Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "test system"

Электроника НТБ #7/2023
А. Федоров
СИСТЕМЫ ТЕСТИРОВАНИЯ НА БАЗЕ ПРОГРАММИРУЕМЫХ ИСТОЧНИКОВ ПИТАНИЯ И ЭЛЕКТРОННЫХ НАГРУЗОК

DOI: 10.22184/1992-4178.2023.228.7.158.171 Источники питания и электронные нагрузки от компании APM Technologies применяют для тестирования контрольно-измерительного оборудования, в составе испытательных стендов и экспериментальных установок в различных отраслях промышленности, научных исследованиях и многих других областях. В статье представлен обзор ключевых линеек APM Technologies.