eng
Competent opinion
Компетентное мнение
D. Ivanov
OUR MAJOR EFFORTS ARE AIMED AT EXPANDING THE RANGE OF OUR OWN SOLUTIONS DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.12.19
OUR MAJOR EFFORTS ARE AIMED AT EXPANDING THE RANGE OF OUR OWN SOLUTIONS DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.12.19
Д. Иванов
НАШИ ОСНОВНЫЕ УСИЛИЯ НАПРАВЛЕНЫ НА РАСШИРЕНИЕ ЛИНЕЙКИ СОБСТВЕННЫХ РЕШЕНИЙ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.12.19
НАШИ ОСНОВНЫЕ УСИЛИЯ НАПРАВЛЕНЫ НА РАСШИРЕНИЕ ЛИНЕЙКИ СОБСТВЕННЫХ РЕШЕНИЙ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.12.19
R. Shakhovoy, A. Losev
HOW TO COUNTER COMING CRYPTOGRAPHIC SYSTEMS HACKING THREATS DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.20.23
HOW TO COUNTER COMING CRYPTOGRAPHIC SYSTEMS HACKING THREATS DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.20.23
Р. Шаховой, А. Лосев
КАК ПРОТИВОСТОЯТЬ ГРЯДУЩИМ УГРОЗАМ ВЗЛОМА КРИПТОГРАФИЧЕСКИХ СИСТЕМ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.20.23
КАК ПРОТИВОСТОЯТЬ ГРЯДУЩИМ УГРОЗАМ ВЗЛОМА КРИПТОГРАФИЧЕСКИХ СИСТЕМ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.20.23
Column of radio-electronic industry department
Колонка департамента радиоэлектронной промышленности
Exhibitions & Conferences
Выставки и конференции
Yu. Kovalevsky
ELECTRONIC COMPONENTS FOR ROCKET AND SPACE INDUSTRY AND NOT ONLY THAT “ECB 2023” THE 12TH ALL-RUSSIA SCIENCE AND TECHNOLOGY CONFERENCE DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.34.37
ELECTRONIC COMPONENTS FOR ROCKET AND SPACE INDUSTRY AND NOT ONLY THAT “ECB 2023” THE 12TH ALL-RUSSIA SCIENCE AND TECHNOLOGY CONFERENCE DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.34.37
Ю. Ковалевский
ЭКБ ДЛЯ РАКЕТНО-КОСМИЧЕСКОЙ ОТРАСЛИ И НЕ ТОЛЬКО XII ВСЕРОССИЙСКАЯ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ «ЭКБ 2023» DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.34.37
ЭКБ ДЛЯ РАКЕТНО-КОСМИЧЕСКОЙ ОТРАСЛИ И НЕ ТОЛЬКО XII ВСЕРОССИЙСКАЯ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ «ЭКБ 2023» DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.34.37
Economy & Business
Экономика + бизнес
B. Avdonin, M. Makushin
MICROELECTRONICS: CHIPS ACT AND EXPANSION OF THE US MANUFACTURING BASE DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.124.131
The CHIPS and Science Act (CHIPS Act), passed last year, aims to develop the US semiconductor industry ecosystem and help the US regain its leadership position in global microelectronics.
MICROELECTRONICS: CHIPS ACT AND EXPANSION OF THE US MANUFACTURING BASE DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.124.131
The CHIPS and Science Act (CHIPS Act), passed last year, aims to develop the US semiconductor industry ecosystem and help the US regain its leadership position in global microelectronics.
Б. Авдонин, М. Макушин
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА: CHIPS ACT И РАСШИРЕНИЕ ПРОИЗВОДСТВЕННОЙ БАЗЫ В США DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.124.131
Целью принятого в прошлом году закона о стимулировании развития производства полупроводниковых приборов и науки в Америке (CHIPS and Science Act, CHIPS Act) является развитие экосистемы полупроводниковой промышленности США, которое должно помочь Соединенным Штатам вернуть лидирующие позиции в мировой микроэлектронике.
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА: CHIPS ACT И РАСШИРЕНИЕ ПРОИЗВОДСТВЕННОЙ БАЗЫ В США DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.124.131
Целью принятого в прошлом году закона о стимулировании развития производства полупроводниковых приборов и науки в Америке (CHIPS and Science Act, CHIPS Act) является развитие экосистемы полупроводниковой промышленности США, которое должно помочь Соединенным Штатам вернуть лидирующие позиции в мировой микроэлектронике.
Information and telecommunication systems
Информационные и телекоммуникационные системы
E. Starovoitov, E. Skiba
NAVIGATION AND INFORMATION SOLUTIONS FOR AGRICULTURAL MACHINERY DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.100.106
The article presents innovative solutions that make it possible to increase the operational safety and autonomy of agricultural machinery and ensure control over its movement.
NAVIGATION AND INFORMATION SOLUTIONS FOR AGRICULTURAL MACHINERY DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.100.106
The article presents innovative solutions that make it possible to increase the operational safety and autonomy of agricultural machinery and ensure control over its movement.
Е. Старовойтов, Е. Скиба
НАВИГАЦИОННО-ИНФОРМАЦИОННЫЕ РЕШЕНИЯ ДЛЯ АГРОТЕХНИКИ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.100.106
В статье представлены перспективные технические решения, позволяющие повысить безопасность эксплуатации и автономность агротехники, обеспечить контроль за ее перемещением.
НАВИГАЦИОННО-ИНФОРМАЦИОННЫЕ РЕШЕНИЯ ДЛЯ АГРОТЕХНИКИ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.100.106
В статье представлены перспективные технические решения, позволяющие повысить безопасность эксплуатации и автономность агротехники, обеспечить контроль за ее перемещением.
Теги: agricultural machinery global navigation satellite system high-precision navigation telematics module агротехника высокоточная навигация глобальная навигационная спутниковая система телематический модуль
Engineering solutions
Конструкторские решения
S. Vantsov, O. Khomutskaya, E. Liin
INFLUENCE OF DESIGN PARAMETERS ON PLANE STRAIN OF PRINTED CIRCUIT BOARDS DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.108.112
The article describes the development of mathematical model of plane strain of printed circuit board layers and experimental verification of its accuracy. The obtained experimental results qualitatively completely coincide with the calculation results; the quantitative discrepancy does not exceed 20%, which can be considered satisfactory at this step of clarifying the model coefficients taking into account random factors.
INFLUENCE OF DESIGN PARAMETERS ON PLANE STRAIN OF PRINTED CIRCUIT BOARDS DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.108.112
The article describes the development of mathematical model of plane strain of printed circuit board layers and experimental verification of its accuracy. The obtained experimental results qualitatively completely coincide with the calculation results; the quantitative discrepancy does not exceed 20%, which can be considered satisfactory at this step of clarifying the model coefficients taking into account random factors.
С. Ванцов, О. Хомутская, Е. Лийн
ВЛИЯНИЕ КОНСТРУКТИВНЫХ ПАРАМЕТРОВ НА ПЛОСКУЮ ДЕФОРМАЦИЮ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.108.112
Описываются построение математической модели плоской деформации слоев печатной платы и экспериментальная проверка ее правильности. Полученные экспериментальные результаты качественно полностью совпадают с результатами расчета; количественное расхождение не превышает 20%, что можно считать удовлетворительным на данном этапе уточнения коэффициентов модели с учетом случайных факторов.
ВЛИЯНИЕ КОНСТРУКТИВНЫХ ПАРАМЕТРОВ НА ПЛОСКУЮ ДЕФОРМАЦИЮ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.108.112
Описываются построение математической модели плоской деформации слоев печатной платы и экспериментальная проверка ее правильности. Полученные экспериментальные результаты качественно полностью совпадают с результатами расчета; количественное расхождение не превышает 20%, что можно считать удовлетворительным на данном этапе уточнения коэффициентов модели с учетом случайных факторов.
Теги: drilling etching fiberglass laminate plane strain plane strain model pressing printed circuit boards модель плоской деформации печатные платы плоская деформация прессование сверление стеклотекстолит травление
Test & Measurements
Контроль и измерения
A. Strogonov, M. Kharchenko, A. Khanin
FEATURES OF MEASURING THE MIS-HEMT DIE-PACKAGE THERMAL RESISTANCE DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.38.41
The article describes the method and equipment for measuring the die-package thermal resistance of normally open MIS-HEMT, and discusses the implementation features of this method.
FEATURES OF MEASURING THE MIS-HEMT DIE-PACKAGE THERMAL RESISTANCE DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.38.41
The article describes the method and equipment for measuring the die-package thermal resistance of normally open MIS-HEMT, and discusses the implementation features of this method.
А. Строгонов, М. Харченко, А. Ханин
ОСОБЕННОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ «КРИСТАЛЛ – КОРПУС» MIS-HEMT-ТРАНЗИСТОРОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.38.41
В статье описаны метод и оснастка для измерения теплового сопротивления «кристалл – корпус» нормально-открытых MIS-HEMT-транзисторов, рассматриваются особенности реализации этого метода.
ОСОБЕННОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ «КРИСТАЛЛ – КОРПУС» MIS-HEMT-ТРАНЗИСТОРОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.38.41
В статье описаны метод и оснастка для измерения теплового сопротивления «кристалл – корпус» нормально-открытых MIS-HEMT-транзисторов, рассматриваются особенности реализации этого метода.
Теги: die-package thermal resistance hemt open-channel resistance temperature-sensitive parameter сопротивление открытого канала тепловое сопротивление «кристалл – корпус» термочувствительный параметр
A. Krylov, F. Krekoten, A. Pankov
METHODS FOR MEASURING S-PARAMETERS OF HIGH-SPEED CONNECTORS USING VECTOR NETWORK ANALYZERS DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.42.54
The article considers the methods for measuring the s-parameters of connectors used as part of backplanes using vector network analyzers (VNA). The measurement results are presented.
METHODS FOR MEASURING S-PARAMETERS OF HIGH-SPEED CONNECTORS USING VECTOR NETWORK ANALYZERS DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.42.54
The article considers the methods for measuring the s-parameters of connectors used as part of backplanes using vector network analyzers (VNA). The measurement results are presented.
А. Крылов, Ф. Крекотень, А. Панков
МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ S-ПАРАМЕТРОВ ВЫСОКОСКОРОСТНЫХ РАЗЪЕМОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ВЕКТОРНЫХ АНАЛИЗАТОРОВ ЦЕПЕЙ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.42.54
Рассматриваются методики измерений s-параметров разъемов, используемых в составе объединительных плат (backplane) с использованием векторных анализаторов цепей (ВАЦ). Представлены результаты измерений.
МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ S-ПАРАМЕТРОВ ВЫСОКОСКОРОСТНЫХ РАЗЪЕМОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ВЕКТОРНЫХ АНАЛИЗАТОРОВ ЦЕПЕЙ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.42.54
Рассматриваются методики измерений s-параметров разъемов, используемых в составе объединительных плат (backplane) с использованием векторных анализаторов цепей (ВАЦ). Представлены результаты измерений.
Теги: calibration board measuring equipment microstrip calibration metrics измерительная оснастка калибровочная плата калибровочные микрополосковые меры
D. Chuvilkin
MTK KS MULTIFUNCTIONAL TESTBEDS FOR TESTING CABLE SYSTEMS AND HARNESSES DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.56.58
MTK KS multifunctional testbeds are an innovative solution of Russian specialists. Designed for verification of cable systems and harnesses using low-voltage and high-voltage test methods at all steps of their production, testing and operation.
MTK KS MULTIFUNCTIONAL TESTBEDS FOR TESTING CABLE SYSTEMS AND HARNESSES DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.56.58
MTK KS multifunctional testbeds are an innovative solution of Russian specialists. Designed for verification of cable systems and harnesses using low-voltage and high-voltage test methods at all steps of their production, testing and operation.
Д. Чувилкин
МНОГОФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ КОМПЛЕКСЫ МТК КС ДЛЯ ПРОВЕРКИ КАБЕЛЬНЫХ СЕТЕЙ И ЖГУТОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.56.58
Многофункциональные комплексы МТК КС – инновационная разработка российских специалистов. Предназначен для проверки кабельных сетей и жгутов с применением низковольтных и высоковольтных методов контроля на всех этапах их производства, испытаний и эксплуатации.
МНОГОФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ КОМПЛЕКСЫ МТК КС ДЛЯ ПРОВЕРКИ КАБЕЛЬНЫХ СЕТЕЙ И ЖГУТОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.56.58
Многофункциональные комплексы МТК КС – инновационная разработка российских специалистов. Предназначен для проверки кабельных сетей и жгутов с применением низковольтных и высоковольтных методов контроля на всех этапах их производства, испытаний и эксплуатации.
Теги: capacitance current insulation resistance promtech corporation testing voltage емкость контроль корпорация «промтех» напряжение сопротивление изоляции ток
A. Chebanov, A. Shostak
UNIVERSAL AUTOMATIC BATTERY TESTING SYSTEM DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.60.63
Itech Electronic offers a universal automatic battery testing system, which makes it possible to test various types of batteries, simulate real operating conditions and control battery charge-discharge parameters.
UNIVERSAL AUTOMATIC BATTERY TESTING SYSTEM DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.60.63
Itech Electronic offers a universal automatic battery testing system, which makes it possible to test various types of batteries, simulate real operating conditions and control battery charge-discharge parameters.
А. Чебанов, А. Шостак
УНИВЕРСАЛЬНАЯ СИСТЕМА АВТОМАТИЧЕСКОГО ТЕСТИРОВАНИЯ АККУМУЛЯТОРНЫХ БАТАРЕЙ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.60.63
Компания Itech Electronic предлагает универсальную систему автоматического тестирования АКБ, которая дает возможность проводить испытания различных типов аккумуляторных батарей, моделировать реальные условия эксплуатации и контролировать параметры заряда-разряда АКБ.
УНИВЕРСАЛЬНАЯ СИСТЕМА АВТОМАТИЧЕСКОГО ТЕСТИРОВАНИЯ АККУМУЛЯТОРНЫХ БАТАРЕЙ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.60.63
Компания Itech Electronic предлагает универсальную систему автоматического тестирования АКБ, которая дает возможность проводить испытания различных типов аккумуляторных батарей, моделировать реальные условия эксплуатации и контролировать параметры заряда-разряда АКБ.
Теги: automatic testing system battery charge-discharge parameters аккумуляторная батарея параметры заряда-разряда система автоматического тестирования
Problems and solutions
Проблемы и решения
A. Achkasov
CHIPLETS AND HETEROGENEOUS INTEGRATION AS A BASIC TECHNOLOGY STACK CAPABLE OF ENSURING THE SOVEREIGNTY OF DOMESTIC ELECTRONICS IN A NEW TECHNOLOGICAL ORDER DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.114.123
The technologies of heterogeneous integration and the concept of using chiplets are considered from the point of view of their potential in ensuring the technological sovereignty of the country.
CHIPLETS AND HETEROGENEOUS INTEGRATION AS A BASIC TECHNOLOGY STACK CAPABLE OF ENSURING THE SOVEREIGNTY OF DOMESTIC ELECTRONICS IN A NEW TECHNOLOGICAL ORDER DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.114.123
The technologies of heterogeneous integration and the concept of using chiplets are considered from the point of view of their potential in ensuring the technological sovereignty of the country.
А. Ачкасов
ЧИПЛЕТЫ И ГЕТЕРОГЕННАЯ ИНТЕГРАЦИЯ КАК БАЗОВЫЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ СТЕК, СПОСОБНЫЙ ОБЕСПЕЧИТЬ СУВЕРЕНИТЕТ ОТЕЧЕСТВЕННОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ В НОВОМ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОМ УКЛАДЕ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.114.123
Рассматриваются технологии гетерогенной интеграции и концепция использования чиплетов с точки зрения их потенциала в обеспечении технологического суверенитета страны.
ЧИПЛЕТЫ И ГЕТЕРОГЕННАЯ ИНТЕГРАЦИЯ КАК БАЗОВЫЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ СТЕК, СПОСОБНЫЙ ОБЕСПЕЧИТЬ СУВЕРЕНИТЕТ ОТЕЧЕСТВЕННОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ В НОВОМ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОМ УКЛАДЕ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.114.123
Рассматриваются технологии гетерогенной интеграции и концепция использования чиплетов с точки зрения их потенциала в обеспечении технологического суверенитета страны.
Теги: chiplets heterogeneous integration import substitution system in package technological sovereignty гетерогенная интеграция импортозамещение система в корпусе технологический суверенитет чиплеты
Reliability and tests
Надежность и испытания
P. Aleinikov
HOW TO AUTOMATE CONTROL OF MANUAL OPERATIONS? DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.80.82
The article reviews the FLEX:Robotoinspectia solution, proposed for automating the control of manual operations. It is noted that such automation of control will eliminate a large volume of routine tasks in different areas of production and improve the overall quality of products.
HOW TO AUTOMATE CONTROL OF MANUAL OPERATIONS? DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.80.82
The article reviews the FLEX:Robotoinspectia solution, proposed for automating the control of manual operations. It is noted that such automation of control will eliminate a large volume of routine tasks in different areas of production and improve the overall quality of products.
П. Алейников
КАК АВТОМАТИЗИРОВАТЬ КОНТРОЛЬ РУЧНЫХ ОПЕРАЦИЙ? DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.80.82
Рассматривается решение FLEX:Роботоинспекция, предлагаемое для автоматизации контроля ручных операций. Отмечено, что такая автоматизация контроля даст избавление от большого объема рутинных задач на разных участках производства и улучшение общего качества продукции.
КАК АВТОМАТИЗИРОВАТЬ КОНТРОЛЬ РУЧНЫХ ОПЕРАЦИЙ? DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.80.82
Рассматривается решение FLEX:Роботоинспекция, предлагаемое для автоматизации контроля ручных операций. Отмечено, что такая автоматизация контроля даст избавление от большого объема рутинных задач на разных участках производства и улучшение общего качества продукции.
Теги: automation control flex:robotoinspectia flex:роботоинспекция manual operations автоматизация контроль ручные операции
Sh. Shugaepov, E. Ermolaev, V. Egoshin, Yu. Khanina
INCOMING INSPECTION OF MATERIALS IS THE BASIS FOR THE QUALITY OF METAL-CERAMIC PACKAGES FROM ZPP JSC DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.84.86
The article considers the implementation of incoming inspection of materials used for the manufacture of metal-ceramic packages at Semiconductor Device Plant JSC (ZPP JSC).
INCOMING INSPECTION OF MATERIALS IS THE BASIS FOR THE QUALITY OF METAL-CERAMIC PACKAGES FROM ZPP JSC DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.84.86
The article considers the implementation of incoming inspection of materials used for the manufacture of metal-ceramic packages at Semiconductor Device Plant JSC (ZPP JSC).
Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, Ю. Ханина
ВХОДНОЙ КОНТРОЛЬ МАТЕРИАЛОВ – ОСНОВА КАЧЕСТВА МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ АО «ЗПП» DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.84.86
Рассмотрена реализация в Акционерном обществе «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП») входного контроля материалов, применяемых для изготовления металлокерамических корпусов.
ВХОДНОЙ КОНТРОЛЬ МАТЕРИАЛОВ – ОСНОВА КАЧЕСТВА МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ АО «ЗПП» DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.84.86
Рассмотрена реализация в Акционерном обществе «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП») входного контроля материалов, применяемых для изготовления металлокерамических корпусов.
Теги: incoming inspection materials metal-ceramic package входной контроль материалы металлокерамический корпус
Power electronics
Силовая электроника
A. Shostak
WIDE RANGE OF SMALL SIZE. ITECH ELECTRONIC'S GAME CHANGER: IT2800 SERIES PRECISION SOURCE MEASURE UNITS DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.64.71
Itech Electronic has expanded its line of instruments. To complement AC and DC power supplies and electronic loads, the IT2800 series precision SMUs are available. The article discusses the features of new products and compares them with products from other manufacturers.
WIDE RANGE OF SMALL SIZE. ITECH ELECTRONIC'S GAME CHANGER: IT2800 SERIES PRECISION SOURCE MEASURE UNITS DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.64.71
Itech Electronic has expanded its line of instruments. To complement AC and DC power supplies and electronic loads, the IT2800 series precision SMUs are available. The article discusses the features of new products and compares them with products from other manufacturers.
А. Шостак
КОМПАКТНОСТЬ ШИРОКОГО ДИАПАЗОНА. НОВОЕ СЛОВО ITECH ELECTRONIC – ПРЕЦИЗИОННЫЕ ИСТОЧНИКИ-ИЗМЕРИТЕЛИ СЕРИИ IT2800 DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.64.71
Компания Itech Electronic расширила линейку измерительных приборов. В дополнение к источникам питания и электронным нагрузкам постоянного и переменного тока предлагаются прецизионные источники-измерители серии IT2800. В статье рассмотрены особенности новых изделий, проведено их сравнение с продуктами других производителей.
КОМПАКТНОСТЬ ШИРОКОГО ДИАПАЗОНА. НОВОЕ СЛОВО ITECH ELECTRONIC – ПРЕЦИЗИОННЫЕ ИСТОЧНИКИ-ИЗМЕРИТЕЛИ СЕРИИ IT2800 DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.64.71
Компания Itech Electronic расширила линейку измерительных приборов. В дополнение к источникам питания и электронным нагрузкам постоянного и переменного тока предлагаются прецизионные источники-измерители серии IT2800. В статье рассмотрены особенности новых изделий, проведено их сравнение с продуктами других производителей.
Теги: battery simulator digital multimeter graphical interface pulse generator source meter unit генератор импульсов графический интерфейс имитатор батареи источник-измеритель цифровой мультиметр
V. Masalov
ISOLATED CURRENT TRANSDUCERS DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.74.78
Due to interruptions in the supply of current sensors from LEM, the development team of NTC AKTOR LLC was tasked with designing measuring transducers to replace them. The article discusses the key features of galvanically isolated current transducers of the DTK series, developed by NTC AKTOR.
ISOLATED CURRENT TRANSDUCERS DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.74.78
Due to interruptions in the supply of current sensors from LEM, the development team of NTC AKTOR LLC was tasked with designing measuring transducers to replace them. The article discusses the key features of galvanically isolated current transducers of the DTK series, developed by NTC AKTOR.
В. Масалов
ИЗОЛИРОВАННЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ТОКА DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.74.78
В связи с перебоями поставок датчиков тока компании LEM группе разработчиков ООО «НТЦ АКТОР» была поставлена задача спроектировать измерительные преобразователи для их замены. В статье рассмотрены ключевые особенности гальванически изолированных измерительных преобразователей тока серии ДТК, разработанных «НТЦ АКТОР».
ИЗОЛИРОВАННЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ТОКА DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.74.78
В связи с перебоями поставок датчиков тока компании LEM группе разработчиков ООО «НТЦ АКТОР» была поставлена задача спроектировать измерительные преобразователи для их замены. В статье рассмотрены ключевые особенности гальванически изолированных измерительных преобразователей тока серии ДТК, разработанных «НТЦ АКТОР».
Теги: current sensor dynamic characteristics hall effect isolated current transducer датчик тока динамические характеристики изолированный измерительный преобразователь тока эффект холла
Computer Technology
Вычислительная техника
S. Nazarov, A. Barsukov
RELIABILITY AND SECURITY OF OPERATING SYSTEMS OF VARIOUS ARCHITECTURES. PART 1 DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.88.96
The introduction of sanctions reoriented the Russian economy towards the use of domestic software products, including operating systems (OS). The article proposes OS models of various architectures based on the theory of Markov processes described by Kolmogorov differential equations.
RELIABILITY AND SECURITY OF OPERATING SYSTEMS OF VARIOUS ARCHITECTURES. PART 1 DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.88.96
The introduction of sanctions reoriented the Russian economy towards the use of domestic software products, including operating systems (OS). The article proposes OS models of various architectures based on the theory of Markov processes described by Kolmogorov differential equations.
С. Назаров, А. Барсуков
НАДЕЖНОСТЬ И БЕЗОПАСНОСТЬ ОПЕРАЦИОННЫХ СИСТЕМ РАЗЛИЧНОЙ АРХИТЕКТУРЫ. ЧАСТЬ 1 DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.88.96
Введение санкций переориентировало российскую экономику на использование отечественных программных продуктов, в том числе и операционных систем (ОС). В данной статье предлагаются модели ОС различной архитектуры, основанные на теории марковских процессов, описываемых дифференциальными уравнениями Колмогорова.
НАДЕЖНОСТЬ И БЕЗОПАСНОСТЬ ОПЕРАЦИОННЫХ СИСТЕМ РАЗЛИЧНОЙ АРХИТЕКТУРЫ. ЧАСТЬ 1 DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.88.96
Введение санкций переориентировало российскую экономику на использование отечественных программных продуктов, в том числе и операционных систем (ОС). В данной статье предлагаются модели ОС различной архитектуры, основанные на теории марковских процессов, описываемых дифференциальными уравнениями Колмогорова.