Электроника НТБ #6/2022
А. Белоус, С. Ефименко, В. Смолич
ОСОБЕННОСТИ ОРГАНИЗАЦИИ ТЕСТИРОВАНИЯ ЭКБ В ДИАПАЗОНЕ ТЕМПЕРАТУР
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.217.6.158.166 Приведены обзор, классификация и основные характеристики оборудования для тестирования в серийном производстве микросхем и полупроводниковых приборов в широком диапазоне температур. Показано, что для тестирования могут применяться как автоматизированные, так и неавтоматизированные системы.