Электроника НТБ #10/2015
П.Тихомиров, П.Пфеффли, Р.Боргес
Моделирование деградации и обратимых отказов полупроводниковых приборов с использованием TCAD Sentaurus
Рассмотрены три примера, демонстрирующие, как с помощью автоматизированной системы приборно-технологического проектирования Sentaurus TCAD от Synopsys можно исследовать широкий круг проблем, связанных с отказоустойчивостью полупроводниковых приборов в составе интегральных схем.