Электроника НТБ #3/2019
В. Быканов, Б. Подъяпольский, В. Булгаков
Научно-технические проблемы метрологического обеспечения разработки экб нового поколения
Рассмотрены основные проблемы метрологического обеспечения испытаний при производстве электронной компонентной базы, выявлены их причины и предложены рациональные пути решения подобных задач. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.184.3.112.118 УДК 621.38 | ВАК 05.27.06