Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "image cropping"

Электроника НТБ #3/2024
И. Рожков, А. Гаранин, Д. Подольский
В ПОГОНЕ ЗА СОВЕРШЕНСТВОМ: ОТ ГЛУБОКО МАШИННОГО ОБУЧЕНИЯ К ИСКУССТВЕННОМУ ИНТЕЛЛЕКТУ В СИСТЕМАХ ОПТИЧЕСКОЙ ИНСПЕКЦИИ (АОИ) MAKER-RAY. ЧАСТЬ 2

DOI: 10.22184/1992-4178.2024.234.3.200.206 В первой части статьи, опубликованной в журнале «ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес» №10 за 2023 год, было проведено обоснование эффективности применения искусственного интеллекта (ИИ) как следующего этапа развития алгоритмов машинного обучения при анализе изображений. Во второй части обсуждаются вопросы теории и практики построения виртуальной модели для работы искусственного интеллекта, применяемого в системах оптической инспекции компании Maker-Ray.