Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега - параметры приборов в закрытом состоянии

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "параметры приборов в закрытом состоянии"

Электроника НТБ #1/2014
Источники-измерители производства компании Keithley для испытания мощных полупроводниковых приборов

Для измерения характеристик мощных полупроводниковых приборов компания Keithley выпускает источники-измерители (Source Measure Units, SMU), объединяющие в одном корпусе источники и измерители тока и напряжения. В статье описаны методы испытаний мощных полупроводниковых приборов, существующие проблемы и пути их решения при помощи источников-измерителей.