eng
Competent opinion
Компетентное мнение
Z. Kondrashov
MICROELECTRONICS MARKET EXISTS IN RUSSIA. IT IS NEEDED JUST TO LEARN HOW TO PROPERLY HANDLE IT DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.12.17
MICROELECTRONICS MARKET EXISTS IN RUSSIA. IT IS NEEDED JUST TO LEARN HOW TO PROPERLY HANDLE IT DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.12.17
З. Кондрашов
РЫНОК МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ В РОССИИ ЕСТЬ. НУЖНО ТОЛЬКО НАУЧИТЬСЯ С НИМ ПРАВИЛЬНО РАБОТАТЬ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.12.17
РЫНОК МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ В РОССИИ ЕСТЬ. НУЖНО ТОЛЬКО НАУЧИТЬСЯ С НИМ ПРАВИЛЬНО РАБОТАТЬ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.12.17
Column of radio-electronic industry department
Колонка департамента радиоэлектронной промышленности
Rules and Regulations
Нормативное регулирование
Yu. Kovalevsky
ENHANCEMENT OF LEGISLATION FOR STATE DEFENSE ORDER DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.38.40
Meeting Of The Military And Industrial Policy And Budget Section Of The Expert Council Of The Federation Council Committee On Defense And Security
ENHANCEMENT OF LEGISLATION FOR STATE DEFENSE ORDER DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.38.40
Meeting Of The Military And Industrial Policy And Budget Section Of The Expert Council Of The Federation Council Committee On Defense And Security
Ю. Ковалевский
СОВЕРШЕНСТВОВАНИЕ ЗАКОНОДАТЕЛЬСТВА В СФЕРЕ ГОСУДАРСТВЕННОГО ОБОРОННОГО ЗАКАЗА DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.38.40
Заседание Секции по военно-промышленной политике и бюджету Экспертного совета при Комитете Совета Федерации по обороне и безопасности
СОВЕРШЕНСТВОВАНИЕ ЗАКОНОДАТЕЛЬСТВА В СФЕРЕ ГОСУДАРСТВЕННОГО ОБОРОННОГО ЗАКАЗА DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.38.40
Заседание Секции по военно-промышленной политике и бюджету Экспертного совета при Комитете Совета Федерации по обороне и безопасности
Exhibitions & Conferences
Выставки и конференции
BUSINESS PROGRAM OF EXPOELECTRONICA 2022 AND ELECTRONTECHEXPO 2022
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.28.35
ДЕЛОВАЯ ПРОГРАММА ВЫСТАВОК EXPOELECTRONICA 2022 И ELECTRONTECHEXPO 2022
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.28.35
Report from the Company
Репортаж с производства
Yu. Kovalevsky
COMPREHENSIVE SOLUTION FOR ADVANCED COMPUTER PCB ASSEMBLY VISIT TO PRODUCTION FACILITY OF KRAFTWAY CORPORATION PLC DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.42.53
COMPREHENSIVE SOLUTION FOR ADVANCED COMPUTER PCB ASSEMBLY VISIT TO PRODUCTION FACILITY OF KRAFTWAY CORPORATION PLC DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.42.53
Ю. Ковалевский
КОМПЛЕКСНОЕ РЕШЕНИЕ ДЛЯ СБОРКИ ПЕЧАТНЫХ УЗЛОВ ПЕРЕДОВОЙ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЙ ТЕХНИКИ ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО КОМПАНИИ «КРАФТВЭЙ КОРПОРЭЙШН ПЛС» DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.42.53
КОМПЛЕКСНОЕ РЕШЕНИЕ ДЛЯ СБОРКИ ПЕЧАТНЫХ УЗЛОВ ПЕРЕДОВОЙ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЙ ТЕХНИКИ ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО КОМПАНИИ «КРАФТВЭЙ КОРПОРЭЙШН ПЛС» DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.42.53
NEWS
НОВОСТИ
Economy & Business
Экономика + бизнес
M. Makushin
DIGITAL ICs: DYNAMICS OF MARKET, INVESTMENT AND CAPACITY DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.54.65
Digital IСs are not only the basis for developing control systems, computer equipment, communications, data transfer, etc., but also one of the most important elements of the digital transformation of the economy. The share of digital ICs in the cost structure of end electronic systems is growing, capital investments are increasing and the production base is expanding.
DIGITAL ICs: DYNAMICS OF MARKET, INVESTMENT AND CAPACITY DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.54.65
Digital IСs are not only the basis for developing control systems, computer equipment, communications, data transfer, etc., but also one of the most important elements of the digital transformation of the economy. The share of digital ICs in the cost structure of end electronic systems is growing, capital investments are increasing and the production base is expanding.
М. Макушин
ЦИФРОВЫЕ ИС: ДИНАМИКА РЫНКА, ИНВЕСТИЦИЙ И МОЩНОСТЕЙ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.54.65
Цифровые ИС не только основа совершенствования систем управления, средств вычислительной техники, связи, передачи данных и т. п., но и один из важнейших элементов цифровой трансформации экономики. Доля цифровых ИС в структуре стоимости конечных электронных систем растет, капиталовложения увеличиваются, производственная база расширяется.
ЦИФРОВЫЕ ИС: ДИНАМИКА РЫНКА, ИНВЕСТИЦИЙ И МОЩНОСТЕЙ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.54.65
Цифровые ИС не только основа совершенствования систем управления, средств вычислительной техники, связи, передачи данных и т. п., но и один из важнейших элементов цифровой трансформации экономики. Доля цифровых ИС в структуре стоимости конечных электронных систем растет, капиталовложения увеличиваются, производственная база расширяется.
Manufacturing equipment and process materials
Технологическое оборудование и материалы
D. Mitichev
XCEED 3D AUTOMATED OPTICAL INSPECTION SYSTEM: ADVANCED LASER TECHNOLOGY FROM PARMI DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.124.128
The article discusses the features of 3D automatic optical inspection systems of the Xceed series manufactured by PARMI, which implement advanced laser technologies.
XCEED 3D AUTOMATED OPTICAL INSPECTION SYSTEM: ADVANCED LASER TECHNOLOGY FROM PARMI DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.124.128
The article discusses the features of 3D automatic optical inspection systems of the Xceed series manufactured by PARMI, which implement advanced laser technologies.
Д. Митичев
3D-СИСТЕМА АВТОМАТИЧЕСКОЙ ОПТИЧЕСКОЙ ИНСПЕКЦИИ XCEED: ПЕРЕДОВЫЕ ЛАЗЕРНЫЕ ТЕХНОЛОГИИ КОМПАНИИ PARMI DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.124.128
В статье рассмотрены особенности 3D-систем автоматической оптической инспекции серии Xceed производства компании PARMI, в которых реализованы передовые лазерные технологии.
3D-СИСТЕМА АВТОМАТИЧЕСКОЙ ОПТИЧЕСКОЙ ИНСПЕКЦИИ XCEED: ПЕРЕДОВЫЕ ЛАЗЕРНЫЕ ТЕХНОЛОГИИ КОМПАНИИ PARMI DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.124.128
В статье рассмотрены особенности 3D-систем автоматической оптической инспекции серии Xceed производства компании PARMI, в которых реализованы передовые лазерные технологии.
Теги: 360° side cameras 3d automatic optical inspection system 3d-система автоматической оптической инспекции focal length adjustment inspection speed laser technology sample deflection scanning head боковые видеокамеры 360°-обзора лазерные технологии прогиб образца регулировка фокусного расстояния сканирующая голова скорость инспекции
Experts Opinoin
Мнение экспертов
PROBLEMS AND OPPORTUNITIES FOR DEVELOPMENT OF RUSSIAN COMPUTING AND TELECOM EQUIPMENT IN NEW CONDITIONS
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.36.37
ПРОБЛЕМЫ И ВОЗМОЖНОСТИ ДЛЯ РАЗВИТИЯ ОТЕЧЕСТВЕННОЙ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЙ И КОММУНИКАЦИОННОЙ АППАРАТУРЫ В НОВЫХ УСЛОВИЯХ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.36.37
Electronic Components
Электронная компонентная база
I. Cherepanov, M. Makushin
DIGITAL ICs: PROSPECTS FOR THE DEVELOPMENT OF MEMORY CHIPS AND THEIR APPLICATION IN AI SYSTEMS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.76.88
The article analyzes the trends in the development of the memory sector. Much attention is given to the development of 3D integration approaches, including the design of devices that combine memory stacks and layers of logics, processor cores, etc.
DIGITAL ICs: PROSPECTS FOR THE DEVELOPMENT OF MEMORY CHIPS AND THEIR APPLICATION IN AI SYSTEMS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.76.88
The article analyzes the trends in the development of the memory sector. Much attention is given to the development of 3D integration approaches, including the design of devices that combine memory stacks and layers of logics, processor cores, etc.
И. Черепанов, М. Макушин
ЦИФРОВЫЕ ИС: ПЕРСПЕКТИВЫ РАЗВИТИЯ СХЕМ ПАМЯТИ И ИХ ПРИМЕНЕНИЕ В СИСТЕМАХ ИИ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.76.88
Анализируются тенденции развития сектора схем памяти. Большое внимание уделено освоению подходов 3D-интеграции, в том числе созданию приборов, сочетающих этажерки памяти и слои логических приборов, процессорных ядер и т. п.
ЦИФРОВЫЕ ИС: ПЕРСПЕКТИВЫ РАЗВИТИЯ СХЕМ ПАМЯТИ И ИХ ПРИМЕНЕНИЕ В СИСТЕМАХ ИИ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.76.88
Анализируются тенденции развития сектора схем памяти. Большое внимание уделено освоению подходов 3D-интеграции, в том числе созданию приборов, сочетающих этажерки памяти и слои логических приборов, процессорных ядер и т. п.
Теги: dram nor and nand flash memory reram sram stand alone mram stt-mram system-on-chip автономные mram дозу системы-на-кристалле созу флеш-память nor- и nand-типа
D. Sadekov
NON-VOLATILE MEMORY AND OTHER SOLUTIONS FROM FUDAN MICROELECTRONICS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.90.93
Chinese Fudan Microelectronics is known primarily for its developments in the field of non-volatile memory ICs, such as SPI NOR / NAND flash, EEPROM. The article provides an overview of Fudan Microelectronics product line, features and applications of key series.
NON-VOLATILE MEMORY AND OTHER SOLUTIONS FROM FUDAN MICROELECTRONICS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.90.93
Chinese Fudan Microelectronics is known primarily for its developments in the field of non-volatile memory ICs, such as SPI NOR / NAND flash, EEPROM. The article provides an overview of Fudan Microelectronics product line, features and applications of key series.
Д. Садеков
ЭНЕРГОНЕЗАВИСИМАЯ ПАМЯТЬ И ДРУГИЕ РЕШЕНИЯ КОМПАНИИ FUDAN MICROELECTRONICS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.90.93
Китайская компания Fudan Microelectronics известна, в первую очередь, своими разработками в области микросхем энергонезависимой памяти, таких как SPI NOR / NAND флеш-память, EEPROM. В статье представлен обзор продуктовой линейки Fudan Microelectronics, особенности и области применения ключевых серий.
ЭНЕРГОНЕЗАВИСИМАЯ ПАМЯТЬ И ДРУГИЕ РЕШЕНИЯ КОМПАНИИ FUDAN MICROELECTRONICS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.90.93
Китайская компания Fudan Microelectronics известна, в первую очередь, своими разработками в области микросхем энергонезависимой памяти, таких как SPI NOR / NAND флеш-память, EEPROM. В статье представлен обзор продуктовой линейки Fudan Microelectronics, особенности и области применения ключевых серий.
Теги: capacity contactless smart card ics eeprom fudan microelectronics i2c interface i2c-интерфейс identification ics nand flash nand флеш-память nor flash nor флеш-память smart meter ics spi interface spi-интерфейс информационная емкость микросхемы для бесконтактных смарт-карт микросхемы для идентификации микросхемы для интеллектуальных счетчиков
D. Makhin
LOW-VOLTAGE MULTILAYER VARISTORS IS NEW PRODUCT LINE OF KULON LLC DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.94.98
In 2022 Kulon LLC launched mass production of VR 18 chip varistors and VR 19 through-hole varistors. These components are currently available for order. The article discusses general information and basic parameters of varistors, design features, technological steps and key characteristics of the devices manufactured by Kulon LLC.
LOW-VOLTAGE MULTILAYER VARISTORS IS NEW PRODUCT LINE OF KULON LLC DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.94.98
In 2022 Kulon LLC launched mass production of VR 18 chip varistors and VR 19 through-hole varistors. These components are currently available for order. The article discusses general information and basic parameters of varistors, design features, technological steps and key characteristics of the devices manufactured by Kulon LLC.
Д. Махин
НИЗКОВОЛЬТНЫЕ МНОГОСЛОЙНЫЕ ВАРИСТОРЫ – НОВАЯ ЛИНЕЙКА ПРОДУКЦИИ ООО «КУЛОН» DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.94.98
В 2022 году ООО «Кулон» запустило серийное производство чип-варисторов ВР 18 и выводных варисторов ВР 19. В настоящее время эти компоненты доступны для заказа. В статье рассмотрены общие сведения и основные параметры варисторов, особенности конструкции, технологические этапы производства и ключевые характеристики приборов, выпускаемых в ООО «Кулон».
НИЗКОВОЛЬТНЫЕ МНОГОСЛОЙНЫЕ ВАРИСТОРЫ – НОВАЯ ЛИНЕЙКА ПРОДУКЦИИ ООО «КУЛОН» DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.94.98
В 2022 году ООО «Кулон» запустило серийное производство чип-варисторов ВР 18 и выводных варисторов ВР 19. В настоящее время эти компоненты доступны для заказа. В статье рассмотрены общие сведения и основные параметры варисторов, особенности конструкции, технологические этапы производства и ключевые характеристики приборов, выпускаемых в ООО «Кулон».
Теги: classification voltage granular structure kilning low-voltage multilayer varistor maximum surge current non-linearity coefficient tape caster zinc oxide гранулярная структура классификационное напряжение коэффициент нелинейности литьевая машина максимальный импульсный ток низковольтный многослойный варистор обжиг оксид цинка
Test & Measurements
Контроль и измерения
A. Chadin
ISSUES OF METROLOGICAL SUPPORT OF PHASE NOISE MEASURING INSTRUMENTS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.110.113
The article proposes the solution for the metrological support of phase noise measuring instruments using a reference exposure based on a frequency-modulated signal.
ISSUES OF METROLOGICAL SUPPORT OF PHASE NOISE MEASURING INSTRUMENTS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.110.113
The article proposes the solution for the metrological support of phase noise measuring instruments using a reference exposure based on a frequency-modulated signal.
А. Чадин
ВОПРОСЫ МЕТРОЛОГИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ ФАЗОВОГО ШУМА DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.110.113
Предложено решение по метрологическому обеспечению средств измерений фазового шума с использованием эталонного воздействия на основе частотно-модулированного сигнала.
ВОПРОСЫ МЕТРОЛОГИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ ФАЗОВОГО ШУМА DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.110.113
Предложено решение по метрологическому обеспечению средств измерений фазового шума с использованием эталонного воздействия на основе частотно-модулированного сигнала.
Теги: frequency-modulated signal measuring instruments phase noise средства измерений фазовый шум частотно-модулированный сигнал
A. Petrovichev
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY TESTING DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.116.118
The accredited EMC laboratory of TESTPRIBOR JSC provides qualified services for conducting a set of certification tests of electronic equipment for electromagnetic compatibility in accordance with the requirements of GOSTs of various series, ISO, CISPR.
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY TESTING DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.116.118
The accredited EMC laboratory of TESTPRIBOR JSC provides qualified services for conducting a set of certification tests of electronic equipment for electromagnetic compatibility in accordance with the requirements of GOSTs of various series, ISO, CISPR.
А. Петровичев
ИСПЫТАНИЯ НА ЭЛЕКТРОМАГНИТНУЮ СОВМЕСТИМОСТЬ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.116.118
Аккредитованная лаборатория ЭМС АО «ТЕСТПРИБОР» предоставляет квалифицированные услуги по проведению комплекса сертификационных испытаний РЭА на электромагнитную совместимость в соответствии с требованиями ГОСТов различных серий, ISO, CISPR.
ИСПЫТАНИЯ НА ЭЛЕКТРОМАГНИТНУЮ СОВМЕСТИМОСТЬ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.116.118
Аккредитованная лаборатория ЭМС АО «ТЕСТПРИБОР» предоставляет квалифицированные услуги по проведению комплекса сертификационных испытаний РЭА на электромагнитную совместимость в соответствии с требованиями ГОСТов различных серий, ISO, CISPR.
Теги: conducted electrostatic interference emc radiated излучаемые кондуктивные электростатические помехи эмс
Microwave electronics
СВЧ-электроника
V. Kochemasov, S. Khorev
MODERN INDUCTIVE RADIO COMPONENTS. Part 3 DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.102.109
The article considers the modern inductive radio components. Information is provided on several types of such components produced by a number of manufacturers.
MODERN INDUCTIVE RADIO COMPONENTS. Part 3 DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.102.109
The article considers the modern inductive radio components. Information is provided on several types of such components produced by a number of manufacturers.
В. Кочемасов, С. Хорев
СОВРЕМЕННЫЕ ИНДУКТИВНЫЕ РАДИОКОМПОНЕНТЫ. Часть 3 DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.102.109
Рассмотрены современные индуктивные радиокомпоненты. Приведена информация о нескольких типах таких компонентов, выпускаемых рядом производителей.
СОВРЕМЕННЫЕ ИНДУКТИВНЫЕ РАДИОКОМПОНЕНТЫ. Часть 3 DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.102.109
Рассмотрены современные индуктивные радиокомпоненты. Приведена информация о нескольких типах таких компонентов, выпускаемых рядом производителей.
Microprocessors and FPGAs
Микропроцессоры и ПЛИС
А. Strogonov, P. Gorodkov
OVERVIEW OF FPGAs FROM CHINESE MANUFACTURERS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.66.74
In recent years Chinese companies have intensified research and development in the field of FPGAs and released a number of high-performance series. The article provides an overview of FPGAs from leading Chinese manufacturers, their features, development tools and applications.
OVERVIEW OF FPGAs FROM CHINESE MANUFACTURERS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.66.74
In recent years Chinese companies have intensified research and development in the field of FPGAs and released a number of high-performance series. The article provides an overview of FPGAs from leading Chinese manufacturers, their features, development tools and applications.
А. Строгонов, П. Городков
ОБЗОР ПЛИС КИТАЙСКИХ ПРОИЗВОДИТЕЛЕЙ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.66.74
В последние годы китайские компании активизировали исследования и разработки в области ПЛИС и выпустили ряд высокопроизводительных серий. В статье представлен обзор ПЛИС от ведущих китайских производителей, их особенности, инструменты разработки и области применения.
ОБЗОР ПЛИС КИТАЙСКИХ ПРОИЗВОДИТЕЛЕЙ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.66.74
В последние годы китайские компании активизировали исследования и разработки в области ПЛИС и выпустили ряд высокопроизводительных серий. В статье представлен обзор ПЛИС от ведущих китайских производителей, их особенности, инструменты разработки и области применения.
Теги: block memory cad dff flip-flop dff-триггер dsp block fpga gate microprocessor core programmable logic block блочная память вентиль микропроцессорное ядро плис программируемый логический блок сапр цос-блок
Reliability and tests
Надежность и испытания
S. Belov
DEEPENING SELF-MONITORING OF TEST AND VERIFICATION EQUIPMENT FOR CONTROL SYSTEMS: SINGLE AND MULTIPLE TESTS OF EXPANSION BOARDS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.120.123
The article analyzes the papers on the issue of test and verification equipment self-monitoring to study the proposed concepts and the possibility of building technical solutions based on them that allow deepening self-monitoring of test and verification equipment and improving its procedures.
DEEPENING SELF-MONITORING OF TEST AND VERIFICATION EQUIPMENT FOR CONTROL SYSTEMS: SINGLE AND MULTIPLE TESTS OF EXPANSION BOARDS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.120.123
The article analyzes the papers on the issue of test and verification equipment self-monitoring to study the proposed concepts and the possibility of building technical solutions based on them that allow deepening self-monitoring of test and verification equipment and improving its procedures.
С. Белов
УГЛУБЛЕНИЕ САМОКОНТРОЛЯ КОНТРОЛЬНО-ПРОВЕРОЧНОЙ АППАРАТУРЫ ИЗДЕЛИЙ СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ: ОДНОКРАТНЫЕ И МНОГОКРАТНЫЕ ТЕСТЫ ПЛАТ РАСШИРЕНИЯ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.120.123
Анализируются публикации, тематика которых соотносится с задачей самоконтроля КПА, с целью изучения предлагаемых в них концепций и возможности построения на их основе технических решений, позволяющих углубить самоконтроль КПА и усовершенствовать его процедуры.
УГЛУБЛЕНИЕ САМОКОНТРОЛЯ КОНТРОЛЬНО-ПРОВЕРОЧНОЙ АППАРАТУРЫ ИЗДЕЛИЙ СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ: ОДНОКРАТНЫЕ И МНОГОКРАТНЫЕ ТЕСТЫ ПЛАТ РАСШИРЕНИЯ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.120.123
Анализируются публикации, тематика которых соотносится с задачей самоконтроля КПА, с целью изучения предлагаемых в них концепций и возможности построения на их основе технических решений, позволяющих углубить самоконтроль КПА и усовершенствовать его процедуры.
Теги: diagnostic tests self-monitoring self-monitoring cyclogram test and verification equipment for control systems диагностические тесты контрольно-проверочная аппаратура систем управления кпа самоконтроль кпа циклограмма самоконтроля
Production technologies
Производственные технологии
M. Nazarenko, K. Moiseev, A. Sigov
FEATURES OF LIQUID-PHASE MAGNETRON SPUTTERING PROCESS FOR VARIOUS MATERIALS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.130.135
The article considers the features of liquid-phase magnetron sputtering (LPMS) process for various materials. It is noted that LPMS method due to its versatility and environmental friendliness has great potential to replace existing production methods developed to form thick layers of metallization for various purposes.
FEATURES OF LIQUID-PHASE MAGNETRON SPUTTERING PROCESS FOR VARIOUS MATERIALS DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.130.135
The article considers the features of liquid-phase magnetron sputtering (LPMS) process for various materials. It is noted that LPMS method due to its versatility and environmental friendliness has great potential to replace existing production methods developed to form thick layers of metallization for various purposes.
М. Назаренко, К. Моисеев, А. Сигов
ОСОБЕННОСТИ ПРОЦЕССА ЖИДКОФАЗНОГО МАГНЕТРОННОГО РАСПЫЛЕНИЯ ДЛЯ РАЗЛИЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.130.135
Рассмотрены особенности процесса жидкофазного магнетронного распыления (ЖФМР) для различных материалов. Отмечено, что метод ЖФМР благодаря своей универсальности и экологичности обладает большим потенциалом к замещению существующих производственных методов, предназначенных для формирования толстых слоев металлизации различного назначения.
ОСОБЕННОСТИ ПРОЦЕССА ЖИДКОФАЗНОГО МАГНЕТРОННОГО РАСПЫЛЕНИЯ ДЛЯ РАЗЛИЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.215.4.130.135
Рассмотрены особенности процесса жидкофазного магнетронного распыления (ЖФМР) для различных материалов. Отмечено, что метод ЖФМР благодаря своей универсальности и экологичности обладает большим потенциалом к замещению существующих производственных методов, предназначенных для формирования толстых слоев металлизации различного назначения.