eng
Просмотры: 805
31.05.2024
Создание новых продуктов – это история достижения результатов. Но главное – это установки, на которых создаются комплектующие, технологии, с помощью которых добиваются высокого качества изготавливаемых элементов.
Второй день конференции, организованной Государственным научным центром РФ НПО «Орион» холдинга «Швабе» Госкорпорации Ростех, был отмечен сообщениями о производственном оборудовании и конкретных рабочих приборах фотосенсорики. В рамках секции №1 «Твердотельная фотосенсорика» компания АО «НТО» (Санкт-Петербург) представила производственное оборудование для эпитаксиального роста широкого спектра приборных гетероструктур и их последующей планарной обработки. В линейке производимой продукции – специализированные молекулярные источники для МЛЭ, установки электронно-лучевого и магнетронного напыления.
Вопросы о том, что могут дать современные технологии созданию конкурентоспособных оптико-электронных систем, обсуждались на заседании секции №2 «Системы тепловидения, системы наведения, приборы ночного видения». Интересные дискуссии развернулись вокруг проблем, проявляющих себя при возникновении высоких плотностей прорастающих дислокаций, и методов борьбы с ними, вокруг новых конструктивных решений, появляющихся при создании ЭОП III поколения, ЭОП для астрофизических исследований, позволяющих исключить необходимость применения в сенсорах формирующей оптики. Говорили о том, как изменение технологии варки стекол может сказаться на регистрации слабых фотонных сигналов.
Маломощность сигналов, улавливаемых оптико-электронными системами (ОЭС), создает уязвимость для объектов навигации перед намеренным наведением помех. При разработке высокочувствительных инфракрасных ОЭС важным параметром становится коэффициент передачи «фотон – электрон». Пересчет эффективной электрической емкости как оценки показателя качества ОЭС стал целью разработки метода пересчета сигнала и шума на выходе к размеру зарядового пакета.
В локальных системах наблюдения помехоустойчивость обеспечивается за счет использования солнечно-слепого спектрального диапазона, и их приборное решение представляет большой научный интерес. О конструкции приборов для внеатмосферных астрономических инструментов рассказали сотрудники АО «ЦНИИ «Электрон», СПбГТУ «ЛЭТИ» (Санкт-Петербург) и ЗАО «Экран» (г. Новосибирск). А об использовании наземных астрономических инструментов в ночное и дневное время было рассказано в сообщении САО РАН (п. Нижний Архыз, Республика Карачаево-Черкесия) о многофункциональной системе контроля астроклимата, разработанной на базе IP-приемника и CMOS-матрицы изображения.
При регистрации слабых фотонных сигналов прибора, лучшего, чем ЭОП, трудно себе представить. Перспективы освоения микроканальных пластин нового поколения для техники ночного видения обсуждались в докладе от компании «Баспик» (г. Владикавказ, Республика Северная Осетия — Алания). Совместно с компанией «Геофизика-НВ» (Москва) они провели исследования условий возникновения дефектов микроканальных пластин, влияющих на чистоту поля зрения ЭОП III поколения. В помощь идет использование преимуществ отечественной компонентной базы.
Многие задачи, в их числе задача снижения массо-габаритных характеристик установленной на борту аппаратуры, задача создания повышенной скрытности излучения требуют отдельного рассмотрения. Но они будут рассматриваться уже в рамках других научно-практических мероприятий.
Вопросы о том, что могут дать современные технологии созданию конкурентоспособных оптико-электронных систем, обсуждались на заседании секции №2 «Системы тепловидения, системы наведения, приборы ночного видения». Интересные дискуссии развернулись вокруг проблем, проявляющих себя при возникновении высоких плотностей прорастающих дислокаций, и методов борьбы с ними, вокруг новых конструктивных решений, появляющихся при создании ЭОП III поколения, ЭОП для астрофизических исследований, позволяющих исключить необходимость применения в сенсорах формирующей оптики. Говорили о том, как изменение технологии варки стекол может сказаться на регистрации слабых фотонных сигналов.
Маломощность сигналов, улавливаемых оптико-электронными системами (ОЭС), создает уязвимость для объектов навигации перед намеренным наведением помех. При разработке высокочувствительных инфракрасных ОЭС важным параметром становится коэффициент передачи «фотон – электрон». Пересчет эффективной электрической емкости как оценки показателя качества ОЭС стал целью разработки метода пересчета сигнала и шума на выходе к размеру зарядового пакета.
В локальных системах наблюдения помехоустойчивость обеспечивается за счет использования солнечно-слепого спектрального диапазона, и их приборное решение представляет большой научный интерес. О конструкции приборов для внеатмосферных астрономических инструментов рассказали сотрудники АО «ЦНИИ «Электрон», СПбГТУ «ЛЭТИ» (Санкт-Петербург) и ЗАО «Экран» (г. Новосибирск). А об использовании наземных астрономических инструментов в ночное и дневное время было рассказано в сообщении САО РАН (п. Нижний Архыз, Республика Карачаево-Черкесия) о многофункциональной системе контроля астроклимата, разработанной на базе IP-приемника и CMOS-матрицы изображения.
При регистрации слабых фотонных сигналов прибора, лучшего, чем ЭОП, трудно себе представить. Перспективы освоения микроканальных пластин нового поколения для техники ночного видения обсуждались в докладе от компании «Баспик» (г. Владикавказ, Республика Северная Осетия — Алания). Совместно с компанией «Геофизика-НВ» (Москва) они провели исследования условий возникновения дефектов микроканальных пластин, влияющих на чистоту поля зрения ЭОП III поколения. В помощь идет использование преимуществ отечественной компонентной базы.
Многие задачи, в их числе задача снижения массо-габаритных характеристик установленной на борту аппаратуры, задача создания повышенной скрытности излучения требуют отдельного рассмотрения. Но они будут рассматриваться уже в рамках других научно-практических мероприятий.
Комментарии читателей
