Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "стабильность"

Наноиндустрия #1/2025
Е.И.Дискаева, О.В.Вечер, И.А.Базиков, Е.Н.Дискаева, К.С.Эльбекьян, Е.С.Лопатина
ОЦЕНКА ВЛИЯНИЯ ТЕМПЕРАТУРНОГО ВОЗДЕЙСТВИЯ НА СТАБИЛЬНОСТЬ И РАЗМЕРЫ ЧАСТИЦ НИОСОМАЛЬНЫХ ДИСПЕРСИЙ НА ОСНОВЕ ПЭГ-12 ДИМЕТИКОН

DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2025.18.1.8.15 В данной работе методом динамического рассеяния света исследован процесс изменения ζ-потенциала и размеров частиц ниосомальных дисперсий различных концентраций при варьировании температуры. Выявлены изменения среднего диаметра ниосом и индекса полидисперсности. Наиболее существенное влияние температуры на рассматриваемые параметры наблюдалось в интервале 303–313 К. Экспериментальные данные свидетельствовали об увеличении дзета-потенциала с повышением температуры. На основании проведенного анализа подтверждена возможность повышения устойчивости ниосомальных дисперсий с помощью температурного воздействия.

Электроника НТБ #9/2024
Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, А. Глунцов, А. Лоскутова
ИННОВАЦИЯ АО «ЗПП»: МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИЙ КОРПУС С J-ВЫВОДАМИ

DOI: 10.22184/1992-4178.2024.240.9.68.69 Акционерное общество «Завод полупроводниковых приборов» (входит в ГК «Элемент») – развивающееся крупное предприятие республики Марий Эл. Предприятие делает акцент на разработку и освоение в производстве новых металлокерамических корпусов для ИС, отвечающих современным требованиям микроэлектроники.

Наноиндустрия #5/2019
М.Г.Мустафаев, Д.Г.Мустафаева, Г.А.Мустафаев
Воспроизводимость и стабильность технологии и параметров структур микроэлектронных приборов

DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.5.256.259 Рассмотрены технологические подходы, обеспечивающие достижение заданного уровня точности и стабильности технологических операций, формирование приборных структур с заданными параметрами и приборов на их основе.