Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178

Книги по электронике

Тег "электромиграция"

Электроника НТБ #3/2021
А. Строгонов, М. Белых, Д. Пермяков, В. Полковников
МЕТОДЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ БИС С УЧЕТОМ НАДЕЖНОСТИ

DOI: 10.22184/1992-4178.2021.204.3.46.56 В статье рассмотрены основные механизмы деградации МОП-транзисторов субмикронных БИС, способы построения моделей МОП-транзисторов с учетом эффектов старения, требования к маршруту проектирования высоконадежных КМОП БИС и инструменты проектирования с учетом надежности, реализованные в наиболее широко применяемых САПР.

Печатный монтаж #6/2016
К.Тихомиров, С.Алексеев
Прогнозирование надежности паяных соединений: факторы, приводящие к повреждениям

Обеспечение надежности РЭА должно начинаться на этапе разработки путем применения методов надежностного проектирования, опирающихся на понимание физических явлений, приводящих к отказам. Одна из важных составляющих общей надежности РЭА – надежность паяных соединений (ПС). В статье рассмотрены физические процессы, создающие предпосылки для повреждения ПС, в том числе те из них, которые характерны для бессвинцовых ПС.