Электроника НТБ #3/2022
А. Евграфов
ВСЕСТОРОННИЙ АНАЛИЗ ТОПОЛОГИИ ПЕЧАТНОЙ ПЛАТЫ В Altair PollEx ДЛЯ ALTIUM DESIGNER. Часть 1. Проверка топологии перед производством
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.214.3.96.102 В статье рассмотрены возможности Altair PollEx – программного решения компании Altair Engineering, предназначенного для анализа и верификации печатных плат на любой стадии проектирования.
Аналитика #2/2020
О. А. Лаврентьева, В. В. Родченкова
Фундаментальная наука – источник новых технологий
DOI: 10.22184/2227-572X.2020.10.2.96.108 Почти 20 лет назад в Институте физической химии и электрохимии им. А. Н. Фрумкина РАН был создан Центр коллективного пользования физическими методами исследования. Cобран высокотехнологичный парк уникального оборудования для проведения разнообразных фундаментальных и прикладных исследований методами рентгеноспектрального анализа, ЯМР, хромато-масс-спектрометрии, рамановской и ИК спектроскопии, флуоресценции, термоанализа и др.