Тег "испытательное оборудование"
Электроника НТБ #8/2022 П. Пармон, А. Панченко, К. Еремченко ОТЕЧЕСТВЕННЫЕ СТЕНДЫ «СИТ» ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ ЭКБ НА НАДЕЖНОСТЬ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.219.8.122.126 Описывается проект по созданию линейки стендов для термоэлектротренировки и испытаний на сохранение работоспособности ЭКБ при воздействии повышенных температур и при собственном перегреве при предельных режимах электрической нагрузки. Обосновывается актуальность данной разработки, приводятся технические характеристики и преимущества разрабатываемого оборудования.
Электроника НТБ #5/2022 П. Пармон, А. Панченко, К. Еремченко УСТАНОВКА ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ НА ТЕПЛОВОЙ УДАР «АКТУ‑001»
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.216.5.78.82 Рассматривается проект по созданию автоматической камеры для испытаний полупроводниковых приборов и интегральных микросхем на тепловой удар, выполняемый АО «НИИЭТ». Обосновывается актуальность данной разработки, приводятся технические характеристики и преимущества разрабатываемой установки перед зарубежными аналогами.
Электроника НТБ #5/2019 С. Аваков, В. Матюшков, А. Вискушенко, А. Казаков Отраслевая лаборатория испытаний и нанодиагностики спецтехнологического оборудования (ОЛИН СТО)
В статье описаны организационная структура, цели, задачи и оснащение отраслевой лаборатории испытаний и нанодиагностики спецтехнологического оборудования, созданной в ОАО «КБТЭМ-ОМО».
Электроника НТБ #2/2018 А. Лютов Внедряй и считай. Прибыльный испытательный центр: миф или реальность?
Рассмотрен экономический эффект от внедрения испытательного оборудования применительно к HALT (Highly accelerated life test – ускоренный метод комбинированных испытаний). Отмечено, что использование HALT может дать существенный экономический эффект при выпуске электронной продукции. УДК 658.5 | ВАК 05.27.06 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.173.2.164.166
Электроника НТБ #4/2016 Т.Тулянцева, Х.Качаев Аттестация испытательного оборудования на что обратить внимание?
В статье рассмотрены вопросы, которые наиболее часто возникают при аттестации испытательного оборудования.
Электроника НТБ #7/2012 Е.Рабинович Программируемые источники питания Z+ Новое поколение, широкие возможности
В 2011 году компания TDK-Lambda представила новое семейство усовершенствованных источников Z+, которые позволяют воспроизводить и хранить в памяти произвольные формы тока и напряжения даже без участия внешнего устройства. Об этой и других особенностях новой серии пойдет речь в данной статье.
Электроника НТБ #2/2012 С.Гудков Система для испытаний источников питания ATE 8000: универсальность и эффективность
Рассматриваются функциональные возможности испытательных систем на примере модели АТЕ 8000 компании Chroma ATE – ведущего мирового производителя испытательного оборудования для преобразователей электроэнергии.
eng
