Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "design-for-testability"

Электроника НТБ #3/2012
Р.Руис
Создание тестопригодных схем при проектировании SoC. Интегрированный подход

Интегрированный подход Обеспечение тестопригодности схем при их разработке – одна из главных составляющих современного проектирования электронных схем и печатных плат. Внедрение передовых технологий производственного тестирования компании Synopsys позволяет достичь оптимального качества результатов и снизить число итераций между процедурами оптимизации функциональной и тестовой подсистем проекта.