Электроника НТБ #1/2022
Т. Максимов
ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ В КОМПАНИИ ОСТЕК
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.138.141 На примере собственных разработок компании Остек рассмотрено, как с помощью синтеза внутрисхемного тестирования и периферийного сканирования электронных модулей добиться 100%-ной тестопригодности еще на стадии проектирования.
Электроника НТБ #9/2021
А. Иванов, Д. Никишин
ВХОДНОЙ КОНТРОЛЬ МИКРОСХЕМ XILINX VIRTEX-7 С ПОМОЩЬЮ ПЕРИФЕРИЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ
DOI: 10.22184/1992-4178.2021.210.9.94.98 Рассмотрено использование периферийного сканирования для реализации входного контроля микросхем Xilinx Virtex-7. Отмечено, что представленные решения могут быть использованы на предприятиях радиоэлектронной промышленности для проведения процедуры входного контроля.
Электроника НТБ #6/2020
А. Иванов
Современное состояние поддержки периферийного сканирования отечественной электронной компонентной базой
DOI: 10.22184/1992-4178.2020.197.6.76.78 В статье приводится обзор состояния поддержки отечественной ЭКБ стандарта периферийного сканирования IEEE 1149.1. Рассматриваются существующие проблемы и препятствия при внедрении технологии, а также пути их преодоления.
Электроника НТБ #3/2019
В. Гречишников, А. Курицкий, А. Бутько, А. Иванов
Периферийное сканирование в учебном процессе и не только: JTAG-лаборатория в самарском университете
О сотрудничестве Самарского университета и компании JTAG Technologies в рамках оснащения и деятельности лаборатории периферийного сканирования и реализации программы дополнительного профессионального образования «Тестопригодное проектирование и производственная диагностика высокоинтегрированных электронных модулей». DOI: 10.22184/1992-4178.2019.184.3.120.123 УДК 621.3.082 | ВАК 05.11.00