Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "обратимые отказы"

Электроника НТБ #4/2021
А. Рычков
ТЕСТИРОВАНИЕ ПРОЕКТОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ НА СБОЕУСТОЙЧИВОСТЬ С ПОМОЩЬЮ ИНСТРУМЕНТА Z01X ОТ SYNOPSYS

DOI: 10.22184/1992-4178.2021.205.4.66.69 Описывается механизм возникновения сбоев функционирования ИС при воздействии тяжелых заряженных частиц, приводятся некоторые методы снижения влияния данных воздействий и рассматриваются принципы работы и преимущества инструмента Z01X от компании Synopsys для тестирования проектов ИС на сбоеустойчивость.