sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по электронике
Под редакцией чл.-корр. РАН Ю.А. Чаплыгина
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "aoi"
Электроника НТБ #1/2021
Б. Соломон
ВЫСОКОЧАСТОТНАЯ БЕСПРОВОДНАЯ ИНФРАСТРУКТУРА 5G ТРЕБУЕТ НОВОГО ПОДХОДА В ПРОИЗВОДСТВЕ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ
DOI: 10.22184/1992-4178.2021.202.1.82.84 В выходящем сегодня на рынок новом поколении АОИ реализуются технологии контроля, позволяющие в автоматическом режиме осуществлять контрольные операции, ранее производившиеся вручную, а также интегрировать в одной системе несколько функций, до сих пор выполнявшихся несколькими отдельными установками.
Электроника НТБ #6/2020
М. Перлман
2D Metrology – автоматические 2D‑измерения для точного контроля проводников с заданным волновым сопротивлением
DOI: 10.22184/1992-4178.2020.197.6.48.50 Обоснована потребность в стопроцентном контроле импеданса ВЧ‑линий на платах для цифровой электроники. Приведены факторы, влияющие на волновое сопротивление таких линий. Описан продукт компании Orbotech – ​встроенный в АОИ инструмент для быстрых и точных измерений размеров поперечного сечения проводника в процессе инспекции плат.
Печатный монтаж #3/2016
К.Бунатян
Управление технологическими процессами с использованием трехмерного оптического контроля
Метод интерферометрии с фазовым сдвигом повышает точность измерений и классификации дефектов при одновременном увеличении быстродействия контрольной установки. Системы трехмерного контроля качества нанесения паяльной пасты (3D SPI), основанные на этом методе, могут работать в составе сборочных линий SMT-монтажа, формируя в реальном времени данные для более точного управления процессом трафаретной печати.
Разработка: студия Green Art