Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "degradation"

Электроника НТБ #2/2024
А. Строгонов
МЕТОДЫ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ДОЛГОВЕЧНОСТИ ИС ПО ПАРАМЕТРИЧЕСКИМ ОТКАЗАМ

DOI: 10.22184/1992-4178.2024.233.2.88.96 В статье рассмотрены основные методологические подходы, принятые в зарубежной и отечественной инженерных школах в области прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам.

Наноиндустрия #2/2017
А.Сапронов, Н.Букетова
Исследование процесса термической деструкции в эпоксикомпозитах, наполненных фуллереном С60

Методом термогравиметрического и дифференциально-термического анализа исследована термостойкость эпоксидных нанокомпозитов. На основе ИК-спектрального анализа установлены температурные диапазоны структурных преобразований, которые непосредственно влияют на теплофизические свойства разработанных материалов. УДК 667.64:678.026, ВАК 05.16.09, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.72.2.90.99