Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "chip"

Электроника НТБ #6/2014
С.Доллингер
Тестирование микросхем – решение компании Avantest

Сегодня в различных приложениях находят применение облачные технологии. Их начинают использовать и в контрольно-измерительном оборудовании. Так, компания Advantest предложила автоматизированную тестовую систему (АТС) для проверки микросхем, в которую входят облачные компоненты. О том, что представляет собой такая система, рассказывается в статье.

← 1

2