Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "структурный анализ"

Электроника НТБ #8/2024
Е. Семенова, М. Смирнова, С. Гейко
МЕТОДИКА АНАЛИЗА И ОЦЕНКИ РИСКОВ ИНФОРМАЦИОННОГО ОБМЕНА С ПРИМЕНЕНИЕМ ИНФОРМАЦИОННО-УПРАВЛЯЮЩЕЙ СИСТЕМЫ

DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.90.93 Рассматриваются вопросы сокращения рисков информационного обмена между проектантом наукоемкого изделия и его изготовителем. Применение методов структурного и статистического анализа позволило осуществить корректирующие действия и минимизировать количество инцидентов при новом проектировании.

Аналитика #4/2018
Osamu Terasaki, Yanhang Ma, Yuusuke Sakuda, Hideyuki Takahashi, Kenichi Tsutsumi, Shunsuke Asahina, Masato Kudo, Robert W.Corker
Оценка и структурный анализ наноматериалов на сканирующем электронном микроскопе с высоким пространственным разрешением

В сканирующей электронной микроскопии эмиттер испускает пучок электронов, фокусируе- мый электромагнитными линзами в тончайший электронный луч (зонд), который в процессе растрового сканирования облучает поверхность образца. Сигналы генерируются в виде вторичных иотраженных электронов, а также характеристического рентгеновского излучения. Сканирование с нанометровым пространственным разрешением позволяет получать инфор- мацию отопографии поверхности образца, ее составе, кристаллической структуре и химиче- ских связях. Уменьшая энергию первичных электронов, можно минимизировать повреждения образца в результате облучения, а также повысить качество изображения диэлектрических образцов с возможностью выборочного получения информации о поверхности. УДК 53.086; ВАК 05.11.01 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.41.4.380.383