sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по электронике
Горлов М., Емельянов В., Строгонов А.
Дементьев А. Н., Жуков А.О., Ильков В.К., Скрынский В.Р. Под ред. П.П. Мальцева
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "просвечивающий электронный микроскоп"
Аналитика #3/2018
Разработка универсального электронного микроскопа JEM-F200 (F2)
Аналитические системы высокого разрешения, такие как просвечивающие электронные микроскопы (TEM) и сканирующие просвечивающие электронные микроскопы (STEM) востребованы многими исследователями. Современные микроскопы должны обеспечивать повышенное разрешение, а также улучшенные эффективность и простоту использования. Компания JEOL разработала универсальный электронный микроскоп нового поколения JEM-F200 (F2) с разрешением до 0,1 нм в режиме TEM и до 0,14 нм в режиме STEM. Разработан новый, ориентированный на интуитивное управление пользовательский интерфейс. JEM-F200 (F2) комплектуется программными модулями для управления работой микроскопа и для анализа изображений. Использование системы конденсоров с четырьмя линзами позволяет получать высококачественные изображения методами светлого и темного полей. Микроскоп оснащен автоматической системой установки/извлечения держателя образца SPECPORTER, а также позволяет использовать держатели для приборов предыдущих серий. Помимо электронной пушки с катодом Шотки, JEM-F200 (F2) может комплектоваться усовершенствованным источником с холодным катодом. Новый прибор является универсальным инструментом для решения широкого спектра исследовательских задач, включая анализ материалов, макромолекулярный анализ и криоэлектронную микроскопию. УДК 53.086; ВАК 05.11.01 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.40.3.274.282
Электроника НТБ #9/2014
Д.Громов, А.Козлитин, А.Савицкий, А.Трифонов
КИНЕТИКА ФОРМИРОВАНИЯ КЛАСТЕРОВ СЕРЕБРА НА АМОРФНОМ УГЛЕРОДЕ ПРИ ВАКУУМНО-ТЕРМИЧЕСКОМ ИСПАРЕНИИ
Исследована эволюция тонких пленок серебра различной толщины, осажденных на аморфные пленки углерода, в процессе нагрева в вакууме для развития представлений о процессе образования массивов нанокластеров в результате распада пленок на капли. Изучены факторы, определяющие диаметры кластеров, образующихся в процессе распада тонкой пленки. Для пленок толщиной 1–8 нм характерно унимодальное распределение числа кластеров по размерам. Пленки данной толщины не являются сплошными, а представляют собой массив агломератов, которые в процессе отжига при 230˚C распадаются на отдельные кластеры. При распаде пленок серебра толщиной более 10 нм наблюдается две группы наиболее предпочтительных диаметров кластеров. Бимодальный характер распределения обусловлен неполным распадом пленки серебра на капли. Отжиг нанокластеров серебра в атмосфере сероводорода в течение 12 ч приводит к образованию сульфида серебра Ag2S с моноклинной кристаллической решеткой.
Наноиндустрия #1/2014
М.Фадеев
Решения для высококачественного анализа микро- и наноструктур
Необходимым условием для качественного анализа микро- и наноструктур является правильная подготовка образцов. Проблема актуальна во многих высокотехнологичных областях: в полупроводниковом производстве, при изготовлении МЭМС и в научных исследованиях.
Разработка: студия Green Art