Электроника НТБ #2/2024
П. Алейников
ТЕХНОЛОГИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО КОНТРОЛЯ
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.233.2.80.83 Рассмотрен ряд особенностей технологии рентгеновского контроля качества и, в частности, вопросы, возникающие при работе с материалами, обладающими высокой плотностью, а также при обработке и хранении данных цифрового рентгеновского контроля.
Электроника НТБ #3/2022
Д. Соя, М. Степанищев
ВХОДНОЙ КОНТРОЛЬ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ. ВИДЫ ДЕФЕКТОВ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.214.3.166.170 В статье рассмотрены основные виды дефектов печатных плат, выявляемых при контроле внешнего вида, причины их возникновения, а также ключевые этапы контроля качества печатных плат, проводимого в АО «ТЕСТПРИБОР».
Электроника НТБ #6/2021
А. Алыков, Т. Корбанкова, А. Кулибаба, А. Сашов, М. Суконкин
РЕНТГЕНОВСКИЙ КОНТРОЛЬ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ
DOI: 10.22184/1992-4178.2021.207.6.62.65 Рентгеновский контроль внутренней структуры электронных компонентов является перспективным методом диагностического неразрушающего контроля для выявления потенциально ненадежных или обладающих признаками контрафакта изделий. Эффективность метода рассмотрена на примере испытаний танталовых чип-конденсаторов.
Электроника НТБ #6/2018
И. Тазитдинов
Эффективный метод поиска дефектов монтажа электронных компонентов в корпусах типа BGA
В статье приведены рекомендации по применению двухмерной рентгеновской инспекции с изменяемым углом съемки при контроле качества выводов BGA-компонентов и их паяных соединений. Рассмотрены преимущества этой технологии перед рентгеновской 2D-инспекцией с фиксированным углом съемки и рентгеновской компьютерной томографией. DOI: 10.22184/1992-4178.2018.177.6.148.152 УДК 658.562.3::621.386 | ВАК 05.11.14
Печатный монтаж #5/2012
А.Гаранин
Критерии выбора установки рентгеновского контроля: необходимо и достаточно
При инспекции собранных печатных плат с микросхемами в корпусах BGA, CSP, Flip chip рентгеноскопия становится незаменимым инструментом. Поэтому важно определять, какая установка нужна для конкретного производства и по каким критериям ее выбирать.