Электроника НТБ #5/2021
А. Кулибаба, А. Савин, О. Юшин
УСКОРЕННЫЕ ИСПЫТАНИЯ НА СОХРАНЯЕМОСТЬ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ
DOI: 10.22184/1992-4178.2021.206.5.98.104 Исследуется проблема отсутствия справочных данных для расчета коэффициента ускорения испытаний на сохраняемость электронной компонентной базы. Предлагается методика, основанная на анализе результатов ускоренных испытаний в разных режимах.
Электроника НТБ #2/2020
Типовая методика ускоренных испытаний ЭКБ на надежность
DOI: 10.22184/1992-4178.2020.193.2.100.105 Предлагается типовая методика, которая разработана с учетом специфики проектирования и производства изделий ЭКБ. Она регламентирует основные положения методологии ускоренной оценки изделий ЭКБ на их соответствие требованиям ТЗ/ТУ по надежности.