Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "контурограф"

Электроника НТБ #9/2024
К. Епифанцев
СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ЗАВИСИМОСТИ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ НА КОНТУРОГРАФЕ ОТ УГЛОВЫХ И СКОРОСТНЫХ ПАРАМЕТРОВ ЩУПА

DOI: 10.22184/1992-4178.2024.240.9.116.119 Представлены экспериментальные данные, которые позволяют изучить процесс калибровки контурографа для разных экспериментальных условий и выявить оптимальные значения угловых и скоростных параметров измерений.

Электроника НТБ #10/2023
К. Епифанцев
АНАЛИЗ РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЯ КОНТУРА И ФОРМЫ ОТ МНОЖЕСТВА ЭТАЛОНОВ ПРИ КАЛИБРОВКЕ

DOI: 10.22184/1992-4178.2023.231.10.134.136 Исследуется процесс проведения калибровки на контурографе Contracer CV 2100 c целью выявления влияния высоты калибровочной меры на погрешность при измерении.

Наноиндустрия #4/2017
А.Усеинов, И.Маслеников, А.Русаков, Е.Гладких, Б.Логинов, В.Логинов, А.Елкин
Измерение профилей деталей сложной формы с помощью сканирующего нанотвердомера

Составные части механизмов, имеющие криволинейные поверхности, требуют строгого контроля формы. Для решения таких задач применяются приборы, основанные на контактных или бесконтактных методах. В данной работе методом контактной профилометрии при помощи сканирующего нанотвердомера "НаноСкан-4D" были измерены профили пресс-форм, применяемых при синтезе монокристаллов алмаза в процессе HPHT-роста. УДК 681.2.083 ВАК 05.11.13 DOI: 10.22184/1993-8578.2017.75.4.38.44