WE ARE RESTORING THE SYSTEM OF EDUCATION OF UNIQUE SPECIALISTS URGENTLY DEMANDED BY THE ELECTRONICS INDUSTRY DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.12.18
МЫ ВОССТАНАВЛИВАЕМ СИСТЕМУ ПОДГОТОВКИ УНИКАЛЬНЫХ СПЕЦИАЛИСТОВ, В КОТОРЫХ ОСТРО НУЖДАЕТСЯ ЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.12.18
TRUST BEGINS WITH ELECTRONIC COMPONENTS DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.20.24
ДОВЕРЕННОСТЬ НАЧИНАЕТСЯ С ЭКБ DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.20.24
RUSSIA HAS ARTIFICIAL INTELLIGENCE SOLUTIONS THAT ARE NOT INFERIOR TO THOSE OF THE WORLD DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.26.28
В РОССИИ ЕСТЬ РЕШЕНИЯ ДЛЯ ИСКУССТВЕННОГО ИНТЕЛЛЕКТА, НЕ УСТУПАЮЩИЕ МИРОВЫМ DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.26.28
ANALYSIS OF MECHANICAL AND THERMAL CONDUCTIVITY PROPERTIES OF CERAMIC-POLYMER DIELECTRIC MATERIALS DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.94.100
The article proposes a generalized method for calculating the elastic properties of ceramic-polymer thermally conductive dielectric materials, which allows, based on a unified approach, to estimate its thermal conductivity and analyze mechanical properties (density, elastic modulus with respect to compression).
AНАЛИЗ МЕХАНИЧЕСКИХ И ТЕПЛОПРОВОДЯЩИХ СВОЙСТВ КЕРАМИКО-ПОЛИМЕРНЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.94.100
Предложена обобщенная методика расчета упругих свойств керамико-полимерных теплопроводящих диэлектрических материалов, позволяющая на основе единого подхода оценить теплопроводность и проанализировать механические свойства (плотность, модуль упругости по отношению к сжатию).
THE SHORTAGE OF SPECIAL QUARTZ GLASS FIXTURE FOR PLANAR TECHNOLOGY IN THE PRODUCTION OF MICROELECTRONICS WILL BE OVERCOME DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.102.106
«Quartz Crystal Technologies» JSC is launching a plant
for the production of quartz glass fixture for diffusion and epitaxial processes. This will be the most modern factory in the BRICS
for the production of quartz glass products, which will allow
the Russian microelectronics industry to reach a new level.
ДЕФИЦИТ СПЕЦОСНАСТКИ ИЗ КВАРЦЕВОГО СТЕКЛА ДЛЯ ПЛАНАРНОЙ ТЕХНОЛОГИИ В ПРОИЗВОДСТВЕ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ БУДЕТ ПРЕОДОЛЕН DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.102.106
АО «Технологии кварцевых кристаллов» запускает завод
по производству оснастки из кварцевого стекла
для диффузионных и эпитаксиальных процессов. Это будет самая современная в странах БРИКС фабрика по производству изделий из кварцевого стекла, которая позволит российской микроэлектронной отрасли выйти на новый уровень.
THE USE OF OPTICAL SENSORS FOR MUTUAL POSITIONING OF ANTENNAS DURING TESTING OF RADIO SYSTEMS DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.56.58
The problem of performing antenna measurements
in hard-to-reach sectors of space can be solved
by using laser-optical sensors that allow determining
the distance to objects and their orientation.
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ОПТИЧЕСКИХ ДАТЧИКОВ ДЛЯ ВЗАИМНОГО ПОЗИЦИОНИРОВАНИЯ АНТЕНН ПРИ ИСПЫТАНИЯХ РАДИОСИСТЕМ DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.56.58
Проблема выполнения антенных измерений в труднодоступных секторах пространства может быть решена применением лазерно-оптических датчиков, позволяющих определять дальность до объектов и их ориентацию.
DYNAMIC RANGE OF SPECTRUM ANALYZERS: FEATURES OF ASSESSMENT AND ACCOUNTING DURING MEASUREMENTS.PART 1 DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.60.65
The article considers the concept of dynamic range
and the factors that have a decisive influence on its value.
The formulas for calculating the dynamic range, taking
into account the inherent noise of the spectrum analyzer,
as well as the nonlinearity of its path and phase noise are given.
ДИНАМИЧЕСКИЙ ДИАПАЗОН АНАЛИЗАТОРОВ СПЕКТРА: ОСОБЕННОСТИ ОЦЕНКИ И УЧЕТА ПРИ ИЗМЕРЕНИЯХ. ЧАСТЬ 1 DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.60.65
Рассмотрено понятие динамического диапазона, выявлены факторы, оказывающие определяющее влияние на его значение, приведены формулы для расчета динамического диапазона, учитывающие собственный шум анализатора спектра, нелинейность его тракта, а также фазовый шум.
METHODOLOGY FOR CONDUCTING INCOMING INSPECTION OF ICs IN METAL-CERAMIC PACKAGES DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.68.69
The article examines the resources and competencies required to conduct incoming inspection of ICs in metal-ceramic packages, as well as the difficulties
that arise when inspecting foreign-made packages associated
with the need to focus on foreign standards.
МЕТОДИКА ПРОВЕДЕНИЯ ВХОДНОГО КОНТРОЛЯ МИКРОСХЕМ В МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСАХ DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.68.69
В статье рассматриваются ресурсы и компетенции, необходимые для проведения входного конроля микросхем в металлокерамических корпусах, а также сложности, возникающие при проверке корпусов иностранного производства, связанные с необходимостью
ориентироваться на зарубежные стандарты.
THE USE OF PRECISION METHODS FOR ELECTRICAL TESTING OF METAL-CERAMIC PACKAGES DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.70.72
The article discusses precision testing methods implemented
at Semiconductor Devices Plant JSC, which allow
detecting hidden defects in metal-ceramic packages
and measuring microwave characteristics of materials
used to manufacture metal-ceramic packages.
ПРИМЕНЕНИЕ ПРЕЦИЗИОННЫХ МЕТОДОВ ДЛЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.70.72
В статье рассмотрены прецизионные методы тестирования, внедренные в АО «Завод полупроводниковых приборов», позволяющие обнаруживать скрытые дефекты
в металлокерамических корпусах и измерять
СВЧ-характеристики материалов, применяемых
для изготовления металлокерамических корпусов.
UP-TO-DATE METHODS OF QUALITY CONTROL DURING ELECTRONIC COMPONENT MOUNTING DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.74.78
The article reviews the various modern methods
of testing used in the production of electronic products.
It is noted that properly organized testing increases the economic efficiency of production and significantly reduces risks during electronic device manufacturing.
АКТУАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПРИ ПРОВЕДЕНИИ МОНТАЖА ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.74.78
Рассмотрены различные современные методы контроля, применяемые при производстве электронных изделий. Отмечено, что правильно организованный контроль повышает экономическую эффективность производства и существенно снижает риски при выпуске электронных устройств.
FEATURES OF THE CONFORMITY ASSESSMENT OF ELECTRONIC COMPONENTS, RADIOELECTRONIC EQUIPMENT AND MATERIALS USING COMPUTATIONAL METHODS DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.80.81
The article discusses the strategy chosen by the majority
of space powers for the transition from large spacecrafts
to multi-satellite constellations of small spacecrafts,
which requires a revision of the entire procedure for qualification
and certification of the equipment being developed.
ОСОБЕННОСТИ ПРОВЕДЕНИЯ ОЦЕНКИ СООТВЕТСТВИЯ ЭКБ, РЭА И МАТЕРИАЛОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ РАСЧЕТНЫХ МЕТОДОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.80.81
Обсуждается выбранная большинством космических держав стратегия перехода с больших космических аппаратов на многоспутниковые группировки малых космических аппаратов, которая требует пересмотра всей процедуры квалификации и сертификации разрабатываемого оборудования.
HOW TO CHOOSE A CLIMATE CHAMBER DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.82.86
The article discusses the main parameters of climatic test
chambers and offers recommendations for the selection
and commissioning of this type of test equipment.
КАК ВЫБРАТЬ КЛИМАТИЧЕСКУЮ КАМЕРУ DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.82.86
В статье обсуждаются основные параметры климатических испытательных камер, предложены рекомендации по выбору и вводу в эксплуатацию данного типа испытательного оборудования.
TULA STATE UNIVERSITY TRAINS NEW GENERATION OF ENGINEERS DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.54.55
ИНЖЕНЕРОВ НОВОГО ПОКОЛЕНИЯ ГОТОВЯТ В ТулГУ DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.54.55
METHODOLOGY FOR ANALYSIS AND ASSESSMENT OF RISKS ARISING DURING THE INFORMATION EXCHANGE USING AN INFORMATION MANAGEMENT SYSTEM DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.90.93
The article considers the issues of reducing the risks of the information exchange between the designer of a high-tech product and its manufacturer. The use of structural and statistical analysis methods allowed to take corrective actions and minimize the number of incidents during new design.
МЕТОДИКА АНАЛИЗА И ОЦЕНКИ РИСКОВ ИНФОРМАЦИОННОГО ОБМЕНА С ПРИМЕНЕНИЕМ ИНФОРМАЦИОННО-УПРАВЛЯЮЩЕЙ СИСТЕМЫ DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.90.93
Рассматриваются вопросы сокращения рисков информационного обмена между проектантом наукоемкого изделия и его изготовителем. Применение методов структурного и статистического анализа позволило осуществить корректирующие действия и минимизировать количество инцидентов при новом проектировании.
REVERSE GROWTH OF PYROLYTIC ZnO FILMS DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.108.111
One of the widely used methods for synthesizing zinc oxide is spray pyrolysis, which is characterized by low cost, relative simplicity and high process speed. The article studies the phenomena in the process of ZnO film growth during synthesis by the method of pneumatic spray pyrolysis from a zinc acetate solution.
РЕВЕРСИВНЫЙ РОСТ ПИРОЛИТИЧЕСКИХ ПЛЕНОК ZnO DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.108.111
Одним из широко используемых методов синтеза оксида цинка является спрей-пиролиз, который отличается низкой стоимостью, относительной простотой и высокой скоростью процесса. Статья посвящена исследованию явлений в процессе роста пленки ZnO при синтезе методом пневматического спрей-пиролиза из раствора ацетата цинка.
EUV LITHOGRAPHY: WHAT IS EXPECTED IN 2025? DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.112.119
In the next decade EUV lithography will be used to form topological elements measured in nanometers and angstroms. The article considers the single and multiple patterning techniques.
EUV-ЛИТОГРАФИЯ: ЧТО ОЖИДАЕТСЯ В 2025 ГОДУ? DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.112.119
В ближайшее десятилетие EUV-литография будет использоваться для формирования топологических элементов, измеряемых в нанометрах и ангстремах. Рассматриваются методики однократного и многократного формирования рисунка.