Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "defects"

Печатный монтаж #5/2012
А.Гаранин
Критерии выбора установки рентгеновского контроля: необходимо и достаточно

При инспекции собранных печатных плат с микросхемами в корпусах BGA, CSP, Flip chip рентгеноскопия становится незаменимым инструментом. Поэтому важно определять, какая установка нужна для конкретного производства и по каким критериям ее выбирать.

Фотоника #6/2010
А.Керемжанов.
Термосенсорная диагностика процессов лазерной сварки

Термосенсорная диагностика (ТД) эффективна в процессах сварки плавлением, особенно в лазерной сварке. В ее основе лежат термосенсорные преобразования сигналов, характеризующие динамику тепловых следов от тепловых волн в различных средах и структурах. В статье изложены принципы и техническая реализация ТД на основе разработанной процедуры пространственно-временного сжатия информационных данных, функционально подобной зрительному восприятию. ТД позволяет во многих случаях исключить послесварочный дефектоскопический контроль качества сварных соединений другими физическими методами.

Фотоника #4/2010
П.Игнатьев, А.Лопарев, А.Коршак.
Лазерные 3D-профилометры МИМ

Лазерные профилометры на основе метода модуляционной интерференционной микроскопии (МИМ) используются в неразрушающем контроле топологии полупроводниковых структур. Восстановление геометрического рельефа по фазовому портрету позволяет измерять дефекты топологии сверхгладких структур с разрешением 10–100 нм в плоскости объекта и 0,1 нм по вертикали.

← 1

2