Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "интенсивность отказов"

Электроника НТБ #1/2025
С. Ефименко, Н. Ковальчук, В. Смолич
ОСОБЕННОСТИ ПРОВЕДЕНИЯ ЭЛЕКТРОТЕРМОТРЕНИРОВКИ ИЗДЕЛИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ

DOI: 10.22184/1992-4178.2025.242.1.118.125 В статье приведен обзор и классификация оборудования для проведения электротермотренировки при мелкосерийном и серийном производстве на предприятиях электронной промышленности, а также при входном контроле у потребителей. Представлены основные характеристики стендов ЭТТ, выпускаемых отечественными предприятиями.

Электроника НТБ #1/2022
А. Строгонов, М. Белых, Д. Пермяков
АНАЛИЗ МЕТОДОВ РАСЧЕТА ЭКСПЛУАТАЦИОННОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ ОТКАЗОВ БИС

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.122.129 Наиболее популярные в России руководства для прогнозирования интенсивности отказов радиоэлектронных систем – справочник Министерства обороны США MIL-HDBK-217F и отечественный справочник «Надежность ЭРИ». В статье приведены сведения об описанных в этих справочниках моделях и методах оценки интенсивности отказов БИС, рассмотрены примеры расчета эксплуатационной интенсивности отказов для некоторых ПЛИС.

Электроника НТБ #4/2019
А. Строгонов
Характеристики надежности современных ПЛИС

В статье рассмотрена методика расчета экспериментальной интенсивности отказов ПЛИС с использованием статистики хи-квадрат, а также влияние сбоев, вызванных ионизирующим излучением, на характеристики надежности современных ПЛИС, выпускаемых по нанометровым проектным нормам. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.52.58 УДК 621.3.049.774 ВАК 05.27.01