Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "probe card"

Электроника НТБ #9/2022
Р. Малышев, А. Пузанов
ОБЗОР ТЕХНОЛОГИЙ ЗОНДОВОГО КОНТРОЛЯ КРИСТАЛЛОВ НА ПЛАСТИНЕ

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.220.9.114.118 Решить задачу раннего обнаружения дефекта позволяет межоперационный контроль на производстве, в том числе с применением метода зондового контроля на пластине. В статье представлен обзор российских технологий и методов зондового контроля кристаллов на пластине.