Тег "atomic force microscopy"
Наноиндустрия #2/2017 М.Зубашева, А.Сагитова, Ю.Смирнов, Т.Смирнова, Р.Азизбекян, В.Жуховицкий, И.Яминский Ультраструктурный анализ Brevibacillus laterosporus методами электронной и атомно-силовой микроскопии
Представлены экспериментальные данные электронной и атомно-силовой микроскопии спор Brevibacillus laterosporus. Определены размер и строение спор и входящих в их состав каноэвидных включений. Штаммы Brevibacillus laterosporus, обладающие инсектицидными свойствами, могут применяться для борьбы с переносчиками заболеваний, передаваемых через укусы насекомых. УДК 578.2, ВАК 05.11.13, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.72.2.74.78
Наноиндустрия #2/2017 В.Быков, В.Поляков Новые решения для материаловедения, комплексного исследования и контроля материалов и структур с высоким пространственным разрешением
Рассмотрены основные этапы развития систем сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии нанометрового пространственного разрешения российского производства. Приводятся новые конструкции приборов группы компаний NT-MDT Spectrum Instruments, новые разработки микромеханических систем для СЗМ. Проанализированы тенденции их развития с учетом особенностей России во взаимосвязи с мировым рынком научного приборостроения.
Наноиндустрия #3/2016 С.Сидорова, Л.Колесник Моделирование процесса формирования островковых тонких пленок
Представлены теоретические основы и результаты моделирования процесса формирования островковых тонких пленок в вакууме. Рассмотрены возможные группы методов получения островковых тонких пленок. Показаны зависимости латеральных размеров островковых тонких пленок в вакууме от технологических параметров нанесения DOI:10.22184/1993-8578.2016.65.3.64.70
Наноиндустрия #2/2016 У.Шмидт, К.Хольрихер Комбинирование атомно-силовой и сканирующей ближнепольной оптической микроскопии с конфокальной рамановской спектроскопией
Комбинирование атомно-силовой и сканирующей ближнепольной оптической микроскопии с конфокальной рамановской спектроскопией обеспечивает возможность проведения неразрушающего контроля физико-химических свойств гетерогенных материалов с высоким разрешением. DOI:10.22184/1993-8578.2016.64.2.32.34
Наноиндустрия #2/2015 Е.Макарова, Д.Багров, П.Горелкин, А.Ерофеев, И.Яминский Наблюдения эритроцитов с помощью атомно-силовой и сканирующей ион-проводящей микроскопии
В обзоре обсуждаются современные методики изучения поверхности эритроцитов методом АСМ. Приводятся результаты визуализации клеток с использованием сканирующего зондового микроскопа. Рассказывается об инновационном методе сканирующей ион-проводящей микроскопии с использованием стеклянных нанопипеток и приводятся результаты визуализации клеток. DOI:10.22184/1993-8578.2015.56.2.42.48
Наноиндустрия #3/2014 Ш.Ву Сканирующая микроволновая микроскопия: уникальный метод измерений в нанодиапазоне
Компания Agilent Technologies разработала новый измерительный метод – сканирующую микроволновую микроскопию (СММ), которая уже удостоена ряда престижных наград. СММ объединяет широкие возможности измерений электрических величин микроволновым векторным анализатором цепей (ВАЦ) с наноразмерным пространственным разрешением атомно-силового микроскопа (АСМ). Этот метод может эффективно применяться при проведении разнообразных исследовательских работ. Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, измерение
Наноиндустрия #8/2013 И.Яминский, П.Горелкин, А.Ерофеев,О.Синицына, Г.Мешков Бионаноскопия в биологии и медицине
Инструменты наноаналитики открывают новые возможности в наблюдении живой природы на уровне молекул. Сверхвысокое разрешение и возможности измерений на воздухе и в жидких средах обуславливают широкие перспективы применения зондовой микроскопии в медицине. В обзоре обсуждается современное контрольно-измерительное оборудование, рассматриваются подложки для работы с биообъектами, обобщаются данные по наблюдению нуклеиновых кислот, белков, бактерий, клеток и тканей животных.
Наноиндустрия #8/2012 А.Гневко, А.Мальцев, С.Пушко Характеристика профилей скрайбирования при СЗМ-исследовании поверхностей сталей и сплавов
Состояние конструкционных материалов может быть определено локальными методами, в частности, при использовании СЗМ, которые проводятся в заводских условиях на работающем оборудовании. Разработки компании НТИ дополнили стандартную методику скрайбирования поверхности ее СЗМ-исследованиями.
Наноиндустрия #7/2012 А.Большакова Интернет-практикум по сканирующей зондовой микроскопии
В статье описывается опыт создания и апробации практикума по зондовой микроскопии в МГУ имени М.В.Ломоносова. Авторами лабораторных работ являются ведущие специалисты в области зондовой микроскопии. Была создана весовая модель зондового микроскопа, позволяющая отработать настройку обратной связи без ущерба для реального прибора. В настоящий момент практикум по зондовой микроскопии доступен также в дистанционном формате.
Наноиндустрия #5/2012 Н.Полещук, А.Асташонок, Л.Рубаник, С.Капитулец, Г.Жавнерко, И.Парибок, П.Фарния, И.Яминский Нанотехнологические подходы для диагностики бактериально-вирусных инфекций
При персистентных инфекциях, когда количество продуцируемых в очаге воспаления патогенов ниже пороговой чувствительности стандартных методов диагностики, актуальна проблема обнаружения возбудителей. Для вирусных и бактериальных инфекций на одну сформированную, содержащую нуклеиновую кислоту (НК), частицу может продуцироваться до нескольких тысяч дефектных, не имеющих полноценного генома или вообще лишенных НК, частиц. В организме часто основные иммунопатологические процессы обуславливаются не НК, а белковыми компонентами, входящими в состав патогенов. Сложное строение вирусов и бактерий, когда одну НК экранирует до нескольких десятков тысяч белковых, полисахаридных и других соединений, указывает на возможность детектирования возбудителей по специфическим структурным элементам, формирующим капсид или поверхностную липопротеидную оболочку патогенов. Следует отметить, что фенотипические признаки микроорганизмов, обусловленные поверхностной укладкой антигенов часто связаны с их патогенностью. Это открывает новые возможности для изучения на молекулярном уровне бактериальных и вирусных агентов, особенно благодаря значительному прогрессу в развитии атомно-силовой микроскопии (АСМ).
eng
