Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "return on investment (roi)"

Электроника НТБ #2/2018
А. Лютов
Внедряй и считай. Прибыльный испытательный центр: миф или реальность?

Рассмотрен экономический эффект от внедрения испытательного оборудования применительно к HALT (Highly accelerated life test – ускоренный метод комбинированных испытаний). Отмечено, что использование HALT может дать существенный экономический эффект при выпуске электронной продукции. УДК 658.5 | ВАК 05.27.06 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.173.2.164.166