Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "thermal shock"

Электроника НТБ #5/2022
П. Пармон, А. Панченко, К. Еремченко
УСТАНОВКА ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ НА ТЕПЛОВОЙ УДАР «АКТУ‑001»

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.216.5.78.82 Рассматривается проект по созданию автоматической камеры для испытаний полупроводниковых приборов и интегральных микросхем на тепловой удар, выполняемый АО «НИИЭТ». Обосновывается актуальность данной разработки, приводятся технические характеристики и преимущества разрабатываемой установки перед зарубежными аналогами.