sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
ISSN 1992-4178
Книги по электронике
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по электронике
Груздов В.В., Колковский Ю.В., Концевой Ю.А.
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "классификация компонентов"
Электроника НТБ #3/2024
И. Рожков, А. Гаранин, Д. Подольский
В ПОГОНЕ ЗА СОВЕРШЕНСТВОМ: ОТ ГЛУБОКО МАШИННОГО ОБУЧЕНИЯ К ИСКУССТВЕННОМУ ИНТЕЛЛЕКТУ В СИСТЕМАХ ОПТИЧЕСКОЙ ИНСПЕКЦИИ (АОИ) MAKER-RAY. ЧАСТЬ 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.234.3.200.206 В первой части статьи, опубликованной в журнале «ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес» №10 за 2023 год, было проведено обоснование эффективности применения искусственного интеллекта (ИИ) как следующего этапа развития алгоритмов машинного обучения при анализе изображений. Во второй части обсуждаются вопросы теории и практики построения виртуальной модели для работы искусственного интеллекта, применяемого в системах оптической инспекции компании Maker-Ray.
Разработка: студия Green Art