Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "микроскопия"

Электроника НТБ #10/2018
А. Медведев
Лаборатория анализа качества электронной аппаратуры

Приведено описание современных методов поиска дефектов и отказов электронных устройств, дополняющих традиционные проверки, закрепленные в стандартах. Предложен состав оборудования лаборатории для проведения всестороннего анализа возможных причин выхода из строя и снижения эксплуатационной надежности печатных плат, узлов и электронных блоков. УДК 621.38:620.1.05 | ВАК 05.27.06 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.181.10.88.93

Электроника НТБ #4/2015
А.Ляпин
Визуализация тонких структур – современные технологии. Часть 1

О возможностях и особенностях различных широко используемых методов микроскопии для визуального контроля тонких электронных и механических структур, как в процессе производства, так и при отработке технологий, рассказывается в статье.

Наноиндустрия #3/2014
Ю.Могильников, В.Быков, С.Петров, А.Евсеенков
Каков срок службы высокотехнологичного лабораторного оборудования?

В течение какого срока устаревают различные типы измерительных приборов? С какой периодичностью должно обновляться оборудование, чтобы лаборатория соответствовала современным требованиям? В чем преимущества использования приборов последнего поколения? На эти вопросы отвечают руководители и специалисты компаний "Ниеншанц-Сайнтифик", "НТ-МДТ", "НТО" и "ЭлТех СПб".