPPORTUNITIES FOR CUSTOMERS

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.68.70

С. Фёдоров
НОВОЕ ПОКОЛЕНИЕ ОБОРУДОВАНИЯ В «А-КОНТРАКТ» – БОЛЬШЕ ВОЗМОЖНОСТЕЙ ДЛЯ КЛИЕНТОВ

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.68.70

Engineering solutions

Конструкторские решения

A. Chernyshov
MULTILAYER PRINTED CIRCUIT BOARDS FROM PSB TECHNOLOGIES

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.72.77

The article considers by several examples the achievements of PSB Technologies LLC in the creation of multilayer printed circuit boards. It was noted that the company's specialists provide the implementation of projects even with seemingly technically unfeasible requirements.

А. Чернышов
МНОГОСЛОЙНЫЕ ПЕЧАТНЫЕ ПЛАТЫ КОМПАНИИ «ПСБ ТЕХНОЛОГИИ»

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.72.77

На нескольких примерах рассмотрены достижения ООО «ПСБ технологии» по созданию многослойных печатных плат. Отмечено, что специалисты компании обеспечивают реализацию проектов даже, казалось бы, с технически невыполнимыми требованиями.

Теги: printed circuit board sequential pressing via переходное отверстие печатная плата последовательное прессование

CAD

Системы проектирования

K. Felton, D. Vertyanov, S. Evstafiev, V. Sidorenko
THE NEXT GENERATION OF IC PACKAGING SOLUTIONS. Part 3

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.80.84

The article considers the scalability and wide functionality necessary for the development of IC complex packages. It discusses the requirements for the transfer of the project to production that is the conditions for providing error-free production data for manufacturing and assembly.

К. Фелтон, Д. Вертянов, С. Евстафьев, В. Сидоренко
НОВОЕ ПОКОЛЕНИЕ РЕШЕНИЙ ДЛЯ КОРПУСИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ. Часть 3

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.80.84

Рассматриваются масштабируемость и широкий функционал, необходимый для разработки сложных корпусов ИС. Обсуждаются требования к передаче проекта на производство, то есть условия предоставления безошибочных производственных данных по изготовлению и сборке.

Теги: design flow design kit multichip assembly verification верификация комплект для проектирования маршрут проектирования многокристальная сборка

Test & Measurements

Контроль и измерения

A. Voronin, I. Kudryashov
TEST AND CALIBRATION SYSTEMS FOR THE READOUT ELECTRONICS OF SILICON DETECTORS. Part 1

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.86.95

The article discusses the main issues related to the testing and calibration of the readout electronics of silicon detectors for experiments in the field of high energy physics and cosmic ray physics, the design concept and structural solutions for test systems and hardware-software complexes for readout electronics.

А. Воронин, И. Кудряшов
ТЕСТОВЫЕ И КАЛИБРОВОЧНЫЕ СИСТЕМЫ ДЛЯ СЧИТЫВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОНИКИ КРЕМНИЕВЫХ ДЕТЕКТОРОВ. Часть 1

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.86.95

В статье обсуждаются основные вопросы, связанные с проведением тестирования и калибровкой считывающей электроники кремниевых детекторов для экспериментов в области физики высоких энергий и физики космических лучей, принципы построения и структурные решения для тестовых систем и аппаратно-программных комплексов для контроля СЭ.

Теги: hardware-software complex internal calibration system probe station readout electronics silicon detector test board аппаратно-программный комплекс внутренняя калибровочная система зондовая установка кремниевый детектор считывающая электроника тестовая плата

Radio engineering systems

Радиотехнические системы

H. Yektaii, P. Pratt, F. Kearney
IMPLEMENTATION FEATURES OF THE DIGITAL PRE-DISTORTION METHOD IN MM-WAVE RADIO COMMUNICATION SYSTEMS

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.98.104

The article discusses the architectural features of mm-wave and sub-6 GHz base stations. Particular emphasis is paid to the implementation of the digital pre-distortion (DPD) method in these systems, which enable to increase the effective isotropic radiated power (EIRP) and reduce the number of antenna array elements for the same target EIRP.

Х. Йектаи, П. Пратт, Ф. Кирни
ОСОБЕННОСТИ РЕАЛИЗАЦИИ МЕТОДА ЦИФРОВЫХ ПРЕДЫСКАЖЕНИЙ В СИСТЕМАХ РАДИОСВЯЗИ ММ-ДИАПАЗОНА

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.98.104

В статье обсуждаются архитектурные особенности базовых станций, работающих в мм-диапазоне длин волн и на частотах ниже 6 ГГц. Особое внимание уделено вопросам реализации метода цифровых предыскажений (DPD) в этих системах, что позволяет повысить эффективную изотропную излучаемую мощность (EIRP) и сократить количество элементов антенной решетки.

Теги: 5g new radio networks antenna array base station beamformer digital pre-distortion effective isotropic radiated power frequency converter frequency synthesizer millimeter wave frequencies антенная решетка базовая станция преобразователь частоты сети 5g new radio синтезатор частоты формирователь луча цифровые предыскажения частоты миллиметрового диапазона эффективная изотропная излучаемая мощность

Microwave electronics

СВЧ-электроника

K. Dzhurinsky, A. Sotnikov
RF CONNECTOR POWER CAPABILITY. THE SELECTION CRITERIA

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.106.117

The article is devoted to the substantiation of the selection criteria for radio frequency connectors on the basis of reference data. The main attention is paid to the problem of choosing connectors with allowable power capability.

К. Джуринский, А. Сотников
ДОПУСТИМАЯ ПРОПУСКАЕМАЯ МОЩНОСТЬ РАДИОЧАСТОТНЫХ СОЕДИНИТЕЛЕЙ. КРИТЕРИИ ВЫБОРА

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.106.117

Статья посвящена обоснованию критериев выбора радиочастотных соединителей на базе справочных материалов. Основное внимание уделено проблеме выбора соединителей с допустимой пропускаемой мощностью.

Теги: frequency response power capability rf connectors пропускаемая мощность радиочастотные соединители частотная зависимость

Microprocessors and FPGAs

Микропроцессоры и ПЛИС

S. Aryashev, S. Vlasov, P. Zubkovsky, S. Sidorov
“KOMDIV-MK” MICROCONTROLLER

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.118.120

The article discusses the “Komdiv-MK” microcontroller produced by FGU Federal Research Center NIISI RAS. It features low power consumption and is intended primarily for use in Industrial IoT devices. The article provides information on the structure, characteristics and applications of the microcontroller.

С. Аряшев, С. Власов, П. Зубковский, С. Сидоров
МИКРОКОНТРОЛЛЕР «КОМДИВ-МК»

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.118.120

Рассмотрен микроконтроллер «Комдив-МК», выпущенный ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН. Он обладает пониженным энергопотреблением и предназначен в основном для использования в устройствах промышленного Интернета вещей. Приведена информация о структуре, характеристиках и возможных применениях данного микроконтроллера.

Теги: interface memory microcontroller интерфейс микроконтроллер память

Reliability and tests

Надежность и испытания

A. Strogonov, M. Belykh, D. Permyakov
ANALYSIS OF METHODS FOR CALCULATING THE OPERATIONAL FAILURE RATE OF LSI

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.122.129

The most popular in Russia guidance for predicting the failure rate of electronic systems are MIL-HDBK-217F US Department of Defense handbook and “Reliability of ERI” domestic reference guide. The article provides information on models and methods for assessing the failure rate of LSIs described in these handbooks, considers the examples of calculating the operational failure rate for some FPGAs.

А. Строгонов, М. Белых, Д. Пермяков
АНАЛИЗ МЕТОДОВ РАСЧЕТА ЭКСПЛУАТАЦИОННОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ ОТКАЗОВ БИС

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.122.129

Наиболее популярные в России руководства для прогнозирования интенсивности отказов радиоэлектронных систем – справочник Министерства обороны США MIL-HDBK-217F и отечественный справочник «Надежность ЭРИ». В статье приведены сведения об описанных в этих справочниках моделях и методах оценки интенсивности отказов БИС, рассмотрены примеры расчета эксплуатационной интенсивности отказов для некоторых ПЛИС.

Теги: cfr model failure rate fpga mtbf calculator parts count model parts stress model reliability prediction интенсивность отказов модель нагрузок модель с постоянной интенсивностью отказов модель экспресс-оценки плис прогнозирование надежности

V. Melnikov, N. Skripkin, S. Platonov, Yu. Polyakov
PREDICTING THE RELIABILITY OF NON-INCANDESCENT MAGNETRONS. TECHNICAL CAPABILITIES ENHANCEMENT

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.130.134

The mobile automated measuring complex (MAMC) developed by Pluton JSC allows you to monitor a number of parameters that have a critical impact on the reliability of the product and eliminate the influence of the human factor in the process of measuring its characteristics.

В. Мельников, Н. Скрипкин, С. Платонов, Ю. Поляков
ПРОГНОЗИРОВАНИЕ НАДЕЖНОСТИ БЕЗНАКАЛЬНЫХ МАГНЕТРОНОВ. РАСШИРЕНИЕ ТЕХНИЧЕСКИХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.130.134

Разработанный в АО «Плутон» мобильный автоматизированный измерительный комплекс (МАИК) позволяет контролировать ряд параметров, оказывающих критическое влияние на надежность изделия и исключить влияние человеческого фактора в процессе измерений его характеристик.

Теги: measuring complex non-incandescent magnetron reliability prediction безнакальный магнетрон измерительный комплекс прогнозирование надежности

T. Maksimov
TESTABLE DESIGNING AT OSTEC

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.138.141

By the example of Ostec’s own developments the article considers how, using the synthesis of in-circuit testing and boundary scan of electronic modules, to achieve 100% testability at the design step yet.

Т. Максимов
ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ В КОМПАНИИ ОСТЕК

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.138.141

На примере собственных разработок компании Остек рассмотрено, как с помощью синтеза внутрисхемного тестирования и периферийного сканирования электронных модулей добиться 100%-ной тестопригодности еще на стадии проектирования.

Теги: boundary scan design in-circuit testing testability внутрисхемное тестирование периферийное сканирование проектирование тестопригодность

R. Zubarev, E. Gorbuntsov
TOOLING FROM ZPP JSC FOR DOMESTIC AND IMPORTED ELECTRONIC COMPONENTS

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.142.146

The article considers the contact devices and graphite fixture from Semiconductor Devices Plant JSC (ZPP JSC). It is noted that at the moment the task set by ZPP JSC to create a domestic production of contact devices and graphite fixture has been completed and the results obtained provide further development of these areas.

Р. Зубарев, Е. Горбунцов
ОСНАСТКА КОМПАНИИ АО «ЗПП» ДЛЯ ОТЕЧЕСТВЕННОЙ И ИМПОРТНОЙ ЭКБ

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.142.146

Рассмотрены контактные устройства и графитовая оснастка компании АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»). Отмечено, что на данный момент поставленная АО «ЗПП» задача по созданию отечественного производства контактных устройств и графитовой оснастки выполнена и полученные результаты обеспечивают дальнейшее развитие этих направлений.

Теги: contact device graphite fixture package графитовая оснастка контактное устройство корпус

for Engineers

Инженеру

ИНЖЕНЕРУ