eng
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.187.6.56.57
VIII Всероссийская научно-техническая конференция «Электромагнитная совместимость»
VIII Всероссийская научно-техническая конференция «Электромагнитная совместимость»
Актуальные аспекты обеспечения ЭМС
VIII Всероссийская научно-техническая конференция «Электромагнитная совместимость»
Ю. Ковалевский
23–24 мая 2019 года в Москве прошла VIII Всероссийская научно-техническая конференция «Электромагнитная совместимость», организованная АО «ТЕСТПРИБОР» при поддержке АО «Концерн «Радиоэлектронные технологии», АО «Российская электроника» и при участии ФГУП «ВНИИФТРИ». На конференции было представлено 27 докладов, отразивших ряд актуальных направлений не только в обеспечении электромагнитной совместимости (ЭМС) электронной аппаратуры, но и в смежных областях.
В начале мероприятия с приветственным словом выступили технический директор АО «ТЕСТПРИБОР» Н. А. Василенков, советник первого заместителя генерального директора АО «Концерн «Радиоэлектронные технологии» В. Г. Михеев, директор ФГУП «МНИИРИП» П. П. Куцько и заместитель генерального директора ФГУП «ВНИИФТРИ» Ф. И. Храпов.
Выступающими была отмечена высокая актуальность вопросов обеспечения ЭМС как в техническом, так и в организационном плане, а также важная роль данной ежегодной конференции.
В начале мероприятия был представлен ряд докладов, посвященных метрологическому обеспечению и нормативному регулированию в области испытаний на ЭМС, однако к этой теме докладчики возвращались и далее.
А. А. Панков (ФГУП «ВНИИФТРИ») посвятил свой доклад основным направлениям развития организации и разработки исходных эталонов для обеспечения единства измерений в области обороны и безопасности, основанным, в частности, на проделанной работе по определению существующих требований и состояния метрологического обеспечения в области антенных систем, применяемых для испытаний на ЭМС, а также на анализе изменений в законодательной и нормативной базе.
С грядущими изменениями в нормативной базе, относящейся к метрологическому обеспечению испытаний при создании военной и специальной техники, познакомил присутствующих С. С. Алимов, также представлявший ФГУП «ВНИИФТРИ». К. И. Курбатов – еще один сотрудник института – рассказал о стандартах, видах испытаний, методике проведения аттестации, а также других вопросах, относящихся к нормированию характеристик и инструментальной оценке безэховых камер для испытаний на ЭМС.
Теме метрологической экспертизы был посвящен также доклад С. А. Ведерникова (АО «ТЕСТПРИБОР»), который, помимо прочего, отметил важность уделения внимания этому вопросу на всех этапах разработки изделия, поскольку устранение метрологических ошибок на начальных стадиях проще, чем на стадии производства либо эксплуатации.
Также докладчик рассказал о подходах для оптимизации приемочного уровня при испытаниях.
Организационным вопросам был посвящен и доклад А. И. Газетова (АО «НИИАО»), который привел причины необходимости восстановления организационной системы обеспечения ЭМС на предприятиях КРЭТ, практически разрушенной после распада Советского Союза, при этом отметив, что предложение заключается не в полном, а частичном восстановлении.
Также были озвучены предложения для снижения стоимости испытательных стендов, которые потребуются для решения этой задачи.
Д. С. Кузнецов (ФБУ «Ростест-Москва») в рамках своего доклада представил предложения по улучшению нормативной базы, в частности стандарта ГОСТ IEC 61000-4-3-2016.
Докладчик также отметил, что существуют случаи игнорирования испытаний при импульсной модуляции, проведения которых требует стандарт. В целом, докладчик указал на необходимость ужесточения испытаний в современных условиях, а для компенсации увеличения временных затрат предложил шире использовать автоматизацию.
Доклад, в определенном смысле переходный от вопросов организации к техническим аспектам, представил А. В. Склонин (ФГУП «ЦНИИХМ»), отметивший, что в современных условиях у разработчика должна быть возможность экспресс-оценки определенных параметров, поскольку проблемы, выявленные на поздних стадиях, могут приводить к существенным задержкам выполнения проектов. Докладчик представил комплекс испытательных установок для экспресс-оценок защищенности изделий от блуждающих токов, позволяющих на более ранних этапах оценивать, например, стойкость к молниевым разрядам, что актуально, в частности, при разработке транспортных средств.
Вопросы испытаний РЭА транспортных средств – а именно, летательных аппаратов – рассмотрел в своем выступлении И. А. Волков (АО «ТЕСТПРИБОР»). Докладчик, помимо прочего, указал на целесообразность применения оптических цифровых шин для обеспечения коммуникации между блоками, поскольку медные кабели требуют применения защитных элементов на входах и выходах блоков, что снижает пропускную способность каналов.
Принцип минимизации «экстенсивных» методов обеспечения ЭМС также проявился в докладе П. А. Воршевского (ООО «ЭЛЕМКОМ»), отметившего, что не создавать помехи лучше, чем с ними бороться. Докладчик предложил ряд решений для снижения помех от источников вторичного питания (ИВП), в том числе изменение частоты коммутации по определенному закону с целью распределения мощности помехи по более широкому спектру.
Тема помех от ИВП также была освещена в докладе В. Ф. Дмитрикова (СПбГУТ имени М. А. Бонч-Бруевича). Докладчик рассмотрел вопрос сочетаемости импульсных источников с фильтрами и показал, что построение сложных систем питания на стандартных компонентах разных производителей без риска самовозбуждения практически невозможно из-за недостатка данных о ряде параметров таких компонентов.
Также в рамках мероприятия были представлены доклады о своей продукции от компаний – производителей компонентов для обеспечения ЭМС. Так, Е. Г. Замышляев (АО «СКТБ РТ») рассказал о модулях фильтров помех с функциями защиты от импульсных токов и перенапряжений, разработанных с целью импортозамещения; А. А. Скребнев (АО «ТЕСТПРИБОР») представил обзор фильтров для промышленного применения ТЕКО.
Безусловно, конференция, посвященная ЭМС, не могла обойти вниманием вопросы конкретных методов измерений и испытаний. В частности, Л. А. Белов (ФГБОУ ВО «НИУ «МЭИ») рассказал об измерении активных и пассивных интермодуляционных помех в системах связи, А. А. Шостак (ООО «Остек-Электро») сообщил о новых возможностях технологии комбинирования поля в активных антенных решетках для испытаний на восприимчивость к ЭМ‑полю до 18 ГГц, а А. П. Смирнов (НПФ «Диполь») представил доклад о валидации методики измерений эмиссии излучаемых помех в GTEM‑камерах с помощью радиолокационных отражателей, которая находится в очень близкой связи с измерением ЭПР с помощью GTEM‑камер, чему посвящена статья А. П. Смирнова, опубликованная в этом номере.
Отдельно следует отметить, что мероприятие показало большое внимание отрасли к использованию численных методов и моделирования для расчета характеристик ЭМС и параметров ЭМ‑полей. Этим вопросам были посвящены доклады А. А. Петровичева (АО «ТЕСТПРИБОР»), А. С. Усыченко (СПИИРАН) и Ю. С. Монакова (АО «Корпорация «Комета»), а представивший два доклада на тему численных расчетов различными методами дифракции ЭМ‑волны и проникновения ЭМ‑поля в экран А. Н. Гетманец (ФГУП «РФЯЦ-ВНИИЭФ») в завершении своего выступления отметил, что уже наступило время создавать стандарты и проводить метрологическую экспертизу вычислительных экспериментов.
В рамках конференции также были представлены и другие доклады.
Данное мероприятие вновь подтвердило свою значимую роль в обмене знаниями и опытом между специалистами, что особенно важно в условиях высокой актуальности вопросов обеспечения ЭМС, связанной в том числе с активным развитием электронных технологий и их проникновением во всё более широкий спектр областей. ●
VIII Всероссийская научно-техническая конференция «Электромагнитная совместимость»
Ю. Ковалевский
23–24 мая 2019 года в Москве прошла VIII Всероссийская научно-техническая конференция «Электромагнитная совместимость», организованная АО «ТЕСТПРИБОР» при поддержке АО «Концерн «Радиоэлектронные технологии», АО «Российская электроника» и при участии ФГУП «ВНИИФТРИ». На конференции было представлено 27 докладов, отразивших ряд актуальных направлений не только в обеспечении электромагнитной совместимости (ЭМС) электронной аппаратуры, но и в смежных областях.
В начале мероприятия с приветственным словом выступили технический директор АО «ТЕСТПРИБОР» Н. А. Василенков, советник первого заместителя генерального директора АО «Концерн «Радиоэлектронные технологии» В. Г. Михеев, директор ФГУП «МНИИРИП» П. П. Куцько и заместитель генерального директора ФГУП «ВНИИФТРИ» Ф. И. Храпов.
Выступающими была отмечена высокая актуальность вопросов обеспечения ЭМС как в техническом, так и в организационном плане, а также важная роль данной ежегодной конференции.
В начале мероприятия был представлен ряд докладов, посвященных метрологическому обеспечению и нормативному регулированию в области испытаний на ЭМС, однако к этой теме докладчики возвращались и далее.
А. А. Панков (ФГУП «ВНИИФТРИ») посвятил свой доклад основным направлениям развития организации и разработки исходных эталонов для обеспечения единства измерений в области обороны и безопасности, основанным, в частности, на проделанной работе по определению существующих требований и состояния метрологического обеспечения в области антенных систем, применяемых для испытаний на ЭМС, а также на анализе изменений в законодательной и нормативной базе.
С грядущими изменениями в нормативной базе, относящейся к метрологическому обеспечению испытаний при создании военной и специальной техники, познакомил присутствующих С. С. Алимов, также представлявший ФГУП «ВНИИФТРИ». К. И. Курбатов – еще один сотрудник института – рассказал о стандартах, видах испытаний, методике проведения аттестации, а также других вопросах, относящихся к нормированию характеристик и инструментальной оценке безэховых камер для испытаний на ЭМС.
Теме метрологической экспертизы был посвящен также доклад С. А. Ведерникова (АО «ТЕСТПРИБОР»), который, помимо прочего, отметил важность уделения внимания этому вопросу на всех этапах разработки изделия, поскольку устранение метрологических ошибок на начальных стадиях проще, чем на стадии производства либо эксплуатации.
Также докладчик рассказал о подходах для оптимизации приемочного уровня при испытаниях.
Организационным вопросам был посвящен и доклад А. И. Газетова (АО «НИИАО»), который привел причины необходимости восстановления организационной системы обеспечения ЭМС на предприятиях КРЭТ, практически разрушенной после распада Советского Союза, при этом отметив, что предложение заключается не в полном, а частичном восстановлении.
Также были озвучены предложения для снижения стоимости испытательных стендов, которые потребуются для решения этой задачи.
Д. С. Кузнецов (ФБУ «Ростест-Москва») в рамках своего доклада представил предложения по улучшению нормативной базы, в частности стандарта ГОСТ IEC 61000-4-3-2016.
Докладчик также отметил, что существуют случаи игнорирования испытаний при импульсной модуляции, проведения которых требует стандарт. В целом, докладчик указал на необходимость ужесточения испытаний в современных условиях, а для компенсации увеличения временных затрат предложил шире использовать автоматизацию.
Доклад, в определенном смысле переходный от вопросов организации к техническим аспектам, представил А. В. Склонин (ФГУП «ЦНИИХМ»), отметивший, что в современных условиях у разработчика должна быть возможность экспресс-оценки определенных параметров, поскольку проблемы, выявленные на поздних стадиях, могут приводить к существенным задержкам выполнения проектов. Докладчик представил комплекс испытательных установок для экспресс-оценок защищенности изделий от блуждающих токов, позволяющих на более ранних этапах оценивать, например, стойкость к молниевым разрядам, что актуально, в частности, при разработке транспортных средств.
Вопросы испытаний РЭА транспортных средств – а именно, летательных аппаратов – рассмотрел в своем выступлении И. А. Волков (АО «ТЕСТПРИБОР»). Докладчик, помимо прочего, указал на целесообразность применения оптических цифровых шин для обеспечения коммуникации между блоками, поскольку медные кабели требуют применения защитных элементов на входах и выходах блоков, что снижает пропускную способность каналов.
Принцип минимизации «экстенсивных» методов обеспечения ЭМС также проявился в докладе П. А. Воршевского (ООО «ЭЛЕМКОМ»), отметившего, что не создавать помехи лучше, чем с ними бороться. Докладчик предложил ряд решений для снижения помех от источников вторичного питания (ИВП), в том числе изменение частоты коммутации по определенному закону с целью распределения мощности помехи по более широкому спектру.
Тема помех от ИВП также была освещена в докладе В. Ф. Дмитрикова (СПбГУТ имени М. А. Бонч-Бруевича). Докладчик рассмотрел вопрос сочетаемости импульсных источников с фильтрами и показал, что построение сложных систем питания на стандартных компонентах разных производителей без риска самовозбуждения практически невозможно из-за недостатка данных о ряде параметров таких компонентов.
Также в рамках мероприятия были представлены доклады о своей продукции от компаний – производителей компонентов для обеспечения ЭМС. Так, Е. Г. Замышляев (АО «СКТБ РТ») рассказал о модулях фильтров помех с функциями защиты от импульсных токов и перенапряжений, разработанных с целью импортозамещения; А. А. Скребнев (АО «ТЕСТПРИБОР») представил обзор фильтров для промышленного применения ТЕКО.
Безусловно, конференция, посвященная ЭМС, не могла обойти вниманием вопросы конкретных методов измерений и испытаний. В частности, Л. А. Белов (ФГБОУ ВО «НИУ «МЭИ») рассказал об измерении активных и пассивных интермодуляционных помех в системах связи, А. А. Шостак (ООО «Остек-Электро») сообщил о новых возможностях технологии комбинирования поля в активных антенных решетках для испытаний на восприимчивость к ЭМ‑полю до 18 ГГц, а А. П. Смирнов (НПФ «Диполь») представил доклад о валидации методики измерений эмиссии излучаемых помех в GTEM‑камерах с помощью радиолокационных отражателей, которая находится в очень близкой связи с измерением ЭПР с помощью GTEM‑камер, чему посвящена статья А. П. Смирнова, опубликованная в этом номере.
Отдельно следует отметить, что мероприятие показало большое внимание отрасли к использованию численных методов и моделирования для расчета характеристик ЭМС и параметров ЭМ‑полей. Этим вопросам были посвящены доклады А. А. Петровичева (АО «ТЕСТПРИБОР»), А. С. Усыченко (СПИИРАН) и Ю. С. Монакова (АО «Корпорация «Комета»), а представивший два доклада на тему численных расчетов различными методами дифракции ЭМ‑волны и проникновения ЭМ‑поля в экран А. Н. Гетманец (ФГУП «РФЯЦ-ВНИИЭФ») в завершении своего выступления отметил, что уже наступило время создавать стандарты и проводить метрологическую экспертизу вычислительных экспериментов.
В рамках конференции также были представлены и другие доклады.
Данное мероприятие вновь подтвердило свою значимую роль в обмене знаниями и опытом между специалистами, что особенно важно в условиях высокой актуальности вопросов обеспечения ЭМС, связанной в том числе с активным развитием электронных технологий и их проникновением во всё более широкий спектр областей. ●
Отзывы читателей
