Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "испытательное оборудование"

Электроника НТБ #8/2022
П. Пармон, А. Панченко, К. Еремченко
ОТЕЧЕСТВЕННЫЕ СТЕНДЫ «СИТ» ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ ЭКБ НА НАДЕЖНОСТЬ

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.219.8.122.126 Описывается проект по созданию линейки стендов для термоэлектротренировки и испытаний на сохранение работоспособности ЭКБ при воздействии повышенных температур и при собственном перегреве при предельных режимах электрической нагрузки. Обосновывается актуальность данной разработки, приводятся технические характеристики и преимущества разрабатываемого оборудования.

Электроника НТБ #5/2022
П. Пармон, А. Панченко, К. Еремченко
УСТАНОВКА ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ НА ТЕПЛОВОЙ УДАР «АКТУ‑001»

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.216.5.78.82 Рассматривается проект по созданию автоматической камеры для испытаний полупроводниковых приборов и интегральных микросхем на тепловой удар, выполняемый АО «НИИЭТ». Обосновывается актуальность данной разработки, приводятся технические характеристики и преимущества разрабатываемой установки перед зарубежными аналогами.

Электроника НТБ #5/2019
С. Аваков, В. Матюшков, А. Вискушенко, А. Казаков
Отраслевая лаборатория испытаний и нанодиагностики спецтехнологического оборудования (ОЛИН СТО)

В статье описаны организационная структура, цели, задачи и оснащение отраслевой лаборатории испытаний и нанодиагностики спецтехнологического оборудования, созданной в ОАО «КБТЭМ-ОМО».

Электроника НТБ #2/2018
А. Лютов
Внедряй и считай. Прибыльный испытательный центр: миф или реальность?

Рассмотрен экономический эффект от внедрения испытательного оборудования применительно к HALT (Highly accelerated life test – ускоренный метод комбинированных испытаний). Отмечено, что использование HALT может дать существенный экономический эффект при выпуске электронной продукции. УДК 658.5 | ВАК 05.27.06 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.173.2.164.166

Электроника НТБ #4/2016
Т.Тулянцева, Х.Качаев
Аттестация испытательного оборудования на что обратить внимание?

В статье рассмотрены вопросы, которые наиболее часто возникают при аттестации испытательного оборудования.

Электроника НТБ #7/2012
Е.Рабинович
Программируемые источники питания Z+ Новое поколение, широкие возможности

В 2011 году компания TDK-Lambda представила новое семейство усовершенствованных источников Z+, которые позволяют воспроизводить и хранить в памяти произвольные формы тока и напряжения даже без участия внешнего устройства. Об этой и других особенностях новой серии пойдет речь в данной статье.

Электроника НТБ #2/2012
С.Гудков
Система для испытаний источников питания ATE 8000: универсальность и эффективность

Рассматриваются функциональные возможности испытательных систем на примере модели АТЕ 8000 компании Chroma ATE – ведущего мирового производителя испытательного оборудования для преобразователей электроэнергии.